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91. 发明授权

KR100607874B1 고분해능 이미지의 배경 잡음 제거를 위한 대물 렌즈 조리개 및 이를 이용한 패턴형성장치 失效
标题翻译：用于消除高分辨率图像和图案形成装置的背景噪声的目标孔
公开(公告)号：KR100607874B1
公开(公告)日：2006-08-08
申请号：KR1020040050049
申请日：2004-06-30
申请人： 재단법인서울대학교산학협력재단
发明人： 김기범 , 김병성
IPC分类号： G02B21/02
摘要： 본 발명은 투과전자 현미경용 또는 전자 빔 리소그라피 장치중에서 원자이미지를 이용한 패턴형성 장치용 대물렌즈의 조리개에 관한 것으로, 특히 시편에 조사된 전자빔이 시편을 통과하여 나오는 투과빔(transmitted beam)과 회절빔(diffracted beam)의 간섭에 의해 상이 형성되는 고분해능 이미지형성에 있어서의 배경잡음을 제거할 수 있는 투과전자 현미경용 또는 전자 빔 리소그라피 장치중에서 원자이미지를 이용한 패턴형성 장치용 대물렌즈 조리개의 구조에 관한 것이다.
대물렌즈 조리개, 배경잡음, 고분해능 이미지, 투과전자현미경, 전자빔 리소그라피 장치, 원자 이미지

92. 发明公开

KR1020050112106A 고침렌즈 및 이를 이용한 시료 관찰 방법 有权
标题翻译：固体浸没镜片，以及使用它的样品观察方法
公开(公告)号：KR1020050112106A
公开(公告)日：2005-11-29
申请号：KR1020057017613
申请日：2004-03-19
申请人： 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤
发明人： 아라타,이쿠오 , 테라다,히로토시
IPC分类号： G02B21/02 , G02B3/00 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/02 , G02B3/00 , G02B21/33 , G01N21/1717 , G01N21/8806 , G01N21/9501 , G02B21/365
摘要： The image of a sample (2) is observed by using a solid immersion lens (SIL) (1) formed of a material having a refractive index nL so as to have a spherical lens plane (10) having a radius of curvature RL. During the sample observation, geometric aberration characteristics by the SIL (1) are evaluated using a specified optical system. With a coefficient k (0
摘要翻译：通过使用由具有折射率nL的材料形成的固体浸没透镜（SIL）（1）来观察样品（2）的图像，以具有具有曲率半径RL的球面透镜平面（10）。在样品观察期间，使用特定的光学系统评估SIL（1）的几何像差特性。利用系数k（0

93. 实用新型

KR200336045Y1 미세 절제 시스템용 광학 채널 失效
标题翻译：微型消融系统的光学通道
公开(公告)号：KR200336045Y1
公开(公告)日：2003-12-11
申请号：KR2020030029344
申请日：2003-09-16
申请人： 주식회사 바이오칸인터내셔날 , 이석형 , 박원상 , 유남진 , 정의창 , 이정용
发明人： 이정용 , 유남진 , 박원상 , 이석형
IPC分类号： G02B21/02
摘要： 개시된 미세 절제 시스템용 광학 채널(100)은 현미경 장치의 제1 광축(12)을 형성하는 제1 광학 채널(10); 레이저 장치(22)로부터 발생된 레이저 빔의 제2 광축(24)을 형성하는 제2 광학 채널(20); 제1 광축을 통과시키고 제2 광축을 현미경 장치의 대물 렌즈(18) 측으로 굴절시킬 수 있도록 배열된 색선별 거울(50); 및 색선별 거울과 현미경 장치의 관찰 유니트(30) 사이에 배치된 보정 유니트(60)를 구비한다.

94. 发明公开

KR1020010082645A 조명을 위해 전자 빔을 갖추고 있는 현미경 无效
标题翻译：电子束用于照明的显微镜
公开(公告)号：KR1020010082645A
公开(公告)日：2001-08-30
申请号：KR1020010007448
申请日：2001-02-15
申请人： 라이카 마이크로시스템즈 세미컨덕터 게엠베하
发明人： 프리츠죄르겐호온
IPC分类号： G02B21/02
CPC分类号： H01J37/28
摘要： PURPOSE: A microscope with electron beam for illumination is provided to switch various magnifications or illuminating methods rapidly and simply when an electron microscope and an optical microscope are jointly used. CONSTITUTION: A general structure of the microscope(2) is substantially similar to that of conventional microscopes. The microscope(2) includes a support(4) with a stay(6) thereon. A support arm(8) is attached to or formed on the stay(6). Objective lenses(18) are placed on a revolver(20) and includes one or more objective lenses for the electron beam.
摘要翻译：目的：提供用于照明的电子束的显微镜，用于在电子显微镜和光学显微镜共同使用时快速简单地切换各种放大率或照明方法。构成：显微镜（2）的一般结构与常规显微镜基本相似。显微镜（2）包括其上具有支柱（6）的支撑件（4）。支撑臂（8）附接到或形成在撑杆（6）上。物镜（18）被放置在左轮手枪（20）上并且包括用于电子束的一个或多个物镜。

95. 发明公开

KR1020010073266A 현미경의 대물렌즈 보호카바 无效
标题翻译： MICROSCOPE中的目标镜头保护罩
公开(公告)号：KR1020010073266A
公开(公告)日：2001-08-01
申请号：KR1020000001501
申请日：2000-01-13
申请人： 임상훈
发明人： 임상훈
IPC分类号： G02B21/02
摘要： PURPOSE: A protection cover for an objective lens in a microscope is provided to prevent light irradiated from inside of the microscope and reflected on the protection from entering into an eye lens. CONSTITUTION: The frame is inserted into the objective lens frame of the microscope for operation. The cover(12) is installed on lower part of the frame. The protection cover for the objective lens is mounted on the cover(12). The transparent cover(15) is installed on the inside of the cover rotatively to adjust the installation angle. The knob(17) rotates the transparent cover. Therefore the protection cover prevents entrance of light which is irradiated from inside of the microscope and reflected on the protection cover to eye lens.
摘要翻译：目的：提供用于显微镜中物镜的保护盖，以防止从显微镜内部照射的光并防止其反射进入眼睛镜片。构成：将框架插入显微镜的物镜框中进行操作。盖（12）安装在框架的下部。用于物镜的保护盖安装在盖（12）上。透明盖（15）可旋转地安装在盖的内侧，以调整安装角度。旋钮（17）旋转透明盖。因此，保护盖防止从显微镜内部照射并在保护盖上反射到眼睛透镜的光的入射。

96. 发明授权

KR102458592B1 자동 현미경 초점을 위한 시스템, 장치 및 방법 有权
公开(公告)号：KR102458592B1
公开(公告)日：2022-10-24
申请号：KR1020207028432
申请日：2019-03-13
IPC分类号： G02B7/28 , G02B21/06 , G02B21/02 , G02B21/24 , G06T7/80 , G02B21/26 , G02B21/36

97. 发明授权

KR102447719B1 미시 텍스처를 이용하여 물리 객체를 인증하기 위한 시스템, 방법 및 컴퓨터 액세스 가능 매체 有权
公开(公告)号：KR102447719B1
公开(公告)日：2022-09-28
申请号：KR1020167003837
申请日：2014-07-21
IPC分类号： G06F3/06 , G02B21/36 , G02B9/62 , G06V10/10 , G06K9/62 , G02B13/18 , G02B13/24 , G02B21/02 , G02B7/02

98. 发明授权

KR102419163B1 실시간 오토포커스 포커싱 알고리즘 有权
公开(公告)号：KR102419163B1
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：KR1020207008619
申请日：2018-09-28
IPC分类号： G02B7/38 , G02B7/09 , G02B21/24 , G02B21/02 , G02B21/26 , G02B21/36 , H04N5/232
摘要： 이미징센서와포커싱센서및 이미징센서와포커싱센서에의해캡처된이미지데이터를분석하고그리고스캐닝작동동안실시간으로스캐닝장치의포커스를조정하기위한프로세서를포함하는디지털스캐닝장치가제공된다. 이미징센서의개별적인픽셀은전부디지털스캐닝장치의광학경로에대하여동일한이미지평면내에있다. 포커싱센서의개별적인픽셀은각각광학경로에대하여상이한이미지평면에있고, 그리고포커싱센서의하나의픽셀은이미지센서와동일한이미지평면에있다. 프로세서가이미징센서와포커싱센서로부터이미지데이터를분석하고그리고거리및 방향을결정하여디지털스캐닝장치의스테이지와대물렌즈의상대적위치를조정해서스캐닝작동동안최상의포커스를달성한다.

99. 发明授权

KR102400980B1 고침 렌즈 유닛 및 반도체 검사 장치 有权
公开(公告)号：KR102400980B1
公开(公告)日：2022-05-24
申请号：KR1020197019178
申请日：2017-11-21
IPC分类号： G02B21/02 , G02B7/02
摘要： 고침렌즈유닛은, 검사대상물에맞닿아지는맞닿음면, 및대물렌즈에대향시켜지는구면을가지는고침렌즈와, 고침렌즈를유지하는홀더와, 홀더에마련된자석과, 구면에대향하는위치에서자석의자력에의해서회전가능하게유지된구체를구비한다. 홀더는, 구면이구체에접촉한상태에서고침렌즈를요동가능하게유지하고있다.

100. 发明公开

KR1020220008044A 자동 광 초점 조절장치 및 이를 포함하는 광학장치 有权
公开(公告)号：KR1020220008044A
公开(公告)日：2022-01-20
申请号：KR1020200086118
申请日：2020-07-13
IPC分类号： G02B21/00 , G02B7/28 , G02B21/02 , G02B21/26 , G02B27/40
摘要： 본발명은초점위치로부터서로반대방향으로동일거리이격된 2개의초점조절용수광부가대물렌즈의배율에따라가변되는자동광 초점조절장치및 이를포함하는광학장치에관한것으로, 본발명의자동광 초점조절장치는대물렌즈의배율이증감하여초점맞춤범위가감소또는증가해도초점위치로부터위치조절수광부의제1 수광부와제2 수광부까지의거리를용이하게조절할수 있어서, 구조를단순하게하면서도광학장치의정밀도와분해능을높일수 있다.

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