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热词
    • 31. 发明公开
    • 트랜지스터
    • 晶体管
    • KR1020090096155A
    • 2009-09-10
    • KR1020080021567
    • 2008-03-07
    • 삼성전자주식회사
    • 김선일박영수송이헌김창정박재철김상욱
    • H01L29/786H01L21/336H01L29/78G02F1/136
    • H01L29/7869H01L29/78696
    • A transistor is provided to control threshold voltage of a channel layer by adjusting the threshold voltage of the channel layer with an insertion layer without the carrier concentration of the channel layer. In a transistor, a source and a drain are contacted with both ends of a channel layer(C1). A gate electrode(G1) is separated from the channel layer, and a gate isolation layer(GI1) is equipped between the channel layer and the gate electrode. The channel layer and insertion layer having different work functions are equipped between the channel layer and gate isolation layer. A channel layer is a oxide semiconductor layer, and an energy band gap of the insertion layer is greater than that of the channel layer.
    • 提供晶体管以通过利用插入层调整沟道层的阈值电压而不使沟道层的载流子浓度来控制沟道层的阈值电压。 在晶体管中,源极和漏极与沟道层(C1)的两端接触。 栅极电极(G1)与沟道层分离,栅极隔离层(GI1)配置在沟道层和栅电极之间。 具有不同功函数的沟道层和插入层配置在沟道层和栅极隔离层之间。 沟道层是氧化物半导体层,插入层的能带隙大于沟道层的能带隙。
    • 33. 发明公开
    • 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
    • 薄膜晶体管及其形成方法
    • KR1020080074515A
    • 2008-08-13
    • KR1020070013747
    • 2007-02-09
    • 삼성전자주식회사
    • 김선일박영수박재철
    • H01L29/786
    • H01L29/7869H01L29/78696
    • A thin film transistor is provided to prevent the characteristic of a channel layer from being deteriorated by plasma by including a channel layer of a dual layer in which the upper layer of the channel layer is lower in carrier density than the lower layer of the channel layer. A gate electrode(140) and a channel layer(110) are formed at both sides of a gate insulation layer. A source electrode(120a) and a drain electrode(120b) respectively come in contact with both ends of the channel layer. The channel layer has a structure of a dual layer in which the upper layer(20) of the channel layer has a lower carrier density than the lower layer(10) of the channel layer. The channel layer can be made of a ZnO-based material. Carrier acceptor can be doped into the upper layer of the channel layer so that the upper layer has higher electric resistance than the lower layer of the channel layer.
    • 提供一种薄膜晶体管,以通过包括沟道层的上层在载流子密度中比通道层的下层更低的双层的沟道层来防止沟道层的特性劣化 。 在栅极绝缘层的两侧形成栅电极(140)和沟道层(110)。 源电极(120a)和漏电极(120b)分别与沟道层的两端接触。 沟道层具有双层结构,其中沟道层的上层(20)具有比沟道层的下层(10)更低的载流子密度。 沟道层可以由ZnO基材料制成。 载流子受体可以掺杂到沟道层的上层中,使得上层具有比沟道层的下层更高的电阻。
    • 34. 发明公开
    • 보안 알고리즘 회로 및 데이터 암호화 방법
    • 安全算法电路和数据加密方法
    • KR1020060093572A
    • 2006-08-25
    • KR1020050014652
    • 2005-02-22
    • 삼성전자주식회사
    • 남경완박재철
    • H04L9/06
    • G11C8/16G11C8/18G11C8/20
    • 본 발명에 따른 RC4 알고리즘을 하드웨어로 구현한 보안 알고리즘 회로 및 데이터 암호화 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 보안 알고리즘 회로는 S박스, 읽기 제어 로직, 레지스터, 그리고 쓰기 제어 로직을 포함한다. 상기 S박스는 제 1 및 제 2 포트를 가지며, 하나의 클록 신호에 응답하여 제 1 포트를 통해 데이터를 출력하고, 동시에 제 2 포트를 통해 데이터를 입력받는다. 상기 읽기 제어 로직은 상기 제 1 포트에 연결되며, 상기 S박스의 읽기 동작을 제어한다. 상기 레지스터는 상기 읽기 제어 로직에서 출력된 어드레스 및 상기 S박스에서 출력된 데이터를 저장한다. 상기 쓰기 제어 로직은 상기 레지스터에 저장된 어드레스 및 데이터를 입력받고, 상기 S박스의 쓰기 동작을 제어한다. 본 발명에 따른 보안 알고리즘 회로는 읽기 제어 로직과 쓰기 제어 로직을 따로 구비하고 있기 때문에 보안 알고리즘의 설계가 용이하며, 듀얼 포트 에스램을 사용하여 파이프 라인 방식으로 동작하기 때문에 종래에 비해 클록수를 줄일 수 있다.