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1. 发明专利

JPWO2015087594A1 分光ユニットおよびこれを用いた分光装置有权
公开(公告)号：JPWO2015087594A1
公开(公告)日：2017-03-16
申请号：JP2015516131
申请日：2014-09-17
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：良隆寺岡 , 良隆寺岡 , 克敏 ▲鶴▼谷 , 克敏 ▲鶴▼谷 , 亘山口 , 亘山口
IPC分类号： G01J3/26 , G01J3/36 , G02B5/28
CPC分类号： G01J3/26 , G01J3/0221 , G01J3/0262 , G01J3/12 , G01J3/2803 , G01J3/30 , G01J3/36 , G01J2003/1234 , G01J2003/1243 , G02B5/28 , G02B26/001
摘要：本発明の分光ユニットおよび分光装置は、被測定光の入射側から出射側へ順に配置された複数の光学フィルタ素子を備え、第1方向に沿った入射位置に応じて透過波長の異なるフィルタを持ち、前記複数の光学フィルタ素子のうちの1つの第1光学フィルタ素子は、前記第1方向および前記入射側から射出側へ向かう第2方向それぞれに直交する第3方向を回転軸として所定の角度だけ回転することで、または、前記第1方向を回転軸として所定の角度だけ回転することで、当該第1光学フィルタ素子に隣接して配置される第2光学フィルタ素子に対し傾いて配置されている。

2. 发明专利

JP5861895B2 分光器及び顕微分光システム有权
公开(公告)号：JP5861895B2
公开(公告)日：2016-02-16
申请号：JP2013557499
申请日：2013-02-04
申请人：株式会社ニコン
发明人：左高良一 , 大澤日佐雄
IPC分类号： G01N21/27 , G01J3/443 , G01J3/06 , G01N21/64 , G01J3/28
CPC分类号： G01J3/4406 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01N21/64 , G02B21/0064 , G02B21/0076 , G01J2003/1243 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N21/6458

3. 发明专利

JP6206684B2 分光器及び顕微鏡システム有权
公开(公告)号：JP6206684B2
公开(公告)日：2017-10-04
申请号：JP2015255332
申请日：2015-12-25
申请人：株式会社ニコン
发明人：左高良一 , 大澤日佐雄
IPC分类号： G01J3/06 , G01J3/443 , G02B21/00 , G01N21/27 , G01J3/28
CPC分类号： G01J3/4406 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01N21/64 , G02B21/0064 , G02B21/0076 , G01J2003/1243 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N21/6458

4. 发明专利

JP2016526698A 極低温環境のための可変アパーチャ機構における熱制御审中-公开
标题翻译：可变光圈机构用于低温环境的热控制
公开(公告)号：JP2016526698A
公开(公告)日：2016-09-05
申请号：JP2016519597
申请日：2014-06-10
申请人：レイセオンカンパニー , レイセオンカンパニー
发明人：ピー．ヤネヴィヒ，ジェフリー , ピー．ヤネヴィヒ，ジェフリー , エル．ブレスト，マイケル , エル．ブレスト，マイケル , エル．マカリスター，ケネス , エル．マカリスター，ケネス , イー．スクロジン，ジェームズ , イー．スクロジン，ジェームズ , ディー．トレイシー，グレゴリー , ディー．トレイシー，グレゴリー , シー．ドミンゲス，ジュリオ , シー．ドミンゲス，ジュリオ
IPC分类号： G03B9/14
CPC分类号： G03B9/08 , G01J3/0224 , G01J3/12 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J5/0205 , G01J5/0275 , G01J5/061 , G01J5/0831 , G01J5/084 , G01J5/62 , G01J2003/1243 , G01J2003/2826 , G03B9/02 , G03B2205/0046
摘要：シャッタアセンブリ(12)が、互いに対向し合い且つそれらの間に空洞(80)を有するスリーブを形成する第1の平面的な部材(70)及び第2の平面的な部材(72)を含み、スリーブは、スリーブの側部に沿って空洞に隣接する一対の側方レール(78)を有する。第1の端(92)を有する第1のシャッタ部材(14)が空洞内に配置され、側方レールの一方に沿って摺動的に配置され、第2の端(92)を有する第2のシャッタ部材(14)が空洞内に配置され、他方の側方レールに沿って摺動的に配置される。第1の端は、第2の端に対向し、第1の端は、第1の位置に配置されるときに第1の形状を有するアパーチャをそれらの間に定めるよう、選択的に第2の端に向かって前進させられ且つ第2の端から後退させられるように構成され、アパーチャは、第1の端が第2の位置に配置されるときに、第2のより大きい形状を有する。第1のシャッタ部材及び第2のシャッタ部材は、全ての位置において、側方レール及び平面的な部材との熱接触を維持する。シャッタアセンブリは極低温で並びに高真空環境において用いられるのに適する。
摘要翻译：快门组件（12）包括腔第一平面形构件（70）和第二平面部件形成具有（80）（72）之间，并且其相互面对彼此的套筒，所述套筒具有一对相邻的沿套筒（78）的侧面上的腔的侧轨。第一活门部件（14）被布置在具有第一端（92）的空腔，沿侧轨中的一个可滑动地设置，第二具有第二端（92）快门构件（14）被布置在空腔中，它可滑动地沿着另一侧轨设置。所述第一端对置的第二端部，第一端部是放置在其间的所述第一位置时，以限定具有第一形状的孔，选择性地第二它被构造和前进朝向端被从第二端，当所述第一端被放置在第二位置时，具有第二，更高的形状的孔缩回。第一活门部件和第二活门部件，在每个位置上，以维持侧轨和平面构件之间的热接触。快门组件适合于在高真空环境中使用，以及在低温下。

5. 发明专利

JP5048795B2 Spectral device 有权
公开(公告)号：JP5048795B2
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：JP2010011012
申请日：2010-01-21
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：文嗣福世 , 道治米澤
IPC分类号： G01J3/26 , G01N21/64
CPC分类号： G02B26/007 , G01J3/0235 , G01J3/12 , G01J3/32 , G01J2003/1226 , G01J2003/1243 , G01N21/64 , G01N2021/6419 , G01N2021/6463 , G01N2021/6471 , G02B5/28

6. 发明专利

JP2011527006A Fit arrangement in spectrum analysis 审中-公开
公开(公告)号：JP2011527006A
公开(公告)日：2011-10-20
申请号：JP2011516220
申请日：2009-06-10
申请人：センセエアーアーベー
发明人：ゲランエヴァルトマーチン、ハンス
IPC分类号： G01J3/36 , G01J3/26 , G01N21/35
CPC分类号： G01N21/3504 , G01J3/02 , G01J3/021 , G01J3/26 , G01J3/427 , G01J2003/1226 , G01J2003/1243 , H01L2224/48091 , H01L2924/00014
摘要： An arrangement adapted for a spectral analysis, having a light transmitting means, a delimited space in the form of a cavity serving as a measuring cell and defining an optical measuring distance, a light sensing means for detecting radiation passing said optical measuring distance from said light transmitting means, and a unit, connected at least to said light sensing means and performing the spectral analysis. Beams of radiation from the light transmitting means are made to pass through an optical band-pass filter at different angles of incidence. The filter is structured so as to pass a wavelength in dependence of the angle of incidence. A first chosen wavelength component is separated from a second wavelength component, each being received in its opto-electric means. Said unit is adapted for detecting and calculating an occurring radiation intensity for each such wavelength component.

7. 发明专利

JP2007179002A Optical microscope and method of measuring spectrum 有权
标题翻译：光学显微镜和测量光谱的方法
公开(公告)号：JP2007179002A
公开(公告)日：2007-07-12
申请号：JP2006247510
申请日：2006-09-13
申请人： Nano Photon Kk , ナノフォトン株式会社
发明人： KOBAYASHI MINORU , OTA TAISUKE , OIDE TAKAHIRO
IPC分类号： G02B21/06 , G01J3/36 , G01J3/44 , G01N21/64 , G01N21/65 , G02B21/24 , G02B21/36
CPC分类号： G01J3/44 , G01J3/02 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0262 , G01J2003/1243 , G01J2003/1247
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical microscope that can accurately measure spectra in a short time, and to provide a method of measuring the spectra. SOLUTION: This optical microscope 100 includes a laser light source 10; a Y-scanner 13 for scanning a light beam in a Y direction; an objective lens 21; an X-scanner 13 for scanning a light beam in an X direction; an outgoing beam emitting from the sample 22 to the objective lens 21 side as a different wavelength among the light beam incident on the sample 22, arranged in an optical path, from the Y-scanner 13 to the sample 22; a beam splitter 17 for splitting the light beam, incident on the sample 22 from the laser light source 10; a spectroscope 31, which has an entrance slit 30, arranged along a direction corresponding to the Y direction and which makes spatially the outgoing beam, passing the entrance slit 30, depending on the wavelength; and a detector 32 for detecting the outgoing beam dispersed by the spectroscope 31. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供可以在短时间内精确测量光谱的光学显微镜，并提供测量光谱的方法。
解决方案：该光学显微镜100包括激光光源10; Y扫描仪13，用于沿Y方向扫描光束; 物镜21; 用于沿X方向扫描光束的X扫描仪13; 在从Y扫描器13到样品22的光路中入射到样品22上的光束中，从样品22发射到物镜21侧的出射光束作为不同的波长; 用于从激光光源10入射到样品22上的光束的分束器17; 具有入射狭缝30的分光镜31沿着与Y方向相对应的方向布置，并且使空间上的出射光束根据波长穿过入口狭缝30; 以及用于检测由分光镜31分散的输出光束的检测器32.版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

8. 发明专利

JP2015504523A ハイパースペクトル撮像システムのための波長測定機能を有する波長可変光源システム审中-公开
标题翻译：具有用于高光谱成像系统的波长测量功能波长可调光源系统
公开(公告)号：JP2015504523A
公开(公告)日：2015-02-12
申请号：JP2014544881
申请日：2012-11-29
申请人：コーニングインコーポレイテッド , コーニングインコーポレイテッド
发明人：キャメロンジョントービー , キャメロンジョントービー
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/27
CPC分类号： G01J3/28 , G01J3/4338 , G01J9/00 , G01J2003/1243 , G01N21/7743 , H04N5/2354
摘要：ハイパースペクトル撮像システムのための波長測定機能を有する波長可変光源システムが開示されている。方法は、中心波長を調整している間に波長可変光ビームの一部を参照フィルタリングするステップ、少なくとも1つの光検出器を用いて参照フィルタリングされた波長可変光ビームを検出して、当該参照フィルタリングされた波長可変光ビームから中心波長によって変化する少なくとも1つの検出器信号を生成するステップ、及び当該少なくとも1つの検出器信号に基づいて可変中心波長を判定するステップを含んでいる。
摘要翻译：公开了一种具有高光谱成像系统的波长测量功能波长可调光源系统。该方法检测参考滤波使用至少一个光电检测器，同时调节中心波长引用过滤波长可变光光束的一部分，基准滤波器的波长可调光束步产生至少一个检测器的信号通过从波长可调光束的中心波长发生变化，并且包括基于所述至少一个检测器信号的可变中心波长的步骤。

9. 发明专利

JP2014132266A Multimode lightfield imaging system using exposure condition and filter position 审中-公开
标题翻译：使用曝光条件和过滤器位置的多模光照成像系统
公开(公告)号：JP2014132266A
公开(公告)日：2014-07-17
申请号：JP2013268321
申请日：2013-12-26
申请人： Ricoh Co Ltd , 株式会社リコー
发明人： SAPNA A SHROFF , CATHERINE BARKNER
IPC分类号： G01J3/36 , G01N21/27 , H04N5/238 , H04N5/335
CPC分类号： H04N5/2353 , G01J3/0208 , G01J3/2803 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J2003/1213 , G01J2003/1221 , G01J2003/1243 , G01N21/27 , G01N2021/1797 , H04N5/2254 , H04N5/332
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To improve a multimode imaging system.SOLUTION: There is provided an adjustable multimode lightfield imaging system. A non-homogeneous filter module is positioned at the pupil plane of the lightfield imaging system and provides multimode capability. The filter module can be moved relative to the imaging system with the exposure conditions adjusted accordingly, thus allowing adjustment of the multimode capability.
摘要翻译：要解决的问题：改进多模式成像系统。解决方案：提供可调多模光场成像系统。非均匀滤波器模块位于光场成像系统的光瞳平面，并提供多模能力。过滤器模块可以相对于成像系统移动，相应地调整曝光条件，从而允许调整多模式能力。

10. 发明专利

JP2014038031A Raman scattered light measuring apparatus and method 审中-公开
标题翻译：拉曼散射光测量装置和方法
公开(公告)号：JP2014038031A
公开(公告)日：2014-02-27
申请号：JP2012180483
申请日：2012-08-16
申请人： Fujifilm Corp , 富士フイルム株式会社
发明人： NAYA MASAYUKI , YAMAZOE SHOGO
IPC分类号： G01N21/65
CPC分类号： G01N21/65 , G01J3/0208 , G01J3/44 , G01J2003/1226 , G01J2003/1243
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To extract a signal with peak wavelength at high speed and with high accuracy while measuring Raman scattered light.SOLUTION: A Raman scattered light measuring apparatus comprises: an excitation light irradiation part 20 which irradiates a subject S with excitation light L1; a modulation part 30 which has a band-pass filter 31 on which Raman scattered light L2 generated in the subject by irradiation of the excitation light L1 is made incident to perform frequency modulation to the Raman scattered light by relatively scanning center wavelength of the band-pass filter 31 and peak wavelength peculiar to the subject included in the Raman scattered light L2 within a range that the peak wavelength transmits a band of the band-pass filter 31 for at least twice; a photodetector 40 which detects the Raman scattered light to which the frequency modulation is performed to output a light intensity signal; and a lock-in amplifier 50 which acquires temporal variation of the light intensity signal, and acquires a signal with a frequency component higher than that of the frequency modulation on the basis of the acquired temporal variation of the light intensity signal.
摘要翻译：要解决的问题：在测量拉曼散射光的同时，以高速和高精度提取具有峰值波长的信号。解决方案：拉曼散射光测量装置包括：激发光照射部分20，其对受试者S照射激发光L1 ; 具有带通滤波器31的调制部30，通过激发光L1的照射使被检体中产生的拉曼散射光L2入射，通过相对扫描带状滤波器31的中心波长相对扫描，对拉曼散射光进行调制，在峰值波长将带通滤波器31的频带发送至少两次的范围内，包括在拉曼散射光L2中的被摄体特有的波长滤波器31和峰值波长; 光检测器40，其检测进行了频率调制的拉曼散射光，以输出光强度信号; 以及锁定放大器50，其获取光强度信号的时间变化，并且基于获得的光强度信号的时间变化获取频率分量高于频率调制的频率分量的信号。

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