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    • 1. 发明专利
    • 表面観測用試料冷却装置及び表面観測装置
    • 表面观察样品冷却装置和表面观察装置
    • JP2015025592A
    • 2015-02-05
    • JP2013154298
    • 2013-07-25
    • 独立行政法人物質・材料研究機構National Institute For Materials Science
    • SUZUKI HIROSHIHISHIDA SHUNICHI
    • F25B9/14G01N23/225H01J37/20
    • 【課題】本発明は、10−10Torr以下の超高真空中、7.2K未満に冷却可能であり、その環境で、装置外から様々なビームを試料の表面に照射し、前記表面からの反射ビームや放出ビームを装置外で測定可能であり、かつ、真空を破らず、試料の交換が可能である表面観測用試料冷却装置及び表面観測装置を提供することを課題とする。【解決手段】筒状の熱シールドと、前記筒内に配置された伝熱棒と、伝熱棒に取り付けられた高熱伝導性電気絶縁板と、高熱伝導性電気絶縁板に試料ホルダー押さえ込み板により押さえ込まれた試料ホルダーと、熱シールドに設けられた開閉部と、前記開閉部に設けられた2つのビーム孔と、を有する表面観測用試料冷却装置を用いることによって前記課題を解決できる。【選択図】図11
    • 要解决的问题:为了提供一种表面观察样品冷却装置和表面观察装置,其中在10Torr以下的超高真空中,其环境可以被冷却至低于7.2K的值,将各种光束照射到 可以测量来自设备外部的样品的表面,可以测量来自表面的反射光束或放射光束,并且可以在不破坏真空条件的情况下进行样品的更换。解决方案:上述主题中描述的一些问题可以在应用 所述表面观察样品冷却装置包括:圆柱形隔热罩; 布置在圆筒形隔热罩中的传热杆; 高导热电绝缘板; 由样品保持器压板压靠在高导热电绝缘板上的样品架; 设置在圆筒形隔热罩上的开闭部分; 以及布置在开闭部分的两个光束孔。
    • 2. 发明专利
    • Method for magnetic structure analysis and apparatus for spin polarized ion scattering spectroscopy used therein
    • 磁性结构分析方法及其用于旋转极化散射光谱的装置
    • JP2009216387A
    • 2009-09-24
    • JP2007190277
    • 2007-07-23
    • National Institute For Materials Science独立行政法人物質・材料研究機構
    • SUZUKI HIROSHIYAMAUCHI YASUSHI
    • G01N23/20G01T1/32
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and apparatus for magnetic structure analysis for sorting an element and an atom layer in the uppermost surface 2-3 atom layer.
      SOLUTION: The intensity of the scattered ions from a sample is measured by the spin of an incident ion species and the surface magnetic structure of the sample is analyzed on the basis of the measuring data. The magnetic structure analyzer is composed of a spin polarized ion producing part for producing spin polarized ions, a spin polarized ion beam line for throwing the spin polarized ions from the spin polarized ion producing part on the surface of the sample by desired energy, a vacuum tank for holding the sample and the measuring instrument positioned in the vacuum tank to measure the spin polarized ions scattered by the irradiation of the sample.
      COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
    • 要解决的问题:提供用于对最上表面2-3原子层中的元素和原子层进行分选的磁性结构分析的方法和装置。 解决方案:通过入射离子物质的自旋测量来自样品的散射离子的强度,并且基于测量数据分析样品的表面磁性结构。 磁性结构分析器由用于产生自旋极化离子的自旋极化离子产生部分,用于通过所需能量从样品表面上的自旋极化离子产生部分投掷自旋极化离子的自旋极化离子束线,真空 用于保持样品的容器和位于真空槽中的测量仪器以测量通过样品照射而散射的自旋极化离子。 版权所有(C)2009,JPO&INPIT
    • 4. 发明专利
    • Ion beam generating method, and ion beam generating device for its implementation
    • 离子束生成方法和离子束生成装置进行实施
    • JP2008135309A
    • 2008-06-12
    • JP2006321053
    • 2006-11-29
    • National Institute For Materials Science独立行政法人物質・材料研究機構
    • SUZUKI HIROSHIYAMAUCHI YASUSHI
    • H01J27/16H01J27/24H01J37/08H01J37/252
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a simple and versatile method for making an ion beam carry a high current, as to an ion beam generating device used for a device for analyzing an atomic arrangement on a surface and an interface by using a helium ion beam.
      SOLUTION: The ion beam generating device is composed of a high frequency discharge tube 1 to generate helium plasma by high frequency discharge, a laser generating device 13 capable of adjusting a wavelength and carrying out optical pumping, a laser irradiating device to irradiate laser light from the laser generating device to the inside of the high frequency discharge tube, and an observing device to observe the wavelength of laser light. In this ion beam generating method, laser light having a wavelength of 1083 nm is irradiated into the helium plasma generated by high frequency discharge to carry out optical pumping.
      COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
    • 要解决的问题:为了提供用于使离子束携带高电流的简单且通用的方法,对于用于分析表面和界面上的原子排列的装置的离子束产生装置,通过使用 氦离子束。 解决方案:离子束产生装置由高频放电管1组成,通过高频放电产生氦等离子体,能够调节波长并进行光泵浦的激光发生装置13,照射激光照射装置 从激光发生装置到高频放电管的内部的激光以及观察激光的波长的观察装置。 在该离子束产生方法中,将通过高频放电产生的氦等离子体照射波长为1083nm的激光,进行光泵浦。 版权所有(C)2008,JPO&INPIT
    • 5. 发明专利
    • Polarized ion beam generating device, and polarized ion beam generating method
    • 极化离子束生成装置和极化离子束生成方法
    • JP2011029077A
    • 2011-02-10
    • JP2009175501
    • 2009-07-28
    • National Institute For Materials Science独立行政法人物質・材料研究機構
    • SUZUKI HIROSHI
    • H01J27/20H01J27/16H01J37/08
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To generate a polarized ion beam using a quantum beat without using optical pumping.
      SOLUTION: This polarized ion beam generating device adopts a means comprising an ion source to generate a non-polarized ion beam, a beam transporting means to enter the non-polarized ion beam from the ion source in a target, and an ion extracting means to extract a polarized ion elastically scattered from an atom on this target surface. The target is a substance for developing magnetic vibration resulting from the quantum beat as to scattered ion intensity. This polarized ion beam generating method uses a means to irradiate the non-polarized ion beam to the target from the ion source, and extracts the elastically scattered polarized ion from the target by magnetic vibration resulting from the quantum beat of scattered ion intensity in the target.
      COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
    • 要解决的问题:在不使用光泵浦的情况下使用量子跳拍来产生极化离子束。 解决方案:该极化离子束产生装置采用包括离子源的装置以产生非极化离子束,从靶中的离子源进入非极化离子束的束传输装置和离子 提取装置,用于提取从该目标表面上的原子弹性散射的极化离子。 目标是从量子拍子产生的散射离子强度产生磁振动的物质。 该极化离子束产生方法使用从离子源向靶标照射非极化离子束的装置,并且通过由靶中的散射离子强度的量子拍子产生的磁振动从目标物提取弹性散射的极化离子 。 版权所有(C)2011,JPO&INPIT
    • 6. 发明专利
    • Electron spin polarization ion beam generation method and generation device therefor
    • 电子旋转极化离子束生成方法及其生成装置
    • JP2013029435A
    • 2013-02-07
    • JP2011166145
    • 2011-07-29
    • National Institute For Materials Science独立行政法人物質・材料研究機構
    • SUZUKI HIROSHIYAMAUCHI YASUSHIHISHIDA SHUNICHI
    • G21K1/00G01N27/62
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electron spin polarization ion beam generation method which does not use an optical pumping method, and the absolute value of spin polarization rate of which is 0.05 or larger, and a generation device therefor.SOLUTION: There is provided the electron spin polarization ion beam generation method including the processes of: generating an ion beam comprising rare gas element ions; making the ion beam incident on one surface 12a of a target 12 and emitting a scattered ion beam; and taking the scattered ion beam into an electrostatic analyzer 13, and applying an electric field to generate an electron spin polarization ion beam. When the ion beam is made incident on the one surface 12a of the target 12, a magnetic field is applied at an angle of 80° or greater and 100° or less to a scattering plane containing both the incidence direction of the ion beam and the projection direction of the scattered ion beam.
    • 要解决的问题:提供不使用光泵浦方法,其自旋极化率绝对值为0.05以上的电子自旋极化离子束产生方法及其生成装置。 解决方案:提供了电子自旋极化离子束产生方法,其包括以下过程:产生包含稀有气体元素离子的离子束; 使离子束入射到靶12的一个表面12a上并发射散射的离子束; 并将散射的离子束吸入静电分析仪13中,并施加电场以产生电子自旋极化离子束。 当离子束入射到靶12的一个表面12a上时,对包含离子束的入射方向和散射面的散射面施加80°以上且100°以下的角度的磁场, 散射离子束的投射方向。 版权所有(C)2013,JPO&INPIT