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热词
    • 2. 发明授权
    • 플라즈마 처리 방법
    • 等离子处理方法
    • KR101794738B1
    • 2017-11-07
    • KR1020157020877
    • 2014-11-19
    • 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈
    • 이시마루마사토시마다다케시스야마마코토아베다카히로
    • H01L21/3065H01L21/3213H01L21/311G11B5/31H01L21/02
    • C23F1/02C23F1/12C23F4/00H01L43/12
    • 본발명은, 피에칭막의치수를패터닝된치수보다축소시키는플라즈마처리방법에있어서, 치수의축소화에수반되는피에칭막의변형이나도괴를일으키지않고치수를축소시킬수 있는플라즈마처리방법을제공한다. 본발명은, 레지스트와상기레지스트의하방에배치된반사방지막과상기반사방지막의하방에배치된마스크용막을이용하여플라즈마에칭에의해탄탈막을트리밍하는플라즈마처리방법에있어서, 상기레지스트를마스크로하여플라즈마에칭에의해상기반사방지막과상기마스크용막을트리밍하고, 상기트리밍된반사방지막과상기트리밍된마스크용막을플라즈마에의해제거하며, 상기트리밍된레지스트와상기트리밍된반사방지막을플라즈마에의해제거한후의마스크용막을마스크로하여플라즈마에칭에의해상기탄탈막을트리밍하는것을특징으로한다.
    • 本发明中,在还原比图案化膜蚀刻尺寸维度的血液等离子体处理方法,提供了在sikilsu减小的尺寸等离子处理,而不会引起变形或折叠伴随尺寸的减小的蚀刻的膜的方法。 在本发明中,抗蚀剂,并使用该抗蚀剂为布置在抗反射涂层膜的底部的掩模和反射下方配置有修剪钽膜的膜通过等离子蚀刻,等离子通过在等离子体处理方法的抗蚀剂作为掩模。 由防反射膜和掩模等离子体修整和,去除之后通过蚀刻对掩模和所述修剪的防反射膜和用于它所述修剪掩模的薄膜通过等离子体去除,并防止所述装饰和所述修剪抗蚀剂反射膜为膜 该膜通过等离子体蚀刻的掩模,其特征在于修剪钽膜。
    • 8. 发明公开
    • 자기 소자 및 그 제조 방법
    • 磁性装置及其制造方法
    • KR1020130063871A
    • 2013-06-17
    • KR1020110130474
    • 2011-12-07
    • 삼성전자주식회사
    • 이우철켄토카시키권형준정명훈
    • H01L43/12H01L43/08C23F1/02C23F1/12G11B5/31H01L43/10
    • C23F1/12C23F1/02C23F4/00G11B5/3163H01L27/228H01L43/08H01L43/12H01L43/10
    • PURPOSE: A magnetic device and a method for manufacturing the same are provided to secure a high integration magnetic device by using a magnetoresistive element with high aspect ratio for a fine MTJ cell. CONSTITUTION: A mask pattern is formed in a lamination structure including a lower magnetic layer, a tunneling barrier layer, and an upper magnetic layer(112). A hydrogen plasma process is performed on the upper surface of the laminating structure(114). A first part including the upper magnetic layer and the tunneling barrier layer is etched by using a first etching gas including H2 gas and a first additive gas(116). The ratio of the H2 gas to the first additive gas is more than 8 : less than 2. A second part including the lower magnetic layer is etched by using a second etching gas including the H2 gas and a second additive gas(118). The ratio of the H2 gas to the second additive gas is more than 8 : less than 2. [Reference numerals] (112) Form a mask pattern in a lamination structure including a lower magnetic layer, a tunneling barrier layer, and an upper magnetic layer; (114) Expose an exposed upper surface of the lamination structure to hydrogen plasma; (116) Etch a first part including the upper part magnetic layer and the tunneling barrier layer by using first etching gas including H2 gas of at least 80 weight% and residual first additive gas; (118) Etch a second part including the lower magnetic layer by using second etching gas including H2 gas of at least 80 weight% and residual second additive gas; (AA) Start; (BB) End
    • 目的:提供一种磁性器件及其制造方法,用于通过使用高精度MTJ电池的高纵横比的磁阻元件来确保高集成磁性器件。 构成:掩模图案形成在包括下磁性层,隧道势垒层和上磁性层(112)的叠层结构中。 在层压结构(114)的上表面上进行氢等离子体处理。 通过使用包括H 2气体和第一添加剂气体(116)的第一蚀刻气体来蚀刻包括上磁性层和隧道势垒层的第一部分。 H2气体与第一添加剂气体的比例大于2:通过使用包括H 2气体的第二蚀刻气体和第二添加剂气体(118)来蚀刻包括下部磁性层的第二部分。 (112)在包括下磁性层,隧道势垒层和上层磁性层的层叠结构中形成掩模图案 层; (114)将层压结构的暴露的上表面暴露于氢等离子体; (116)通过使用包括至少80重量%的H 2气体的第一蚀刻气体和残留的第一添加气体来蚀刻包括上部磁性层和隧道势垒层的第一部分; (118)通过使用包括至少80重量%的H 2气体的第二蚀刻气体和残留的第二添加气体来蚀刻包括下部磁性层的第二部分; (AA)开始; (BB)结束
    • 9. 发明授权
    • 하드디스크용 박막형 피제티 글라이드 헤드의 제조방법
    • 用于硬盘的薄膜型PZT滑动头的制造方法
    • KR101252239B1
    • 2013-04-08
    • KR1020110042591
    • 2011-05-04
    • (주)파워쿨
    • 이재훈홍광표손종식강종윤
    • G11B5/31
    • G11B19/048G11B5/6058
    • 본 발명은 하드디스크용 박막형 PZT 글라이드 헤드의 제조방법에 관한 것으로서, 특히 더욱 상세하게는 하드디스크 드라이브 미디어의 표면 결함을 검출하는 글라이드 헤드가 박막형 PZT로 제조됨으로써, 기존의 벌크형에 비해 슬라이더의 소형화가 이루어질 수 있음은 물론 그 크기도 초소형의 Femto Size에서 Pico Size까지의 적용이 가능하고, 기존의 벌크형의 압전소자를 반도체 공정을 사용한 박막형 압전소자로 대체함으로써, 낮은 부상 높이와 민감도 및 무게나 부피의 비중을 최소화할 수 있으며, 상부에 형성된 박막형 PZT 센서와 상기 박막형 PZT 센서의 하부에 형성되는 에어 베어링 표면(ABS)을 일체형으로 제조함으로써, 기존의 분리형보다 초소형의 설계가 가능하여 Femto Size의 글라이드 헤드의 제작에 유리하여 기술적으로 선점할 수 있음은 물론 반도체 공정을 통해 일체화하므로 경제적인 부가가치를 창출할 수 있으며, 글라이드 헤드를 박막형으로 제조함으로써, 소형화 및 경량화가 가능하여 기존의 벌크형 압전소자를 사용한 글라이드 헤드보다 부상의 높이를 감소시킬 수 있는 효과가 있다.