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1. 发明专利

JP2020193899A 試験装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020193899A
公开(公告)日：2020-12-03
申请号：JP2019100390
申请日：2019-05-29
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：豊田直哉 , 秋田康樹
IPC分类号： G01R31/319 , G01R31/26 , G01R31/28
摘要：【課題】パターンプログラムの進行と対応付けて、アナログ信号の波形データを取得する。【解決手段】波形データ取得モジュール140は、DUT2に関連する電気信号をデジタル信号に変換するA/Dコンバータ152と、デジタル信号の列である波形データを格納する第1メモリユニット155と、を含む。ファンクション試験モジュール130は、試験ユニット132と第2メモリユニット134とを含む。上位コントローラ110は、波形データ取得モジュール140にサンプリング開始を指示し、その時刻t 1 を保持し、ファンクション試験モジュール130にパターンプログラムの実行開始を指示し、その時刻t 2 を保持する。第1メモリユニット155は、サンプリングの開始の時刻t 1 ’を記録する。上位コントローラ110は、第2メモリユニット134は、パターンプログラムの実行開始の時刻t 2 ’を記録する。【選択図】図11

2. 发明专利

JP2020193900A 試験装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020193900A
公开(公告)日：2020-12-03
申请号：JP2019100391
申请日：2019-05-29
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：豊田直哉 , 秋田康樹
IPC分类号： G01R31/319 , G01R31/26 , G01R31/28
摘要：【課題】テストプランの進行と対応付けて、アナログ信号の波形データを取得する。【解決手段】テストサイト210は、被試験デバイスを試験する少なくともひとつの試験モジュール130,190と、DUT2に関連する電気信号を所定のサンプリングレートでデジタル信号に変換し、デジタル信号の列である波形データを取得する波形データ取得モジュール140と、少なくともひとつの試験モジュール130,190および波形データ取得モジュール140を制御するとともに、波形データ取得モジュール140において得られた波形データを、少なくともひとつの試験モジュール130,190の動作状態と対応付けて収集する。【選択図】図15

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