专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP6971748B2 放射能測定装置有权
公开(公告)号：JP6971748B2
公开(公告)日：2021-11-24
申请号：JP2017188801
申请日：2017-09-28
申请人：三菱重工業株式会社
发明人：前田一人 , 柴田勝志
IPC分类号： G01T1/169 , G01T7/00 , G01T1/203 , G01T1/20 , G01T1/172 , G01T1/17

2. 发明专利

JP2020159870A タイヤハウス汚染自動検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020159870A
公开(公告)日：2020-10-01
申请号：JP2019059613
申请日：2019-03-27
申请人：三菱電機プラントエンジニアリング株式会社
发明人：松尾慶一 , 垣内英明
IPC分类号： G01T1/169
摘要：【課題】タイヤとフェンダーとの間の隙間が小さく、作業員の手あるいは放射線検出器が挿入できないような車両についても、タイヤハウス内の汚染検査を実行することができるタイヤハウス汚染自動検査方法を得る。【解決手段】タイヤハウス汚染自動検査方法は、調整機構を用いてタイヤとフェンダーとの間の隙間量が放射線検出器を挿入するために必要な許容隙間量以上となるように、隙間量を調整する隙間調整ステップと、放射線検出器をタイヤとフェンダーとの間の隙間に挿入させ、放射線検出器によりタイヤハウス内の放射能汚染検査を実行する検査ステップとを有する。【選択図】図7

3. 发明专利

JP2020046327A β線測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020046327A
公开(公告)日：2020-03-26
申请号：JP2018175649
申请日：2018-09-20
申请人：株式会社スリー・アール
发明人：茂木道教 , 村山敏 , 菅井弘
IPC分类号： G01T1/167 , G01T1/203 , G01T1/169
摘要：【課題】放射性廃棄物でない廃棄物等の測定対象物の放射性物質による表面汚染の有無を測定対象物を搬送しながら効率的に検査可能なβ線検出装置を提供する。【解決手段】本発明のβ線測定装置は、(a)平板状の荷置き部を備え、当該荷置き部上に測定対象物を載せて搬送可能な搬送台車と、(b)搬送台車の一方の端部から他方の端部へ向けて搬送台車を移動させるための送り機構と、送り機構の上部にあって搬送台車が移動中に荷置き部の下面に近接する検出面を介して荷置き部上の測定対象物からのβ線を測定するためのβ線検出器とを含む測定台車と、を備える。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2019168322A 車両汚染検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019168322A
公开(公告)日：2019-10-03
申请号：JP2018056021
申请日：2018-03-23
申请人：三菱電機プラントエンジニアリング株式会社
发明人：松尾慶一 , 垣内英明
IPC分类号： G01T1/167 , G01T1/00 , G01T1/169
摘要：【課題】荷台シートを装備した車両を対象に放射能汚染検査を行う場合、シート閉じ作業を人手に頼って行うと検査を終えるのに長い時間がかかってしまう。【解決手段】本発明の車両汚染検査装置は、荷台111および荷台シート112を有する車両300の放射能汚染を検査する検査ユニット20と、所定の位置に停止される車両300の長さ方向Xにおいて検査ユニット20と車両300の相対位置を変化させる検査ユニット移動駆動部35と、検査ユニット20が放射能汚染の検査を行った車両300の荷台シート112を、検査ユニット移動駆動部35の駆動を利用して閉じる荷台シート閉じ装置130と、を備える。【選択図】図4

5. 发明专利

JP2019164096A β線核種の分別定量方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019164096A
公开(公告)日：2019-09-26
申请号：JP2018053329
申请日：2018-03-20
申请人：国立研究開発法人国立環境研究所 , 国立大学法人東北大学
发明人：山田一夫 , 竹内幸生 , 五十嵐豪 , 大澤紀久
IPC分类号： G01T1/16 , G01T1/169 , G01T1/167
摘要：【課題】本発明は、β線ラジオグラフを用いて、固体中の複数のβ線核種を個別に定量する方法を提供する。【解決手段】本発明は、β線核種の分別定量方法である。A)複数のβ線核種を含む複数の固体を成形した後、切断し、切断面の少なくとも片面または両面を遮蔽した標準試料を作製。B)標準試料から放出されるβ線の計数率を測定。C)β線核種の比放射能、およびβ線の計数率に基づき、(1)式および(2)式を用いて回帰分析を行い、回帰係数aiおよびkiの値を求める。 D)回帰係数aiおよびkiの値を代入した1)式および2)式に、測定対象試料のβ線の計数率(実測値)を代入して得たn元連立1次方程式を解いて、解である比放射能Ciの値を算出。E)β線の測定器の測定ピクセルごとに、比放射能Ciの値を2次元および/又は3次元表示して定量マッピング像を作成。【選択図】図4

6. 发明专利

JP2019148578A 検査対象物の表面のウラン汚染の検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019148578A
公开(公告)日：2019-09-05
申请号：JP2018164087
申请日：2018-09-01
申请人：株式会社スリー・アール
发明人：茂木道教 , 菅井弘
IPC分类号： G01T1/169 , G01N21/64
摘要：【課題】放射性廃棄物でない廃棄物等の検査対象物の表面のウラン汚染の有無を迅速かつ効率的に検査するための検査方法を提供する。【解決手段】本発明の検査方法は、(a)検査対象物の表面に紫外線を照射する工程と、(b)紫外線の照射下における検査対象物の表面での緑色、青色、またはこれら両方を含む蛍光を発する領域を特定する工程と、(c)蛍光を発する領域のウラン汚染の有無を直接サーベイ法を用いたα線検出により測定する工程と、を含む。【選択図】図1

7. 发明专利

JP6562342B2 放射性物質採取装置及び放射性物質分析方法有权
公开(公告)号：JP6562342B2
公开(公告)日：2019-08-21
申请号：JP2015042555
申请日：2015-03-04
申请人：国立研究開発法人海上・港湾・航空技術研究所
发明人：大西世紀 , ソーントンブレア
IPC分类号： G01T1/169 , G21F9/28 , G01T1/167

8. 发明专利

JP2019117089A 放射能濃度特定方法及び特定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019117089A
公开(公告)日：2019-07-18
申请号：JP2017250521
申请日：2017-12-27
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：松山惠璃菜 , 吉岡健太郎
IPC分类号： G01T1/169
摘要：【課題】放射性廃棄物の表面汚染や内部汚染の有無、核種及び存在量を特定する方法を提供する。【解決手段】放射性廃棄物から放出されるガンマ線と電子線を測定する測定ステップと(S1、S2)、前記電子線の測定値から表面汚染の有無を判定する表面汚染判定ステップと(S3)、表面汚染有りと判定された場合に電子線の波高分布から表面汚染核種及び存在量を特定する表面汚染特定ステップと(S4)、前記表面汚染特定ステップで特定された表面汚染核種のガンマ線の波高分布を特定し、ガンマ線の波高分布から前記特定されたガンマ線の波高分布を差し引いた差分を特定するガンマ線特定ステップと(S7)、前記差分に基づいて内部汚染の有無を判定する内部汚染判定ステップと(S8)、前記内部汚染判定ステップで内部汚染有りと判定された場合に、前記差分から内部汚染核種及び存在量を特定する内部汚染特定ステップと(S10)、を有する。【選択図】図1

9. 发明专利

JP2019519786A 放射線撮像装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019519786A
公开(公告)日：2019-07-11
申请号：JP2018568299
申请日：2017-06-30
申请人：クリエイトテクノロジーズリミテッド , CREATE TECHNOLOGIES LIMITED
发明人：メラーマシューポール , ネピアアシュリー
IPC分类号： G01T1/169 , G01T1/16
摘要：【課題】本発明の目的は、調査中の施設とは完全に無関係な、いずれの外部入力又は外部基準にも依拠せずに展開できる形で空間データと放射線データの両方を収集する装置及び方法を提供することである。【解決手段】放射線撮像装置であって、実際の構造物を撮像するように構成された光学撮像装置と、固定基準フレームとしての実際の構造物に対する放射線撮像装置の瞬間的位置及び配向を6自由度で特定するように構成された位置及び配向検出器と、電離放射線を検出するように構成された放射線検出器と、放射線検出器によって検出された電離放射線のデータと、実際の構造物に対する放射線撮像装置の位置及び配向のデータとの組み合わせに基づいて放射線源の分布を特定するように構成された放射線源特定部と、光学撮像装置によって撮像された実際の構造物の光学画像と、放射線源特定部からのデータに基づく放射線源の分布を表すオーバーレイ画像とを含む合成画像のためのデータを生成するように構成された画像生成器と、を備える放射線撮像装置である。【選択図】図1

10. 发明专利

JP6519070B1 放射性物質による汚染の検査装置、検査方法有权
公开(公告)号：JP6519070B1
公开(公告)日：2019-05-29
申请号：JP2018042512
申请日：2018-03-09
申请人：株式会社スリー・アール
发明人：茂木道教 , 菅井弘
IPC分类号： G21F9/00 , G01T1/167 , G01T1/203 , G01T1/169
摘要：【課題】放射性物質による表面汚染の有無を効率的に検査可能な検査装置と、その表面汚染の検査を含む放射性廃棄物でない廃棄物の核燃料物質または核原料物質による汚染の検査方法を提供する。【解決手段】本発明の放射性物質による表面汚染を検査する検査装置100は、所定の間隔で配置された2つのβ線検出装置1、2を備える。β線検出装置の各々は、測定対象物の下面からのβ線を検出する列状に配置された複数のβ線検出器16と、列状の複数のβ線検出器の両端部において測定対象物の側面からのβ線を検出する2つのβ線検出器12とを含む。検査装置は、測定対象物を2つのβ線検出装置の入り口側から出口側へ移動させるための移動手段3をさらに備える。そして、移動手段により測定対象物を移動させながら2つのβ線検出装置において測定対象物の下面及び側面からのβ線検出を行う。【選択図】図1

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式