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21. 发明公开

KR1020100002357A 멀티 번인 테스트 방법 无效
标题翻译：管理多重测试的方法
公开(公告)号：KR1020100002357A
公开(公告)日：2010-01-07
申请号：KR1020080062214
申请日：2008-06-30
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 서재용 , 강태훈 , 강구관 , 박홍식 , 배성훈 , 이민경 , 이영윤
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2601 , G01R31/2817 , G01R31/2855 , H01L21/67271 , H01L22/30
摘要： PURPOSE: A multi burn-in test method is provided to maximize a production yield by balancing the stress applied to a specific defect of a node, thereby preventing the deterioration of a specific circuit. CONSTITUTION: A pre-test executes in order to detect for defects in a semiconductor chip(S100). A burn-in board is installed in a chamber(S200). A burn-in test executes after multi-stress is applied to the pre-tested semiconductor chip(S300). A post-test executes to detect for defects in the burn-in tested semiconductor chip(S400). The burn-in test checks the semiconductor chip and metal wiring. The burn-in board is extracted from a chamber(S500).
摘要翻译：目的：提供一种多重老化测试方法，通过平衡应用于节点的特定缺陷的应力来最大化产量，从而防止特定电路的劣化。构成：为了检测半导体芯片中的缺陷，执行预测试（S100）。老化板安装在室内（S200）。在将多重应力施加到预先测试的半导体芯片上之后执行老化测试（S300）。执行后验测试以检测老化测试半导体芯片中的缺陷（S400）。老化测试检查半导体芯片和金属布线。从室中取出老化板（S500）。

22. 发明公开

KR1020090009511A 폴더 공유 서비스 설정을 위한 호스트 장치, 디바이스 및폴더 공유 서비스 설정방법 有权
标题翻译：主机设备，设备和设置用户的方法
公开(公告)号：KR1020090009511A
公开(公告)日：2009-01-23
申请号：KR1020070072856
申请日：2007-07-20
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 배성훈
IPC分类号： G06F15/16 , G06F15/76
CPC分类号： H04L67/10 , G06F17/30165 , G06F21/6218 , H04L63/083 , H04L67/306
摘要： A host device for folder sharing service setup, a device, and a folder sharing service setup method are provided to set information necessary for a folder sharing service in the host device operated as a server, thereby easily and exactly setting information. A host device(500) comprises a display unit(520), a controller(560), a first communication unit(550), a verification unit(532) and a service control unit(533). The controller sets up a device using a folder sharing service, a UI(User Interface) screen for selecting a shared folder, and a permission of the selected shared folder corresponding to added one or more user account. And the controller controls the display unit so that the UI screen for setting up a storage option of a file to be stored in the shared folder can be displayed on the display unit. 'The first communication unit transmits setup information, set for the user account, to the device. The verification unit verifies whether the folder sharing service is possible by the storage option of file and the set permission. The service control unit controls the verification unit in order to verify the folder sharing service.
摘要翻译：提供用于文件夹共享服务设置的主机设备，设备和文件夹共享服务设置方法，以设置作为服务器操作的主机设备中的文件夹共享服务所需的信息，由此容易且准确地设置信息。主机设备（500）包括显示单元（520），控制器（560），第一通信单元（550），验证单元（532）和业务控制单元（533）。控制器使用文件夹共享服务，用于选择共享文件夹的UI（用户界面）屏幕以及与添加的一个或多个用户帐户对应的所选共享文件夹的许可来设置设备。并且控制器控制显示单元，使得可以在显示单元上显示用于设置要存储在共享文件夹中的文件的存储选项的UI屏幕。 “第一个通信单元将为用户帐户设置的设置信息发送到设备。验证单元通过文件的存储选项和设置的权限来验证文件夹共享服务是否可能。服务控制单元控制验证单元以验证文件夹共享服务。

23. 发明授权

KR100850274B1 반도체 칩 테스트를 위한 프로브 카드 및 이를 이용한반도체 칩 테스트 방법 失效
标题翻译：用于半导体芯片测试的探针卡及其半导体芯片测试方法
公开(公告)号：KR100850274B1
公开(公告)日：2008-08-04
申请号：KR1020070001010
申请日：2007-01-04
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 배성훈 , 김중현 , 안영수 , 최호정 , 김명섭
IPC分类号： H01L21/60
CPC分类号： G01R1/07385 , G01R1/07342
摘要： 본 발명은 반도체 칩 테스트를 위한 프로브 카드 및 이를 이용한 반도체 칩 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명에서는, 반도체 칩을 전기적으로 테스트하기 위한 프로브 카드를 구현함에 있어서, 웨이퍼에 형성되어 있는 반도체 칩들중에서 임의로 선택된 다수개의 반도체 칩들을 원스텝 공정으로 EDS 테스트할 수 있도록 상기 임의로 선택된 반도체 칩들에 대응되는 프로브 블록을 선택할 수 있도록 한다. 이처럼, 임의로 선택된 다수개의 반도체 칩들에 대한 EDS 테스트를 원스텝 공정으로 용이하게 실시할 수 있게 됨으로써, 장비 효율성을 증대시키고, 웨이퍼의 특성을 나타내는 데이터에 있어서도 통계적 객관성을 확보할 수 있게 된다.
반도체 칩, EDS, 프로브 카드, 프로브 블록, 프로브 니들

24. 发明公开

KR1020080064282A 반도체 칩 테스트를 위한 프로브 카드 및 이를 이용한반도체 칩 테스트 방법 失效
标题翻译：用于半导体芯片测试的探针卡和半导体芯片测试方法
公开(公告)号：KR1020080064282A
公开(公告)日：2008-07-09
申请号：KR1020070001010
申请日：2007-01-04
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 배성훈 , 김중현 , 안영수 , 최호정 , 김명섭
IPC分类号： H01L21/60
CPC分类号： G01R1/07385 , G01R1/07342
摘要： A probe card for a semiconductor chip test and a method for testing semiconductor chip using the same are provided to enhance efficiency thereof by selecting probe blocks based on selected semiconductor chips. A probe card for a semiconductor chip test includes a circuit substrate(302) and a fixing plate(304). The circuit substrate includes plural contact pads(306) received electrical signals for characteristic test on semiconductor chips. The fixing plate fixes the circuit substrate and includes a probe block(310), whose number and position are selected according to a probe block selection signal transmitted from a test head of a tester which is used for testing EDS(Electrical Die Sort) on the semiconductor chips.
摘要翻译：提供了一种用于半导体芯片测试的探针卡和使用其的半导体芯片的测试方法，以通过基于所选择的半导体芯片选择探针块来提高其效率。用于半导体芯片测试的探针卡包括电路基板（302）和固定板（304）。电路基板包括多个接触焊盘（306），用于接收用于半导体芯片上的特性测试的电信号。固定板固定电路基板，并且包括探针块（310），其探头块（310）根据从用于测试EDS（电气模具排列）的测试仪的测试头传输的探头块选择信号来选择其数量和位置半导体芯片。

25. 发明授权

KR100644701B1 메일서버 인증방법 및 장치 失效
标题翻译：邮件服务器认证方法和装置
公开(公告)号：KR100644701B1
公开(公告)日：2006-11-10
申请号：KR1020050054374
申请日：2005-06-23
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 배성훈
IPC分类号： H04L29/06 , H04L12/58 , G06Q50/32

26. 发明公开

KR1020060101070A 음성 메시지 통신이 가능한 실시간 인터넷 팩스 장치 및 그방법 无效
标题翻译：实时互联网传真机用于语音信息通信及其方法
公开(公告)号：KR1020060101070A
公开(公告)日：2006-09-22
申请号：KR1020050022930
申请日：2005-03-19
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 배성훈
IPC分类号： H04N1/32
CPC分类号： H04N1/32758 , H04L12/56 , H04L65/40
摘要： 음성 메시지 통신이 가능한 실시간 인터넷 팩스 장치 및 그 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 실시간 인터넷 팩스 장치는 음성 메시지를 패킷화된 디지털 신호로 인코딩하는 인코딩부, 팩스 데이터의 송수신 세션 또는 음성 데이터의 송수신 세션 중 어느 하나의 세션에서 음성 메시지의 통신 채널을 오픈하여 인코딩된 음성 메시지를 실시간 전송하는 음성 메시지부를 포함한다. 본 발명에 의하면, 수신자는 송신자를 음성으로 분간할 수 있고, 송신자의 팩스 송신 목적, 용도 등을 쉽게 파악할 수 있으며, 수신한 음성 메시지를 반복하여 청취할 수도 있다.

27. 发明授权

KR100607957B1 유무선 복합 통신 장치의 통신 방법 및 장치 有权
标题翻译：有线/无线复杂通信设备的通信方法和装置
公开(公告)号：KR100607957B1
公开(公告)日：2006-08-03
申请号：KR1020030090039
申请日：2003-12-11
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 배성훈 , 김진형
IPC分类号： H04L12/28
摘要： 유무선 복합 통신 장치의 통신방법 및 장치가 개시된다. 이 방법은 무선 통신 동작모드가 인프라 스트럭쳐 모드로 설정되어 있는가를 판단하는 단계, 무선 통신 동작모드가 인프라 스트럭쳐 모드로 설정되어 있다면, 유선 통신 모듈이 유선 통신망에 링크되어 있는가를 판단하는 단계, 유선 통신 모듈이 유선 통신망에 링크되어 있다면, 인프라 스트럭쳐 모드를 비활성화시키는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다. 따라서, 본 발명에 따르면, 무선 통신 동작모드가 인프라 스트럭쳐 모드인 경우에, 유선 통신망이 연결되어 데이터를 송수신할 수 있는 네트워크 상태에서는 무선 통신 모듈을 비활성화시킴으로써, 불필요한 데이터가 무선 통신망을 통해 송수신되는 것을 방지하고, 데이터 처리시간의 지연을 방지하며, 시스템 전력의 낭비 및 네트워크 환경의 리소스 낭비를 방지하도록 한다.

28. 发明公开

KR1020160070245A 반도체 장치 및 그 형성방법 审中-实审
标题翻译：半导体器件
公开(公告)号：KR1020160070245A
公开(公告)日：2016-06-20
申请号：KR1020140175816
申请日：2014-12-09
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 임준성 , 윤장근 , 배성훈 , 윤재선 , 장규백
IPC分类号： H01L27/115
CPC分类号： H01L27/11582 , H01L27/0688 , H01L27/11573 , H01L27/11575 , H01L27/11521
摘要： 메모리장치가개시된다. 반도체장치는회로영역및 상기회로영역의일측에배치된연결영역을포함하는반도체기판; 상기회로영역에배치된로직회로, 및상기로직회로를덮는하부절연막을포함하는로직구조체; 상기로직구조체상의메모리구조체; 및상기회로영역에서, 상기로직구조체와상기메모리구조체사이의스트레스완화구조체를포함한다.
摘要翻译：公开了一种存储器件。半导体器件包括：半导体衬底，包括电路区域和布置在电路区域的一侧上的连接区域; 包括布置在电路区域中的逻辑电路的逻辑结构和覆盖逻辑电路的下绝缘膜; 逻辑结构上的存储器结构; 以及逻辑结构和电路区域中的存储器结构之间的应力减小结构。因此，可以降低逻辑结构的特征的劣化。

29. 发明授权

KR101310237B1 서버를 이용하여 화상형성장치를 검색하는 방법과 이를 수행하는 호스트 장치 및 시스템 失效
标题翻译：使用服务器的图像形成装置搜索方法，用于执行该方法的主机装置和系统
公开(公告)号：KR101310237B1
公开(公告)日：2013-10-14
申请号：KR1020080102149
申请日：2008-10-17
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 배성훈
IPC分类号： G06F3/12 , G06F17/30 , G06F15/00
CPC分类号： H04L67/02 , G06F3/1203 , G06F3/1205 , G06F3/122 , G06F3/1226 , G06F3/1231 , G06F3/1288
摘要： 본 발명의 일 실시예에 따른 서버를 이용하여 화상형성장치를 검색하는 방법은 호스트 장치에 설치된 프린터 응용프로그램에서 화상형성장치의 검색 방법으로, 프린터 관리 프로그램 검색을 선택하면, 서버에 설치된 프린터 관리 프로그램을 호출하여, 관리프로그램으로부터 연결 가능한 화상형성장치가 포함된 검색 리스트를 수신한 후, 검색 리스트에서 선택한 화상형성장치를 호스트 장치와 연결한다.

30. 发明公开

KR1020120083170A 도금 용액 내의 포토레지스트 분해물 분석법을 이용한 도금 방법 无效
标题翻译：在镀液中使用光刻胶残留分析方法的镀层方法
公开(公告)号：KR1020120083170A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：KR1020110004678
申请日：2011-01-17
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 박정대 , 채승기 , 전필권 , 배성훈 , 이윤미 , 이다희 , 김민정
IPC分类号： C25D5/02 , C25D21/12 , H01L21/288 , H01L21/312
CPC分类号： C25D21/12
摘要： PURPOSE: A plating method using a photo-resist residue analysis method for a plating solution is provided to determine the use of plating solution by analyzing the content of photo-resist residue in a plating solution. CONSTITUTION: A plating method using a photo-resist residue analysis method for a plating solution is as follows. The plating solution(15) is provided to a plating bath(10). A first wafer(51) having lower metal wires and photo-resist pattern is dipped in the plating bath. The plating processes are composed of first and second steps. An analyzing step analyzing photo-resist residue is performed between the two steps.
摘要翻译：目的：提供一种使用电镀液的光致抗蚀剂残留分析方法的电镀方法，以通过分析电镀液中的光致抗蚀剂残留物的含量来确定电镀液的用途。构成：使用电镀液的光致抗蚀剂残留分析方法的电镀方法如下。电镀液（15）设置在镀浴（10）中。将具有下金属线和光致抗蚀剂图案的第一晶片（51）浸入镀浴中。电镀工艺由第一步和第二步组成。在两个步骤之间执行分析光刻胶残留物的分析步骤。

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