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2. 发明专利

JP2021173694A 測定装置及びその制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021173694A
公开(公告)日：2021-11-01
申请号：JP2020079379
申请日：2020-04-28
申请人：株式会社東京精密
发明人：榎本雅人
IPC分类号： G01B5/28
摘要：【課題】ワークの測定条件等の設定を簡略化し、測定を効率化することが可能な測定装置及びその制御方法を提供する。【解決手段】測定装置(10)の制御方法は、2次元コードスキャナ(300)から、ワークの測定を行うための設定内容の情報を含む設定用2次元コードをスキャンして得られた情報を取得し、設定内容に基づいて、データ処理部(200)にワークの測定のための設定を行うプレイバックファイルを作成するステップと、プレイバックファイルを読み出すためのコードを含むプレイバック用2次元コードを作成するステップと、2次元コードスキャナを用いてプレイバック用2次元コードをスキャンしたときに、プレイバックファイルを読み出してデータ処理部に対して測定のための設定を行うステップとを備える。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2018136149A 表面粗さ測定システム审中-公开
公开(公告)号：JP2018136149A
公开(公告)日：2018-08-30
申请号：JP2017029232
申请日：2017-02-20
申请人：株式会社東京精密
发明人：榎本雅人
IPC分类号： G01B21/30 , G01B5/28
摘要：【課題】ワークに伝達している振動の影響を受けることなく、正確な測定結果を得ることができる表面粗さ測定システムを提供する。【解決手段】本発明は、ワークWの粗さを測定する駆動部12の他に、ワークWの振動を測定する駆動部14を設け、駆動部12によって測定された表面粗さデータから、駆動部14によって測定された振動データを除去する処理を行う。これにより、本発明は、ワークWに伝達している振動を除去して正確な測定結果を得ることができる。【選択図】図1

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