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1. 发明专利

JP2020008335A 張力測定システム审中-公开
公开(公告)号：JP2020008335A
公开(公告)日：2020-01-16
申请号：JP2018127090
申请日：2018-07-03
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太
IPC分类号： F16H7/00 , G01L5/10
摘要：【課題】巻掛伝動装置の無端巻掛伝動部材に発生している複数の周波数の振動のうちから、無端巻掛伝動部材の固有振動数を正しく弁別して、無端巻掛伝動部材の張力を正しく測定する。【解決手段】固有振動数算出部133は、モータ21の回転速度ωが定速ω1である期間中の測定期間P1、回転速度ωが定速ω2である期間中の測定期間P2、回転速度ωが定速ω3である期間中の測定期間P3のそれぞれにおいて取得した3つの周波数スペクトルに共通してピークが表れている周波数であって、モータ21の回転周波数の逓倍でない周波数をベルト24の固有振動数f0として算定する。【選択図】図2

2. 发明专利

JP6455927B2 レーザ測定装置有权
公开(公告)号：JP6455927B2
公开(公告)日：2019-01-23
申请号：JP2015025067
申请日：2015-02-12
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太
IPC分类号： G01P3/36 , G01H9/00 , G01S17/58

3. 发明专利

JP2017049185A レーザドップラ振動計有权
公开(公告)号：JP2017049185A
公开(公告)日：2017-03-09
申请号：JP2015174126
申请日：2015-09-03
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太
IPC分类号： G01H9/00
摘要：【課題】暗振動の影響を除外し測定対象物自身の振動を計測する。【解決手段】レーザドップラ振動計1に、定盤10に固定されるスタンド8と、スタンド8に支持された基礎枠2と、計測装置3とを設け、計測装置3に信号処理部31と干渉光学系32を収容する。そして、基礎枠2に、計測装置3を弾性要素部材5と減衰要素部材6で並列に支持させ、計測装置3を暗振動から切り離したサイズモ系を形成する。干渉光学系32は、基礎枠2の内部に固定された暗振動検出用ミラー7に照射した参照光の反射光と、定盤10の上に載せ置かれた測定対象物11に照射した測定光の反射光とを干渉させてビート信号を生成し、生成されたビート信号に基づいて信号処理部31は測定対象物11の速度、加速度、変位などの動きを計測する。【選択図】図1

4. 发明专利

JP6953603B1 レーザドップラー速度計有权
公开(公告)号：JP6953603B1
公开(公告)日：2021-10-27
申请号：JP2020195875
申请日：2020-11-26
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太 , 世永薫 , 石川睦
IPC分类号： G01S17/58 , G01P3/36
摘要：【課題】大きな定速度に重畳する小さな速度変動を良好に計測する。【解決手段】第1レーザ光と、第1レーザ光と周波数fA異なる第2レーザ光を被測定物300の同一領域に照射し検出信号bを得る。検出信号bは、被測定物300の定速度成分によるドップラーシフトによる周波数fb(Dv)、被測定物300の速度変動成分Avによるドップラーシフトによる周波数fb(Av)、周波数fAを加算した周波数fb(Dv)+fb(Av)+fAの周波数を有する。ミキサ部112は、fb(Dv)+fAの周波数の発振信号を用いて、検出信号bを周波数fb(Av)の復調対象信号Stに変換する。デジタル復調器113は、復調対象信号Stの周波数fstに適合した測定レンジで周波数fstを高分解能に検出し、周波数fstを速度vに変換する。【選択図】図2

5. 发明专利

JP6393289B2 レーザドップラ速度計の校正システム及び校正方法有权
公开(公告)号：JP6393289B2
公开(公告)日：2018-09-19
申请号：JP2016061461
申请日：2016-03-25
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太 , 古川裕彦
IPC分类号： G01P21/02 , G01P3/36 , G01S17/58 , G01S7/497

6. 发明专利

JP2016176827A レーザ測定装置审中-公开
标题翻译：激光测量装置
公开(公告)号：JP2016176827A
公开(公告)日：2016-10-06
申请号：JP2015057438
申请日：2015-03-20
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太 , 山元規彰
IPC分类号： G01B11/00 , G01P3/36
摘要：【課題】可視光の照射範囲外への不可視レーザ光の照射を抑止する。【解決手段】測定用レーザ光源1が出射した測定光と、照準用レーザ光源2が出射した照準光とを、ファイバ型WDM光カプラ3で波長合成し、コリメータレンズ4に出射する。コリメータレンズ4は、入射した測定光を平行光束210に変換して、前記測定対象物に向けて出射すると共に、入射した照準光を、測定光210の平行光束と同一光軸かつ測定光の平行光束210よりも径が大きい平行光束229に変換して、前記測定対象物に向けて出射する。測定用レーザ光源1は、測定光として近赤外光レーザを出射し、照準用レーザ光源2は、照準光として可視光のレーザを出射する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：抑制不可见激光束的照射到可见光照射范围之外。解决方案：从测量激光源1发射的测量光束和从准直激光源2发射的准直光束的波长被合成通过光纤型WDM光耦合器3发射到准直透镜4.准直透镜4将入射测量光束转换成平行光束210，然后将其发射到测量对象物体，并将入射准直光束转换为平行光束229与测量光束的平行光束210具有相同的光轴，并且具有比测量光束的平行光通量210大的直径，然后将其发射到测量对象物体。测量激光源1发射作为测量光束的近红外光的激光束，并且准直激光源2发射可见光的激光束作为准直光束。图2

7. 发明专利

JP2016151541A レーザ測定装置审中-公开
标题翻译：激光测量装置
公开(公告)号：JP2016151541A
公开(公告)日：2016-08-22
申请号：JP2015030427
申请日：2015-02-19
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太 , ▲高▼寺毅
IPC分类号： G01P3/36 , G01S7/484
摘要：【課題】レーザ測定に用いるレーザ光として不可視レーザ光を用いるレーザ測定装置における安全性を向上する。【解決手段】測定用レーザ光源1が出射した測定光と、照準用レーザ光源2が出射した照準光とを、ダイクロイックミラー3で波長合成して形成した合成光を、ビームスプリッタ5で二つの合成光に分岐し、分岐した二つの合成光で異なる方向より被測定物を照射する。分岐した二つの合成光の光路を進行する照準光を検出する第1照準光検出部11と第2照準光検出部12を設け、測定用レーザ光源1の駆動の開始に先立って、照準用レーザ光源2の駆動を開始し、第1照準光検出部11と第2照準光検出部12で照準光を検出し、照準光を検出できた場合のみ測定用レーザ光源1の駆動を開始する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提高使用不可见激光的激光测量装置中激光测量中使用的激光的安全性。解决方案：通过合成从测量激光光源1发射的测量光的波长而形成的合成光，以及通过分色镜3从准直激光光源2发射的准直光通过分束器5分成两个合成光。用不同方向的两个分叉的合成光照射测量对象。提供第一准直光检测器11和第二准直光检测器12以检测沿着两个分叉合成光的光路传播的准直光。在开始驱动测量激光光源1之前，开始准直激光光源2的驱动。第一准直光检测器11和第二准直光检测器12检测各个准直光。只有当可以检测到准直光时，启动测量激光光源1的驱动。选择图1：图1

8. 发明专利

JP2016090383A レーザ測定装置及び照準光合成装置有权
标题翻译：激光测量装置和指示灯合成装置
公开(公告)号：JP2016090383A
公开(公告)日：2016-05-23
申请号：JP2014224895
申请日：2014-11-05
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太
IPC分类号： G01B11/00 , G11B7/135 , G11B7/09 , G01H9/00 , G01S17/58
摘要：【課題】測定に用いる不可視レーザ光の照射位置を正しく提示する。【解決手段】測定光学系4から出射された不可視の近赤外光である測定光は測定光用レンズ51を通過して波長合成器54に入射し、照準用レーザ光源52から出射された可視光である照準光は照準光用レンズ53通過して波長合成器54に入射する。波長合成器54は、測定光と照準光を同軸状に合成して対物レンズ61に出射し、対物レンズ61は測定光と照準光を測定対象物7の上に集光する。測定装置3は、フォーカス調整機構62を用いて対物レンズ61を移動し測定光のフォーカスを調整すると共に、色収差調整機構55を用いて、対物レンズ61の位置に応じて定まる、対物レンズ61から出射される測定光と照準光の色収差が補正される位置に照準光用レンズ53に移動する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：正确地确定用于测量的不可见激光的照射位置。解决方案：用作从测量光学系统4发射的不可见近红外光的测量光通过透镜51，光入射到波长合成器54，并且作为从瞄准激光源52发射的可见光的瞄准光通过用于视光的透镜53并入射到波长合成器54.波长同轴合成器54合成测量和瞄准光并将合成光发射到物镜61.物镜61将测量光和瞄准光会聚在测量对象7上。测量装置3使用聚焦调节机构62移动物镜61，调节焦点的测量光，并且使用色差调整机构55将瞄准镜的透镜53移动到被检测的位置根据物镜61的位置被校准，并且校正从物镜61发射的测量光和瞄准光的色差。图1

9. 发明专利

JP2021113746A レーザドップラ速度計审中-公开
公开(公告)号：JP2021113746A
公开(公告)日：2021-08-05
申请号：JP2020006638
申请日：2020-01-20
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太 , 土井健一郎
IPC分类号： G01S17/58 , G01P3/36
摘要：【課題】測定に用いる不可視光の測定位置把握をシンプルな構成の可視光を用いた照準光で実現する。【解決手段】測定用レーザ光源1が出射した不可視の測定光をビームスプリッタ3で二つのビームに分岐し、各ビームを、異なる角度で被測定物100の測定領域に照射する。照準用レーザ光源8が出射した可視の照準光は、ダイクロイックミラー6を透過し、対物レンズ5から、被測定物100の測定領域の中心が集光点となるように出射される。測定領域における測定光の反射光は、対物レンズ5を通った後、ダイクロイックミラー6で反射されて光検出器7に集光され、計測装置9は、光検出器7の検出信号のビート周波数に基づいて被測定物100の速度を測定する。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2021032734A 測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021032734A
公开(公告)日：2021-03-01
申请号：JP2019153924
申请日：2019-08-26
申请人：株式会社小野測器
发明人：大島良太
IPC分类号： G01B9/02 , G01B11/00
摘要：【課題】波長分散の影響を排して測定装置の精度を向上する。【解決手段】PM光サーキュレータ7は第2PMファイバ5から入射した波長掃引光を第4PMファイバ8に送り、第4PMファイバ8に入射した波長掃引光は偏波保持WDMカプラ9を介して第6PMファイバ11に入射する。第6PMファイバ11に入射した波長掃引光のうち、一部は、第6PMファイバ11の端面で逆方向に参照光として反射し、一部は、第6PMファイバ11からレンズ13を通って測定対象物100に測定光として出射される。測定対象物出反射した測定光の反射光は、レンズ13、第6PMファイバ11に入射し、第6PMファイバ11に入射した反射光は参照光と共に、偏波保持WDMカプラ9、PM光サーキュレータ7を介して、第7PMファイバ14に送られ、第1受光器15で反射光と参照光との干渉光が検出される。【選択図】図1

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