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热词
    • 34. 发明公开
    • 에스엠디 전자부품용 테스트 보드
    • 贴片电子元件测试板
    • KR1020030059932A
    • 2003-07-12
    • KR1020020000344
    • 2002-01-03
    • 김기열최승원김영학
    • 김기열최승원김영학
    • G09B23/18
    • G01R1/07335G09B23/186
    • PURPOSE: A test board for an SMD electronic component is provided to reduce a wiring operation to a minimum by using a pad and controlling use of a via, and to reduce a production costs by simplifying a power supply wiring. CONSTITUTION: Upper, lower, and center power supply wirings(22,23,24) are arranged at an upper end, a lower end, and a center of a printed circuit board. Soldering pads(21) are arranged at the right of the upper power supply wiring(22) and the left of the center power supply wiring(24). A passive component or an electronic component for an SMD is loaded on the soldering pads(21). A longitudinal length of the test board for an SMD electronic component is 52.5-420 mm. A transverse length of the test board for an SMD electronic component is 148.5-297 mm. An interval between the soldering pads(21) is 0.1-2 mm.
    • 目的:提供一种用于SMD电子元件的测试板,通过使用焊盘并控制通孔的使用将布线操作降至最低,并通过简化电源布线来降低生产成本。 构成:上,下和中心电源布线(22,23,24)布置在印刷电路板的上端,下端和中心处。 焊盘(21)布置在上电源布线(22)的右侧和中心电源布线(24)的左侧。 用于SMD的无源部件或电子部件装载在焊盘(21)上。 SMD电子元件的测试板的纵向长度为52.5-420mm。 SMD电子元件的测试板的横向长度为148.5-297 mm。 焊盘(21)之间的间隔为0.1-2mm。
    • 40. 发明授权
    • 반도체 패키지용 몰딩 다이 및 그 제조방법
    • 用于半导体封装的成型模具及其制造方法
    • KR101545194B1
    • 2015-08-19
    • KR1020150042357
    • 2015-03-26
    • 김기열
    • 김기열
    • H01L23/28
    • H01L23/28H01L2924/181
    • 본 발명은 반도체 패키지용 몰딩 다이 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 몰딩 다이는 평활 상면 영역을 가지는 다이 본체와 그 상면 영역에 코팅된 크롬 옥사이드 코팅층으로 구성되거나, 또는 포켓을 가지는 다이 본체와 상기한 포켓에 장착되는 산화 지르코늄 플레이트로 구성되며, 본 발명에 따른 몰딩 다이는 세라믹 부분에의 크랙 발생 우려를 저감시킴과 아울러, 반도체 패키지의 탈형을 위한 취출시 반도체 패키지의 손상 우려가 낮으며, 우수한 내마모성, 내부식성 및 내구성을 보유하므로, 본 발명에 따른 몰딩 다이를 적용하면 반도체 패키지의 몰딩 단계에서의 불량률을 낮춤으로써 생산성 향상 및 경제성 제고를 이룰 수가 있다.
    • 本发明涉及一种半导体封装用成形模及其制造方法。 本发明的成型模具由具有平滑的上部区域的模具主体和涂覆在上部区域上的氧化铬被覆层或具有口袋的模具主体和安装在该区域上的氧化锆板 口袋。 根据本发明的模具可以减少对陶瓷部分的裂纹产生的担忧,并减少在半导体封装的排污中对半导体封装的损坏以便去除。 此外,如果由于成型模具具有优异的耐磨性,耐腐蚀性和耐久性而使用本发明的成型模具,则在半导体封装的成型步骤中可以降低缺陷率。