专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

KR1020060019575A 시험 장치 无效
标题翻译：测试设备
公开(公告)号：KR1020060019575A
公开(公告)日：2006-03-03
申请号：KR1020057023474
申请日：2004-06-04
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 치바노리아키 , 츠루키야스타카
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/31922 , G01R31/31928
摘要： A testing device comprises a first reference clock producing section for producing a first reference clock, a first test rate producing section for producing a first test rate clock on the bass of the first reference clock, a first driver for supplying a first test pattern to an electronic device on the basis of the first rate clock, a second reference clock producing section for producing a second reference clock, a first phase-locking section for phase-locking the second reference clock at the first test rate clock, a second test rate producing section for producing a second test rate clock on the basis of the phase-locked second reference clock, and a second driver for supplying a second test pattern to an electronic device on the basis of the second test rate clock.
摘要翻译：测试装置包括用于产生第一参考时钟的第一参考时钟产生部分，用于产生第一参考时钟的低音上的第一测试速率时钟的第一测试速率产生部分，用于向第一参考时钟提供第一测试模式的第一驱动器，基于第一速率时钟的电子设备，用于产生第二参考时钟的第二参考时钟产生部分，用于以第一测试速率时钟相位锁定第二参考时钟的第一相位锁定部分，产生第二测试速率的第二测试速率基于所述锁相第二参考时钟产生第二测试速率时钟的部分，以及用于基于所述第二测试速率时钟向第二测试模式提供第二测试模式的第二驱动器。

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式