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1. 发明专利

JP2020156909A 光断層画像撮影装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020156909A
公开(公告)日：2020-10-01
申请号：JP2019061545
申请日：2019-03-27
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏
IPC分类号： G01N21/21 , G01N21/17 , A61B3/10
摘要：【課題】偏光感受型の光断層画像撮影装置による新たな画像診断に寄与する技術を提供する。【解決手段】光断層画像撮影装置は、偏光感受型の光断層画像撮影装置である。光断層画像撮影装置は、被検眼の断層画像を撮影する撮影部と、演算部と、を備えている。断層画像は、被検眼に第1の偏光波を照射することで撮影された第1断層画像と、被検眼に第1の偏光波とは異なる振動方向を有する第2の偏光波を照射することで撮影された第2断層画像と、を含んでいる。演算部は、第1断層画像と第2断層画像に基づいて、少なくとも被検眼の強膜及び篩状板における線維の走行態様を特定する特定処理を実行可能に構成されている。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2020130506A 光干渉断層装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020130506A
公开(公告)日：2020-08-31
申请号：JP2019026592
申请日：2019-02-18
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：牛田順一朗 , 山成正宏 , 加茂考史
IPC分类号： G01N21/17 , A61B3/10
摘要：【課題】異なる波長領域において干渉信号をサンプリングする際に、波長領域毎に適切なタイミングで干渉信号をサンプリングする。【解決手段】光干渉断層装置は、波長掃引型の光源と、測定光学系と、参照光学系と、干渉光を受光して干渉信号に変換する受光素子と、等周波数間隔でサンプルクロック信号を生成するサンプルクロック信号生成部と、サンプルクロック信号のタイミングに基づいて干渉信号をサンプリングする信号処理部と、演算部と、サンプルクロック信号と干渉信号との少なくとも一方を所定の遅延量だけ遅延させる遅延回路と、を備えている。信号処理部は、第1の波長領域において干渉信号をサンプリングすると共に第2の波長領域において干渉信号をサンプリングする。遅延回路は、第1の波長領域でサンプリングするときの第1の遅延量と、第2の波長領域でサンプリングするときの第2の遅延量とが異なるように構成されている。【選択図】図6

3. 发明专利

JP2019128180A 光断層画像撮影装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019128180A
公开(公告)日：2019-08-01
申请号：JP2018008265
申请日：2018-01-22
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏
IPC分类号： A61B3/10 , G01N21/17
摘要：【課題】生体内の動的部位を非侵襲で精度よく検出する。【解決手段】光断層画像撮影装置は、光源と、光源の光から測定光を生成すると共に生成した測定光を生体内の対象領域に照射して対象領域からの反射光を生成する測定光生成部と、光源の光から参照光を生成する参照光生成部と、対象領域からの反射光と参照光とを合波して干渉光を生成する干渉光生成部と、干渉光生成部で生成された干渉光から干渉信号を検出する干渉光検出部と、演算装置と、を備えている。演算装置は、干渉光検出部で検出された干渉信号から対象領域内の同一断面における断層画像を時系列で複数取得する第1断層画像取得処理と、時系列で取得した複数の断像画像に基づいて検出された干渉信号のエントロピーを算出する第1エントロピー算出処理と、算出された干渉信号のエントロピーに基づいて断層画像内における動的部位を特定する動的部位特定処理と、を実行可能に構成されている。【選択図】図3

4. 发明专利

JP6606800B2 偏光情報を利用した光干渉断層計有权
公开(公告)号：JP6606800B2
公开(公告)日：2019-11-20
申请号：JP2015088041
申请日：2015-04-23
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/21 , A61B3/10

5. 发明专利

JP2016202597A 偏光情報を利用した光干渉断層計审中-公开
标题翻译：利用偏振信息光学相干断层
公开(公告)号：JP2016202597A
公开(公告)日：2016-12-08
申请号：JP2015088041
申请日：2015-04-23
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/21 , A61B3/10
CPC分类号： G01B9/02083 , A61B3/0025 , A61B3/102 , A61B5/0066 , G01B9/02004 , G01B9/02027 , G01B9/02075 , G01B9/02091 , G01B2290/35 , G01B2290/70
摘要：【課題】波動関数の存在確率をジョーンズ行列の各要素の位相差の分布を推定するための複屈折の出現確率として類推した極めて斬新な手法を採用することにより、取得したジョーンズ行列の各要素の期待値の推定を行う解析処理を極めて短時間で実現し、良好な被検物の複屈折の定量解析を実施可能な光干渉断層計を提供する。【解決手段】ジョーンズ行列をベクトル化した後、拡張した行列に変換する行列拡張ステップと、拡張した行列を固有値分解して固有値と固有ベクトルを求める固有値分解ステップと、拡張された行列の固有値と固有ベクトルに基づいて取得したジョーンズ行列の固有値と固有ベクトルから被検物の偏光特性を推定する被検物偏光特性推定ステップとを備えた。【選択図】図3
摘要翻译：阿通过类推采用极其新颖技术的波函数为双折射的发生概率的存在概率来估计琼斯矩阵的每个元素的相位差的分布，所获取的琼斯矩阵的元素分析处理，来推定在非常短的时间达到了预期的值，提供一种光学相干断层扫描一个好试样的双折射能够执行定量分析。该A琼斯矩阵矢量之后，以及将所述扩展矩阵的矩阵扩展步骤，和本征值分解步骤以获得特征值和由本征值分解的特征向量被扩展矩阵，扩展矩阵的特征向量基于与估计从所述特征值和所获取的琼斯矩阵本征向量的测试对象的偏振特性的检查对象的偏振特性估计步骤。点域

6. 发明专利

JP2016114444A 光断層画像装置用サンプルクロック発生装置、および光断層画像装置有权
标题翻译：用于光学图像图像装置的样本时钟生成装置和光学图像图像装置
公开(公告)号：JP2016114444A
公开(公告)日：2016-06-23
申请号：JP2014252687
申请日：2014-12-15
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏 , 岡本圭一郎
IPC分类号： G01N21/17
摘要：【課題】サンプルクロックの周波数を逓倍化することができる光断層画像装置用サンプルクロック発生装置、および光断層画像装置を提供する。【解決手段】入力光が導かれる第1の光路121および第2の光路131と、第1の光路121で導かれる入力光の位相をシフトさせる光学位相シフタ124と、位相シフトされた入力光および第2の光路131に導かれた入力光を合成してサンプルクロック用干渉光を生成する干渉光生成部141と、サンプルクロック用干渉光を位相の異なる2つの分離光に分離する分離部151と、位相の異なる2つの分離光のうちの一方の分離光を少なくとも受光する一方の受光部161Vと、他方の分離光を少なくとも受光する他方の受光部161Hと、一方の受光部161Vおよび他方の受光部161Hから出力された信号に基づいてサンプルクロック信号を生成する信号生成部と、が設けられていることを特徴とする。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够将样本时钟信号的频率和光学断层图像装置相乘的光学断层图像装置的采样时钟产生装置。解决方案：一种用于光学断层图像装置的采样时钟产生装置，包括：：输入光被引导的第一光路121和第二光路131; 光移相器124，其移动通过第一光路121引导的输入光的相位; 干涉光产生单元141，其组合通过第二光路131引导的相移输入光和输入光，以产生用于采样时钟的干涉光; 分离单元151，其将采样时钟的干涉光分为具有不同相位的两个分离光束; 一个光接收单元161V，其接收具有不同相位的两个分离光束中的至少一个分裂光束; 接收至少另一个分割光束的另一个光接收单元161H; 信号生成单元，其基于从一个光接收单元161V和另一个光接收单元161H输出的信号生成采样时钟信号。图2

7. 发明专利

JP2016083245A 光断層撮影装置审中-公开
标题翻译：光学摄影装置
公开(公告)号：JP2016083245A
公开(公告)日：2016-05-19
申请号：JP2014218781
申请日：2014-10-28
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏
IPC分类号： A61B3/10
摘要：【課題】新たな光学系を追加することなく、光断層画像の画像劣化の主な原因である偏光モード分散(PMD)やサブピクセルシフトで生じる各ピクセルのジョーンズ行列の各要素間で生じる振幅・位相ずれを数値演算処理にて補正して、より高いSNRや画質を持つ2次元又は/及び3次元の断層画像が取得できる光断層画像撮影装置を提供すること。【解決手段】測定光路の所定位置における1つの反射面からの反射光と参照光路からの参照光とを合波してジョーンズ行列に対応したAスキャン像を取得するステップと、Aスキャン像の各ピクセルのジョーンズ行列の各要素の振幅・位相情報を取得するステップと、各ピクセルのジョーンズ行列の各要素間の相対情報を取得するステップとを備え、各要素間の相対情報を波数依存の行列と波数非依存の行列の積としてモデル化して被検物の断層画像の各ピクセルにおけるジョーンズ行列の各要素間に存在する振幅位相ずれを補正する。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供一种光学层析成像装置，其可以通过校正偏振模色散（PMD）作为光学图像劣化的主要原因来获取具有较高SNR和图像质量的二维或/和三维断层图像断层图像，以及在数学处理中每个像素的Jones矩阵的每个元素之间在子像素移位中引起的幅度/相移，而不增加新的光学系统。解决方案：光学断层摄影成像设备包括：步骤在测量光路的预定位置中多路复用来自一个反射表面的反射光和来自参考光路的参考光，并获取与Jones矩阵相对应的A扫描图像; 获取A扫描图像的每个像素的Jones矩阵的每个元素的幅度/相位信息的步骤; 以及获取每个像素的Jones矩阵的每个元素之间的相关信息的步骤。光学层析成像装置通过对每个元素之间的相关信息进行建模来校正存在于样本的断层图像的每个像素中的琼斯矩阵的每个元素之间的振幅相移，作为波数相关矩阵和波数独立矩阵之间的乘积图3

8. 发明专利

JP6810974B2 偏光情報を利用した光断層画像撮影装置有权
公开(公告)号：JP6810974B2
公开(公告)日：2021-01-13
申请号：JP2019095630
申请日：2019-05-22
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏
IPC分类号： G01N21/23 , A61B3/10 , G01N21/17

9. 发明专利

JP2020054480A 眼科装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020054480A
公开(公告)日：2020-04-09
申请号：JP2018185485
申请日：2018-09-28
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏 , 岡本圭一郎 , 莊心源
IPC分类号： A61B3/103 , A61B3/10
摘要：【課題】被検眼に対する複数種類の計測を効率良く行うことができる技術を提供する。【解決手段】眼科装置は、被検眼に照射される第1の光を出力する第1の光源と、被検眼に照射される第2の光を出力する第2の光源と、第1の光の反射光から得られる第1の干渉光に基づいて、被検眼の第1の範囲の検査を行う第1の干渉計と、第2の光の反射光から得られる第2の干渉光に基づいて、被検眼の前記第1の範囲とは異なる第2の範囲の検査を行う第2の干渉計と、を備える。第1の光の中心波長と、第2の光の中心波長が異なっている。第1の光の光路である第1光路と、第2の光の光路である第2光路の少なくとも一部が重複している。第1の範囲の検査と第2の範囲の検査とを同時に実行可能である。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2019113398A 光断層画像撮影装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019113398A
公开(公告)日：2019-07-11
申请号：JP2017246635
申请日：2017-12-22
申请人：株式会社トーメーコーポレーション
发明人：山成正宏
IPC分类号： G01B9/02 , G01N21/17
摘要：【課題】複数の信号処理部のサンプリングタイミングのずれを精度よく補正する。【解決手段】光断層画像撮影装置は、光源と、測定光生成部と、参照光生成部と、干渉光生成部と、干渉光検出部と、干渉信号から断層画像を生成する演算部と、を備える。干渉光検出部は、干渉光を干渉信号に変換する第1の検出器及び第2の検出器と、第1の検出器から出力される干渉信号をサンプリングする第1の信号処理部と、第2の検出器から出力される干渉信号をサンプリングする第2の信号処理部とを備える。第1及び第2の信号処理部のそれぞれは、当該信号処理部に外部から入力されたタイミングで前記干渉信号をサンプリングする。測定光生成部で生成される光には、第1補正光と第2補正光が含まれる。演算部は、第1補正光による第1補正信号と前記第2補正光による第2補正信号を用いて、第1及び第2の信号処理部のサンプリングタイミングのずれを補正する。【選択図】図1

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