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1. 发明专利

JP6987364B2 光学用キャップ部品有权
公开(公告)号：JP6987364B2
公开(公告)日：2021-12-22
申请号：JP2020150521
申请日：2020-09-08
申请人：日本電気硝子株式会社
发明人：松下佳雅 , 佐藤史雄
IPC分类号： G01N21/01 , C03C4/10 , C03C3/12 , G01N21/3504

2. 发明专利

JPWO2020105715A1 光発生装置並びにそれを用いた炭素同位体分析装置及び炭素同位体分析方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2020105715A1
公开(公告)日：2021-11-11
申请号：JP2019045683
申请日：2019-11-21
申请人：積水メディカル株式会社 , 国立大学法人東海国立大学機構
发明人：吉田賢二 , 二宮真一 , 富田英生 , 井口哲夫 , 西澤典彦 , ゾンネンシャインフォルカ , 寺林稜平
IPC分类号： H01S3/10 , H01S3/00 , G02F1/33 , G02F1/37 , G01N21/01 , G01N21/3504
摘要：光源と、光源からの光のオンオフを制御する光スイッチと、光スイッチからの光を反射して光スイッチに光を送り返すミラーとを備える、光発生装置。リングダウン信号のフィッティングにおける残差が少ない光発生装置並びにそれを用いた放射性炭素同位体分析装置及び放射性炭素同位体分析方法が提供される。

3. 发明专利

JP2021167840A 生物学的サンプルの画像分析および測定审中-公开
公开(公告)号：JP2021167840A
公开(公告)日：2021-10-21
申请号：JP2021117901
申请日：2021-07-16
申请人：ラブラドールダイアグノスティクスエルエルシー
发明人：チンメイパンガルカール , カランモーハン , ジェイムズアール. ワッソン
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/03 , G01N33/48 , G01N33/483 , G01N33/53 , G01N21/27
摘要：【課題】生物学的サンプルの光学的および画像分析および/または測定にとり有用である方法、機器、システム、および装置を提供すること。【解決手段】生物学的サンプルの測定の画像の分析のための方法、機器、システム、および装置が提供される。本明細書において開示される実施形態は、光学的試験、光学的測定、および他の試験および測定のための、生物学的サンプルを含むサンプルを保持するために適したサンプルホルダーを含む。実施形態では、光学的に透過性部分および前記サンプルホルダー内で光の内部反射を提供するために構成された部分を有するサンプルホルダー提供される。実施形態では、内部反射は、光の部分内部反射および全体的内部反射を含み得る。【選択図】なし

4. 发明专利

JP6951870B2 光計測装置有权
公开(公告)号：JP6951870B2
公开(公告)日：2021-10-20
申请号：JP2017109973
申请日：2017-06-02
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：浦上恒幸 , 土屋広司 , 三輪光春
IPC分类号： G01N21/15 , G01N21/64 , G01N21/01 , G01N21/03

5. 发明专利

JP2021156694A ガスセンサおよびガスセンサ用光源装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021156694A
公开(公告)日：2021-10-07
申请号：JP2020056156
申请日：2020-03-26
申请人：旭化成エレクトロニクス株式会社
发明人：倉嶋晃士
IPC分类号： G01N21/61 , H05B3/20 , G01N21/01
摘要：【課題】特定の波長の赤外線を効率的に取り出すことができるガスセンサ用光源装置、および、小型化や低消費電力化が容易なガスセンサを提供することを課題とする。【解決手段】電流を流すことでジュール熱を発生し、両表面の各々がキャビティを有し、両面のキャビティの深さが電熱変換部の両面の頂部同士の距離の1%〜100%であり、キャビティのピッチが電熱変換部の両面の頂部同士の距離の1%〜100%である電熱変換部を備え、前記ジュール熱を直接または間接的に外界に赤外線を含む光として放出する光源装置と、前記光源装置から放出される光を受光する受光部と、前記光源装置と前記受光部の間に気体または液体を導入することが可能な筐体と、を備えるガスセンサ。【選択図】図1

6. 发明专利

JPWO2020090776A1 遠心沈降式の粒径分布測定装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2020090776A1
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：JP2019042264
申请日：2019-10-29
申请人：株式会社堀場製作所
发明人：山口哲司 , 赤松武
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/49 , G01N21/03 , G01N15/04
摘要：本発明は、セルの冷却性能を向上させて、分散媒の温度を一定に保ち、測定精度を向上させるものであり、測定試料が収容されるセル2を保持し、モータ321により回転されるセル保持体31と、セル保持体31を回転可能に収容する収容空間Sを有する筐体Cと、セル2を冷却する冷却機構8とを備え、冷却機構8は、冷却器81と、当該冷却器82により冷却された気体を収容空間Sに供給する供給路82とを備える。

7. 发明专利

JP2021143877A 検査装置及び検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021143877A
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：JP2020041304
申请日：2020-03-10
申请人：株式会社大気社 , 株式会社SUBARU
发明人：隅井唯 , 諏江勇佑 , 野阪英嗣 , 鶴井裕輔
IPC分类号： G01N21/57 , G01N21/01 , G01N21/84 , G01N21/27
摘要：【課題】信頼性の高い検査が可能な検査装置を提供する。【解決手段】色彩計31又はロボットアーム32に取り付けられる補正本体部34と、補正本体部34において色彩計31の周囲に突設され、色彩計31が塗装面2において傾いているときに、塗装面2に接触可能に構成された点状接触部35とを有する補正具33を備え、制御装置は、塗装面2に対する点状接触部35の接触に基づいて、検査部36が検査姿勢となるようにロボットアーム32の作動を補正制御できるように構成されている。【選択図】図2

8. 发明专利

JP6916435B2 テラヘルツ光発生装置有权
公开(公告)号：JP6916435B2
公开(公告)日：2021-08-11
申请号：JP2017006110
申请日：2017-01-17
申请人：澁谷工業株式会社
发明人：中俊明 , 佐々木基 , 土谷暁人
IPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/01 , H01S3/108 , G02F1/39

9. 发明专利

JP2021113723A 電子装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021113723A
公开(公告)日：2021-08-05
申请号：JP2020005998
申请日：2020-01-17
申请人：富士電機株式会社
发明人：松下浩二
IPC分类号： B81B3/00 , G01N21/01
摘要：【課題】導電パターンが発熱したときの支持層の耐破損性を高くする。【解決手段】導電パターン層310の第1方向Xの正方向側の折り返しによって、導電パターン層310の第1方向Xの負方向側には、導電パターン層310の第1方向Xの負方向側に向けて開いた切れ目312が形成されている。また、導電パターン層310の第1方向Xの負方向側の折り返しによって、導電パターン層310の第1方向Xの正方向側には、第1方向Xの正方向側に向けて開いた切れ目312が形成されている。導電パターン層310の第1方向Xの正方向側の第1パターン層320は、導電パターン層310の第1方向Xの正方向側の切れ目312を覆っている。また、導電パターン層310の第1方向Xの負方向側の第1パターン層320は、導電パターン層310の第1方向Xの負方向側の切れ目312を覆っている。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2021107787A 基準板、校正用部材、光沢計、及び、基準板の製造方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021107787A
公开(公告)日：2021-07-29
申请号：JP2019239257
申请日：2019-12-27
申请人：株式会社堀場製作所
发明人：辰巳浩規
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/57
摘要：【課題】信頼性の高い任意の光沢度を有する基準板を提供する。【解決手段】基準板71’は、基板Bと、第1光沢度表面73と、第2光沢度表面75と、を備える。第1光沢度表面73は、基板Bの表面上に形成され、第1光沢度を有しかつ第1面積を有する。第2光沢度表面75は、基板Bの表面上に形成され、第2光沢度を有しかつ第2面積を有する。基板Bの表面上において、1つの第1光沢度表面73と1つの第2光沢度表面75とは互いに隣接して配置され、互いに隣接して配置された1つの第1光沢度表面73と1つの第2光沢度表面75との組により構成される複数の単位が基板Bの表面上において互いに隣接して配置される。【選択図】図5

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