专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP5997386B2 ガラスの線構造レーザー画像の変調に基づく検出システム有权
标题翻译：基于玻璃的线结构的激光图像的调制检测系统
公开(公告)号：JP5997386B2
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：JP2015531439
申请日：2013-08-23
申请人：ルオヤンランドグラステクノロジーカンパニーリミテッド
发明人：リ,ヤンビン , リュウ,ビン
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/06 , G01B11/24
CPC分类号： G01N21/958 , C03B35/00 , G01B11/0691 , G01B11/167 , G01B11/2518 , G01B11/2522 , G01N21/896 , G01N2201/06113 , G01N2201/103

2. 发明专利

JP2017506349A ブレーキディスク悪化状態を決定するための方法および器具审中-公开
标题翻译：用于确定制动盘劣化状态的方法和设备
公开(公告)号：JP2017506349A
公开(公告)日：2017-03-02
申请号：JP2016565584
申请日：2015-01-27
申请人：テクサ・エッセ・ピ・ア
发明人：マヌエーレ・カヴァリ
IPC分类号： G01N21/892 , F16D65/00 , F16D66/00 , F16D66/02 , G01B11/30 , G06T1/00
CPC分类号： F16D66/028 , B60T17/221 , F16D65/0043 , G01B11/167 , G01N21/8806
摘要：車両のブレーキシステムのブレーキディスク(2)の悪化状態を決定するための方法である。方法は、光発信ヘッド(4)を用いて、ブレーキディスク(2)の面(3)に向かって、少なくとも1つの光の線(L)を描き、描かれた光の線(L)に基づいて、ブレーキディスク(2)の悪化状態を決定するために、光のビーム(E)を発信するステップを含む。
摘要翻译：一种用于确定所述制动盘（2）的车辆用制动系统的劣化状态的方法。该方法使用的光出射头（4）朝向所述表面（3）的制动盘（2），得出至少一个光线路（L）的基础上所绘制的光线路（L）特，以便确定所述制动盘（2）的劣化状态，包括传输光的光束（E）的步骤。

3. 发明专利

JP2015531481A ガラスの線構造レーザー画像の変調に基づく検出システム有权
公开(公告)号：JP2015531481A
公开(公告)日：2015-11-02
申请号：JP2015531439
申请日：2013-08-23
申请人：ルオヤンランドグラステクノロジーカンパニーリミテッド , ルオヤンランドグラステクノロジーカンパニーリミテッド
发明人：リ，ヤンビン , リュウ，ビン
IPC分类号： G01B11/24 , G01B11/06 , G01N21/88
CPC分类号： G01N21/958 , C03B35/00 , G01B11/0691 , G01B11/167 , G01B11/2518 , G01B11/2522 , G01N21/49 , G01N21/8806 , G01N21/896 , G01N2201/06113 , G01N2201/103 , H04N7/00
摘要：【課題】加工室、制御システム及びローラー搬送機構を含むガラスの線構造レーザー画像の変調に基づく検出システムであって、レーザー付きカメラとハウジングを含む検出機構が加工室の入り口の上方に設置され、レーザーから発射するビームがスライドローラー間における隙間面に照射され、カメラの対物焦平面がビーム照射面に対応し、カメラの信号出力端が制御システムに接続され、ガラスが検出領域を通過する時に、レーザー光はガラス面に照射され、ガラスは線構造のレーザー光を変調させ、明暗で分布する、動き方向が外れる又はレーザー光線が捻じ曲がるレーザー変調画像を形成させ、カメラはキャプチャしたガラス情報パラメータを制御システムに伝送するガラスの線構造レーザー画像の変調に基づく検出システム。該システムにおける検出機構は、一体化設計を採用し、構造がコンパクトで、加工室の入り口の上方に取り付けやすく、ほかの加工装置との適応性が強く、且つ検出過程に光の入射角度と検出面の角度に対して特殊な要求がなく、測定したデータの精度が高い。

4. 发明专利

JP2004125661A Surface distortion inspection device for magnetic tape 审中-公开
公开(公告)号：JP2004125661A
公开(公告)日：2004-04-22
申请号：JP2002291198
申请日：2002-10-03
申请人： Fuji Photo Film Co Ltd , 富士写真フイルム株式会社
发明人： OTSU KOKI
IPC分类号： G01B11/16 , G01B11/30 , G01N21/892 , G11B5/84
CPC分类号： G01B11/167
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface distortion inspection device for a magnetic tape capable of highly accurately inspecting surface distortion of the magnetic tape.
SOLUTION: The surface distortion inspection device 10 forms a linear image inclined at a specified angle to the tape width direction of the magnetic tape MT by irradiating the surface of the tape MT with a light ray R1 by using a light projector 12 and and picks up the image by a CCD camera 14 functioning as an image pickup device. The surface distortion of the tape MT can be inspected by inspecting the linearity of a fringe of an image in the picked-up image by a computer 15 functioning as an image inspection means and deciding presence/absence of a distortion and the magnitude of the distortion by the computer 15 functioning as a distortion decision means on the basis of the result of inspection.
COPYRIGHT: (C)2004,JPO

5. 发明专利

JP6236172B2 空間変位ベクトル場を測定するための方法有权
公开(公告)号：JP6236172B2
公开(公告)日：2017-11-22
申请号：JP2016567511
申请日：2015-06-17
申请人：ラヴィジオン・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング
发明人：ヴィーネケ・ベルンハルト
IPC分类号： G01B11/25 , G01B11/16
CPC分类号： G01B11/2513 , G01B11/167 , G06T7/0002 , G06T7/223 , G06T7/521 , G06T7/60 , G06T2207/10028 , G06T2207/30164

6. 发明专利

JP6144841B2 基板検査方法及びそれを用いた基板検査システム有权
公开(公告)号：JP6144841B2
公开(公告)日：2017-06-07
申请号：JP2016536044
申请日：2014-08-25
申请人：コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド
发明人：キム、ヘ‐テ , アン、ヨン‐キョン , チャ、ワン‐ジェ
IPC分类号： G01N21/956 , H05K3/00 , H05K13/02 , G01B11/24
CPC分类号： G01B11/167 , G01B11/0608 , G01B11/306 , H05K13/08 , G01N2021/95638

7. 发明专利

JP2016530522A 基板検査方法及びそれを用いた基板検査システム有权
标题翻译：衬底检测方法和使用该方法的基板检查系统
公开(公告)号：JP2016530522A
公开(公告)日：2016-09-29
申请号：JP2016536044
申请日：2014-08-25
申请人：コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド
发明人：ヘ‐テキム、 , ヘ‐テキム、 , ヨン‐キョンアン、 , ヨン‐キョンアン、 , ワン‐ジェチャ、 , ワン‐ジェチャ、
IPC分类号： G01B11/24 , G01N21/956 , H05K3/00 , H05K13/02
CPC分类号： G01B11/167 , G01B11/0608 , G01B11/306 , G01N2021/95638 , H05K13/08
摘要：基板を検査するために、まず、マウンターで部品を装着する以前の基板をワークステージに移送する。続いて、基板の反りを検査する。次に、検査結果基板が良好と判断された場合基板をマウンターで移送し、検査結果基板が不良と判断された場合基板をマウンターで移送しないで不良と確定する。従って、不必要な作業を事前に防止し製品の生産性及び検査の効率性を増加させることができる。
摘要翻译：为了检验衬底，首先，前基板传送用于安装零件安装机的工作阶段。然后，检查基板的翘曲。接着，测试结果衬底在安装器基板输送如果判断为良好，判定为没有传送衬底贴片如果测试结果是板确定为有缺陷有缺陷的。因此，预先防止不必要的工作，可以提高产品的生产效率和检验效率。

8. 发明专利

JP2007064864A Strain measuring method and device therefor 审中-公开
标题翻译：应变测量方法及其设备
公开(公告)号：JP2007064864A
公开(公告)日：2007-03-15
申请号：JP2005253096
申请日：2005-09-01
申请人： Toyo Seiki Seisakusho:Kk , 株式会社東洋精機製作所
发明人： KOBAYASHI KOICHI
IPC分类号： G01B11/16
CPC分类号： G01B11/167 , G01L1/241 , G01L5/0047
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an easy and precise strain measuring method and device that requires no processing in advance.
SOLUTION: This method is a voice/image regeneration method by mobile regenerator for measuring a Poisson's ratio noncontactly with a test piece 3 in real time, using a laser speckle pattern 2. Strain is thereby measured instantaneously by irradiating the test piece with a laser light beam, without applying an excessive load of bonding a resistance wire strain gage or the like because of noncontact measurement, and without requiring the processing in advance.
COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种容易且精确的应变测量方法和装置，其不需要预先处理。解决方案：该方法是通过使用激光散斑图案2实时测量实验3的泊松比的移动式再生器的声音/图像再生方法。通过使用激光散斑图案2照射测试片，瞬间测量应变激光束，由于不接触测量而不施加过大的结合电阻应变计等的负载，并且不需要预先处理。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

9. 发明专利

JP2017516101A 空間変位ベクトル場を測定するための方法有权
公开(公告)号：JP2017516101A
公开(公告)日：2017-06-15
申请号：JP2016567511
申请日：2015-06-17
申请人：ラヴィジオン・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング
发明人：ヴィーネケ・ベルンハルト
IPC分类号： G01B11/16 , G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2513 , G01B11/167 , G06T7/0002 , G06T7/223 , G06T7/521 , G06T7/60 , G06T2207/10028 , G06T2207/30164
摘要：本発明は、被検査物体10の空間変位ベクトル場300を測定するための方法に関する。当該方法の場合、2種類の像、すなわち・少なくとも1つの固有パターン像100,100Fの記録時に、前記被検査物体10が、均一な照射光によって照射される、前記少なくとも1つの固有パターン像100,100Fと、・少なくとも1つの投影パターン像200,200Fの記録時に、前記被検査物体10が、空間変調され、前記被検査物体上に投影された投影パターン像によって照射される、前記少なくとも1つの投影パターン像200,200Fとが、前記被検査物体10から記録される。この場合、・前記固有パターン像100,100Fの記録時点における前記被検査物体10の平面変位ベクトル場110,110Fが、前記固有パターン像100,100Fに割り当てられた前記被検査物体10の表現として前記固有パターン像100,100Fから計算され、・前記投影パターン像200,200Fの記録時点における前記被検査物体10の形状が、前記投影パターン像200,200Fに割り当てられた前記被検査物体10の表現として前記投影パターン像200,200Fから計算され、前記空間変位ベクトル場300が、当該記録された像100,100F;200,200Fに割り当てられた前記被検査物体10の表現から測定される。本発明は、・2種類の像のうちの1つの第1種像100;200が、1つの試験時点tTに記録され、前記2種類の像のうちのそれぞれ1つの第2種像100F,200Fが、この試験時点tTの前及び後の時間離間した2つの記録時点tT−;tT+に記録され、・前記試験時点tTに対する前記被検査物体(10)の対応する表現が、平均算出によって、前記被検査物体(10)の複数の前記第2種像(100F,200R)に割り当てられて計算された表現から推定され、・前記空間変位ベクトル場300の測定が、前記第1種像100,200に割り当てられて計算された前記被検査物体10の表現と、前記第2種像100F,200Fから推定された前記被検査物体の表現とに基づくことを特徴とする方法。(図2)

10. 发明专利

JP2017096272A 構成部品をモニタリングするシステムおよび方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017096272A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：JP2016218492
申请日：2016-11-09
申请人：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
发明人：グレゴリー・リー・ホービス , トーマス・ジェームズ・バツィンガー , ウィリアム・エフ・ランソン
IPC分类号： F01D25/00 , G01B11/16 , G01B11/25 , F02C7/00
CPC分类号： G01B11/16 , G01B11/167 , G01M11/081 , G01M15/14
摘要：【課題】構成部品をモニタリングするシステムおよび方法を提供する。【解決手段】タービン構成部品10は、外表面11を有する。方法は、タ-ビン構成部品10の外表面11の所定の位置に構造化光を投影することを含む。構造化光は、構造化光発光器142から放射される。方法は、構造化光が外表面によって反射された後で、構造化光を検知することをさらに含む。方法は、検知された構造化光の少なくとも1つの特性を計算することをさらに含む。【選択図】図2

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式