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1. 发明专利

JP6226823B2 クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法有权
公开(公告)号：JP6226823B2
公开(公告)日：2017-11-08
申请号：JP2014121043
申请日：2014-06-12
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：吉岡信二 , 山下博教 , 前川彰
IPC分类号： G01N30/72 , G01N30/86 , G01N27/62
CPC分类号： G01N30/8658 , G01N30/72 , G01N30/8631 , G01N30/8644

2. 发明专利

JP2016001137A クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法有权
标题翻译：色谱质谱及其控制方法
公开(公告)号：JP2016001137A
公开(公告)日：2016-01-07
申请号：JP2014121043
申请日：2014-06-12
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：吉岡信二 , 山下博教 , 前川彰
IPC分类号： G01N30/72 , G01N30/86 , G01N27/62
CPC分类号： G01N27/62 , G01N30/72 , G01N30/86
摘要：【課題】測定者は、マススペクトルデータを目視しながら、SIM測定で使用する測定時間を決定しなければならない。【解決手段】イオン検出部の検出結果に基づいて、マススペクトルデータ及び1つ又は複数のマスクロマトグラムデータを生成し、生成された1つ又は複数のマスクロマトグラムデータの各ピーク波形に表れる溶出時間幅に基づいて、対応するイオン成分毎に、選択イオンモニタリングで使用する測定時間を決定する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：为了解决用于确定用于SIM测量的测量时间所需的测量器的问题，同时目视观察质谱数据。解决方案：基于质谱图数据生成质谱数据和一个或多个质谱图数据基于离子检测部分的检测结果，以及用于选择的离子监测的测定时间根据在一个或多个生成的质量色谱图数据的每个峰值波形上显示的洗脱时间宽度相对于每个相应的离子成分来确定。

3. 发明专利

JP2015082179A 分析装置の情報システム、分析装置及びユーザ端末审中-公开
标题翻译：分析仪信息系统，分析仪和用户终端
公开(公告)号：JP2015082179A
公开(公告)日：2015-04-27
申请号：JP2013219262
申请日：2013-10-22
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：山下博教 , 前川彰 , 吉岡信二 , 照井康
IPC分类号： G06F9/54 , G06Q50/10
摘要：【課題】ユーザが必要とする分析装置に由来の情報を、簡便な操作で過不足なくユーザに提示できる分析装置の情報システムを提供する。【解決手段】このため、予め決められた形式のメッセージを機械的に生成し、生成された全てのメッセージを自律的に配信する分析装置と、少なくとも1台の分析装置から非自発的に受信したメッセージがユーザ端末毎に設定された配信条件と適合するか否か個別に判定し、適合したメッセージを対応するユーザ端末に宛てて自律的に配信する少なくとも1台のサーバとで構成される分析装置の情報システムを提供する。【選択図】図6
摘要翻译：要解决的问题：提供一种分析仪信息系统，其能够以简单的操作向使用者呈现足够的用户所需的信息。解决方案：为此，提供了一种分析仪信息系统，包括：分析器，机械地生成消息并以自动分配所有生成的消息; 并且至少一个服务器单独地确定来自至少一个分析器的非自主接收的每个消息是否匹配为每个用户终端设置的分发条件，并且自动地将匹配消息分发给相应的用户终端。

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