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31. 发明公开

KR1020160006119A 검사용 데이터 작성 장치, 검사용 데이터 작성 방법, 기록 매체에 기록된 프로그램 및 그 프로그램을 기록한 기록 매체 审中-实审
标题翻译：用于检查的数据创建设备，用于检查记录媒体中记录的程序的数据创建方法和记录的程序的记录媒体
公开(公告)号：KR1020160006119A
公开(公告)日：2016-01-18
申请号：KR1020150096156
申请日：2015-07-06
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 다케우치고로
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/067
摘要： 양단에검사포인트가없는전자부품의검사용데이터에대한자동적인작성율을높인다. 검사대상부품을선택하는부품선택처리(81), 검사대상부품을포함하는회로망의정상회로네트리스트를작성하는처리(82), 이회로망의검사대상부품을임의의 1개의고장상태로고장나게했을때의고장회로네트리스트를작성하는처리(83), 정상인이 회로망을 1종류이상의검사기능으로검사했을때의정상시검사결과를검사기능마다시뮬레이션하여구하는처리(84), 고장나있는이 회로망을 1종류이상의검사기능으로검사했을때의고장시검사결과를검사기능마다시뮬레이션하여구하는처리(85), 및검사기능마다의정상시검사결과와고장시검사결과를비교하여상이할때, 이상이한검사기능으로이 회로망을검사한다는검사내용을개별검사용데이터로하는처리(86)를, 모든검사대상부품에대하여실행한다.
摘要翻译：本发明可以提高电子部件的检查数据的自动写入速度，而不需要两端的检查点。本发明对所有检查对象部件执行以下处理：选择检查对象成分的部件选择处理（81）写入包括检查对象成分的电路网络的正常电路网表的处理（82）当生成电路网络的检查对象部件中的预期误差时，写入故障电路网列表的处理（83）（84）模拟通过对每个检查功能使用至少一个检查功能检查正常电路网络时产生的正常检查结果的处理; 通过使用至少一个检查功能来检查故障电路网络时模拟故障检查结果的处理（85）; 以及当每个检查功能的故障检查结果和正常检查结果作为各个检查数据而不同时，使用检查电路网络检查内容的过程使用不同的检查功能。

32. 发明公开

KR1020150115728A 프로브 유닛, 기판 검사 장치 및 프로브 유닛 조립 방법 审中-实审
标题翻译：探测单元，基板检查装置和组装探头单元的方法
公开(公告)号：KR1020150115728A
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：KR1020157017764
申请日：2014-01-28
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 고바야시마사시
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07357
摘要： 제조비용을낮게억제하면서프로브의유효좌굴길이를용이하게변경한다. 복수의프로브(11a)와, 프로브(11a)를지지하는지지부와, 지지부에배치되는전극판을구비하고, 지지부는, 지지구멍(51, 52)에삽입통과시킨프로브(11a)의선단부를지지하는지지판(41, 42)과, 지지구멍(53, 54)에삽입통과시킨프로브(11a)의기단부측을지지하는지지판(43, 44)을구비하여구성되며, 각지지판(41~44)에대해수직인수직방향을따라지지구멍(51~54)의각 개구면이늘어서도록각 지지판(41~44)이쌓인제1 자세와지지판(43, 44)이접촉상태로지지판(42)과지지판(43)이이격하는제2 자세사이에서이행가능하고, 제2 자세에있어서, 지지판(42)의내면과지지판(44)의외면사이의거리(D1)를일정하게유지하면서지지판(42)과지지판(43) 사이의거리(D2)를변경가능하게구성되어있다.

33. 外观设计

KR3007435140000S 有权
公开(公告)号：KR3007435140000S
公开(公告)日：2014-05-19
申请号：KR3020120041977
申请日：2012-08-31
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
设计人： 요시이케 데츠야 , 오누마 세이지

34. 发明公开

KR1020140009027A 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 审中-实审
标题翻译：检查板的装置和方法
公开(公告)号：KR1020140009027A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：KR1020130077629
申请日：2013-07-03
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 시오이리아키히로 , 무라야마린타로
IPC分类号： G01R31/28 , G01R27/26
摘要： The present invention does not bring the higher increase of inspection costs and shortens an inspection time enough and accurately inspect a defect regardless of surface mount or built-in. When a substrate (20) in which a capacitive element (30) is mounted is inspected, each probe (11) for inspection is moved for the substrate (20) to be inspected and the probe (11) for inspection is probed on an inspection point (P1) defined on a conductor pattern (21a) in which an electrode (32a) for connection is connected at the capacitive element (30). The probe (11) for inspection is probed on an inspection point (P2) defined on a conductor pattern (21b) in which an electrode (32b) for connection is connected at the capacitive element (30). The present invention measures a dissipation factor between the inspection points (P1, P2) and determines a defect between conductor patterns (21a, 21b) when the dissipation factor which exceeds a predetermined value is measured.
摘要翻译：本发明不会带来更高的检查费用的增加，并且缩短检查时间足够准确地检查缺陷，而不管表面安装或内置。当检查安装有电容元件（30）的基板（20）时，移动用于检查的基板（20）的检查用探针（11），对检查用探针（11）进行检查（P1），其中在电容元件（30）处连接有用于连接的电极（32a）的导体图案（21a）。用于检查的探针（11）在限定在导体图案（21b）上的检查点（P2）上探测，其中用于连接的电极（32b）连接在电容元件（30）处。本发明在测量超过预定值的耗散因子时，测量检查点（P1，P2）之间的损耗因数，并确定导体图案（21a，21b）之间的缺陷。

35. 发明授权

KR101142744B1 회로 기판 검사 방법 및 회로 기판 검사 장치 有权
标题翻译：测试电路板和电路板测试装置的方法
公开(公告)号：KR101142744B1
公开(公告)日：2012-05-04
申请号：KR1020100071835
申请日：2010-07-26
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 반가즈히로
IPC分类号： G01R31/306 , G01R31/02
摘要： (과제)기생 다이오드의 유무에 관계없이, 회로 기판에 실장된 집적 회로의 이 회로 기판의 배선 패턴으로의 접속 상태를 검사한다.
(해결 수단)집적 회로(12)에 있어서의 전원 단자(13h) 및 그라운드 단자(13d)에 각각 접속되는 배선 패턴(14h, 14d) 사이에 전원 전압(Vcc)을 공급하는 전원 프로브(2) 및 그라운드 프로브(3)와, 집적 회로(12)의 소정의 단자(13a~13c, 13e~13g)로 구성되는 단자조에 각각 접속되는 배선 패턴(14a~14c, 14e~14g)에 접촉되는 검사용 프로브(4a~4f)와, 전압값이 미리 규정된 규정 전압(Va~Vf)을 검사용 프로브(4a~4f)에 공급하는 전압 공급부(6)와, 양 프로브(2, 3)를 개재하여 집적 회로(12)에 공급되는 소비 전류(Icc)를 측정하는 전류계(7)와, 측정된 소비 전류(Icc)와 기준 소비 전류(Ir)를 비교하여 집적 회로(12)에 대한 접속 상태를 검사하는 처리부(8)를 구비하고 있다.

36. 发明授权

KR101126453B1 검사 장치 및 검사 방법 有权
标题翻译：检查装置和检查方法
公开(公告)号：KR101126453B1
公开(公告)日：2012-03-29
申请号：KR1020100109797
申请日：2010-11-05
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 시오자키가즈히코 , 곤도도시유키
IPC分类号： G01R1/06
摘要： (과제)프로빙 처리에 있어서 프로브를 이동시키는 이동 거리를 보정하기 위한 보정치를 고정밀도로 산출한다.
(해결 수단)프로빙 기구와, 제어부와, 이론상의 프로빙 위치(Pt1)와 실제의 프로빙 위치(M1) 사이의 이간 거리(Ldx1, Ldy1)에 기초하여 프로빙 처리에 있어서 지정하는 프로브의 이동량을 보정하기 위한 보정치를 산출하는 연산부를 구비하고, 제어부는, X1의 방향을 따른 이동 거리(Ltx1) 및 Y1의 방향을 따른 이동 거리(Lty1)를 지정하여 프로빙 기구에 대해서 제1 프로빙 처리를 실행시킴과 더불어, X2의 방향을 따른 이동량 및 Y2의 방향을 따른 이동량을 지정하여 프로빙 기구에 대해서 제2 프로빙 처리를 실행시키고, 연산부는, 제1 프로빙 처리 및 제2 프로빙 처리에 있어서의 이간 거리의 평균치를 보정치로서 산출한다.

37. 发明公开

KR1020110011567A 회로 기판 검사 방법 및 회로 기판 검사 장치 有权
标题翻译：测试电路板和电路板测试装置的方法
公开(公告)号：KR1020110011567A
公开(公告)日：2011-02-08
申请号：KR1020100071835
申请日：2010-07-26
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 반가즈히로
IPC分类号： G01R31/306 , G01R31/02
摘要： PURPOSE: A method of inspecting a circuit substrate and a apparatus thereof are provided to inspect the connecting state of the integrated circuit mounted in a circuit board regardless of a parasitic diode. CONSTITUTION: A power probe(2) and a ground probe(3) supply power voltage between wiring patterns(14h,14d) which are connected to a power terminal and a ground terminal respectively. An inspection probe(4a-4f) is connected to wire patterns(14a-14c) which are connected to the terminal group the integrated circuit(12). A power supply unit(6) supplies a reference voltage to an inspection probe. A processing unit compares a measured current consumption supplied to the integrated circuit with reference current consumption to inspect the connecting state of the integrated circuit.
摘要翻译：目的：提供检查电路基板的方法及其装置，以检查安装在电路板中的集成电路的连接状态，而不管寄生二极管如何。构成：电源探头（2）和接地探针（3）分别在连接到电源端子和接地端子的接线图案（14h，14d）之间提供电源电压。检查探针（4a-4f）连接到与集成电路（12）的端子组连接的导线图案（14a-14c）。电源单元（6）向检查探针提供参考电压。处理单元将提供给集成电路的测量电流消耗与参考电流消耗进行比较，以检查集成电路的连接状态。

38. 外观设计

KR3003871650000S 有权
公开(公告)号：KR3003871650000S
公开(公告)日：2005-07-20
申请号：KR3020040039961
申请日：2004-12-24
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
设计人： 시오노이리겐이치 , 다나카고이치

39. 外观设计

KR3003781990000S 有权
公开(公告)号：KR3003781990000S
公开(公告)日：2005-04-12
申请号：KR3020040030565
申请日：2004-10-06
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
设计人： 우스이다카유키 , 다나카고이치

40. 外观设计

KR3003481480000S 有权
公开(公告)号：KR3003481480000S
公开(公告)日：2004-03-31
申请号：KR3020020032057
申请日：2002-11-11
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
设计人： 오누마세이지 , 토미야마히데키

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