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1. 发明专利

JP6327099B2 半導体装置有权
公开(公告)号：JP6327099B2
公开(公告)日：2018-05-23
申请号：JP2014207167
申请日：2014-10-08
申请人：株式会社デンソー
发明人：甲木知哉
IPC分类号： H02J1/00 , G01R31/00 , H02J7/00 , G01R31/28
CPC分类号： G01R19/16576 , G01R19/0084 , G01R19/16552 , G01R19/16595 , G06F1/28 , H02J1/00

2. 发明专利

JP2016170679A 半導体装置审中-公开
标题翻译：半导体器件
公开(公告)号：JP2016170679A
公开(公告)日：2016-09-23
申请号：JP2015050720
申请日：2015-03-13
申请人：株式会社デンソー
发明人：手塚弘招 , 甲木知哉
IPC分类号： G06F12/16
摘要：【課題】アドレス,データの何れの側に誤りが発生したのかを特定できる半導体装置を提供する。【解決手段】誤り検出回路4は、CPU2がメモリ3からデータを読み出す際に、メモリ3へのアクセスアドレス及び読み出しデータを検出対象ビット列として誤り検出を行う。その際に、検出対象ビットの全ビットに対応するデータ値が同一である第1検出データとの論理演算結果について付与されるデータを第1検出符号とし、アドレスビット列,データビット列の何れか一方の全ビットに対応するデータ値と、且つ他方の全ビットに対応するデータ値とが異なる第2検出データとの論理演算結果につき付与されるデータを第2検出符号として用いる。メモリ3にはCPU2がメモリ3にデータを書き込む際に第1及び第2検出符号も書き込まれ、メモリ3からデータを読み出す際に第1及び第2検出符号もメモリ3より読み出される。誤り検出回路4は、第1及び第2検出データを保持して誤り検出を行う。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够指定一方在地址和数据之间具有误差的半导体器件。解决方案：错误检测电路4执行具有访问地址和读出数据的错误检测到作为检测对象位的存储器3 当CPU2从存储器3中读出数据时，此时，应用于逻辑运算的数据在检测对象位串与具有与检测对象位的所有位相对应的数据值相同的第一检测数据之间产生被用作第一检测码，并且应用于检测对象位串与第二检测数据之间的逻辑运算结果的数据，其中与地址位串和数据位串中的任何一个的所有位对应的数据值是不同于对应于另一个的所有比特的数据值被用作第二检测码。当CPU 2将数据写入存储器3时，将第一和第二检测码写入存储器3，并且当从存储器3读出数据时，从存储器3读出第一和第二检测码。错误检测电路4通过保持第一和第二检测数据来执行错误检测。选择图示：图1

3. 发明专利

JP2016075626A 半導体装置有权
标题翻译：半导体器件
公开(公告)号：JP2016075626A
公开(公告)日：2016-05-12
申请号：JP2014207167
申请日：2014-10-08
申请人：株式会社デンソー
发明人：甲木知哉
IPC分类号： H02J1/00 , G01R31/00 , H02J7/00 , G01R31/28
CPC分类号： G01R19/16576 , G01R19/0084 , G01R19/16552 , G01R19/16595 , G06F1/28 , H02J1/00
摘要：【課題】リアルタイムでバイパスコンデンサの故障を検出する半導体装置を提供する。【解決手段】ICチップ1は、CPUなどを含んで構成される内部回路2、抵抗3、パルス発生部2aおよびスイッチ4からなる負荷電流増加回路5、リップル下限値検出回路6を備えている。電源端子VDに、直流電源7およびバイパスコンデンサ8が接続されている。内部回路2は、パルス発生部2aからパルスを出力してスイッチ4をオンさせる。電源端子VDから抵抗3を介して電流が流れて負荷電流が増加する。バイパスコンデンサ8に故障があると電圧が閾値以下に低下し、検出信号を内部回路2に出力する。これにより、内部回路2がリセットする電圧に低下させることなく故障診断を行える。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种实时检测旁路电容器的缺陷的半导体器件。解决方案：IC芯片1包括内部电路2，内部电路2包含CPU，电阻器3，负载电流增加电路5，其具有脉冲发生器2a和开关4以及纹波下限值检测电路6.电源端子VD连接到直流电源7和旁通电容器8.内部电路2从脉冲输出脉冲发电机2a并打开开关4。 A电流经由电阻器3从电源端子VD流动，使得负载电流增加。如果旁通电容器8具有缺陷，则电压降低到低于阈值，并且检测信号被输出到内部电路2.这允许在不将内部电路2的电压降低到不超过内部电路2的电压的情况下进行缺陷确定内部电路复位。图1：

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