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1. 发明专利

JP6727888B2 測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法有权
公开(公告)号：JP6727888B2
公开(公告)日：2020-07-22
申请号：JP2016077928
申请日：2016-04-08
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄
IPC分类号： G01R31/50 , G01D7/08

2. 发明专利

JP2018025430A 測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018025430A
公开(公告)日：2018-02-15
申请号：JP2016156328
申请日：2016-08-09
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄
IPC分类号： G01R31/02
摘要：【課題】各被検査基板における各導体路の不良の程度を確実かつ容易に把握可能とする。【解決手段】複数の導体パターン(導体路)が設けられた同種の複数枚の被検査基板を対象とする測定処理によって測定された測定値に基づき、N枚の被検査基板における各導体パターンの不良の程度を各導体パターン毎に特定可能に測定結果を視覚的に報知する際に、不良の程度を特定可能な「予め規定された値」を各測定値に基づいて各導体パターン毎に演算すると共に、各被検査基板における各導体パターンの位置に応じて配置された各パターン像Glの「色相、明度および彩度のうちの予め規定された1つ」を「予め規定された値」に対応させて変更することで報知用画像G4のデータを生成し、生成したデータの被検査基板像G1aに基づいて各導体パターン毎の「予め規定された値」の大きさを報知する。【選択図】図6

3. 发明专利

JP2019035587A 基板検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019035587A
公开(公告)日：2019-03-07
申请号：JP2017155093
申请日：2017-08-10
申请人：日置電機株式会社
发明人：村山林太郎 , 久保田雄
IPC分类号： G01R31/28 , H05K3/00 , G01R31/02
摘要：【課題】導体パターンにプローブが正常に接触しているか否かを好適に判別可能な判別用基準値を容易に生成する。【解決手段】パターンにプローブが接触した状態となる第1の位置を接触位置とする第2の移動処理および測定処理を実行すると共に(ステップ21)測定された被測定量を第1の値として取得する処理Aを実行し(ステップ25)、パターンにプローブが非接触の状態となる第2の位置を接触位置とする第1の移動処理(ステップ26)および撮像処理(ステップ26)を実行すると共に撮像データの画像を表示させ(ステップ27)、画像に基づいて特定される接触位置が非接触の状態となる位置であると確認されたときに(ステップ28)第2の位置を接触位置とする第2の移動処理および測定処理を実行すると共に測定された被測定量を第2の値として取得する処理Bを実行し(ステップ29)、両値に基づいて判別用基準値を生成する(ステップ30)。【選択図】図3

4. 发明专利

JP2017026407A 回路基板検査装置およびコンタクトチェック方法审中-公开
标题翻译：电路板检查装置和接触检查方法
公开(公告)号：JP2017026407A
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015143854
申请日：2015-07-21
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄
IPC分类号： G01R31/02
摘要：【課題】一方の基板面をフライングプローブで検査し、他方の基板面をプレスジグ型プローブで検査する複合型の回路基板検査装置で、コンタクトチェックを短時間で行う。【解決手段】両面にビアホール導体等を介して導通しているパッド2b,3c,3dを有するパターンを代表パターンとして設定し、コンタクトチェックを行うにあたって、代表パターンの一方の基板面1a側のパッド2bにフライングプローブ21を接触させるとともに、プレスジグ側のプローブ31a〜31eを他方の基板面1b側のパッド3a〜3eに接触させてから、フライングプローブ21と、プレスジグ側のプローブ31a,31b,31eとの間の静電容量を測定し、その静電容量が所定の閾値以下の場合には、その箇所を接触不良と判定してコンタクトチェックを終了し、接触不良でない場合には、続いてフライングプローブ21と、プローブ31c,31dとの間で導通検査を行う。【選択図】図1
摘要翻译：甲一个基板表面检查用探针飞行，用于检查在另一方的基板表面的复合类型的电路板检查装置是Puresujigu探针进行在短时间内接触检查。被电通过通孔导体连接的两侧等，3c和设置具有3D作为代表图案的图案，在执行接触检查，在代表图案键盘2b的一个基板表面1a侧甲键盘2b 与飞行探头21从图31A〜31E上的焊盘3a的另一基板表面1b侧的探针的Puresujigu侧接触到3 E，A飞行探头21，探头31a的Puresujigu侧，31b和31e上接触配合之间测量，如果该电容小于预定阈值，并且终止所述接触检查，确定在与不良接触的位置，如果不是有缺陷的接触，然后飞行探头21的电容的情况下，执行所述探针31C之间的连续性测试，31d上。点域1

5. 发明专利

JP2017187298A 測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017187298A
公开(公告)日：2017-10-12
申请号：JP2016074081
申请日：2016-04-01
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄
IPC分类号： G01R31/02 , H05K3/00 , G01D7/08
摘要：【課題】被検査基板におけるどの位置の導体路にどの程度の不良が生じているかを容易に把握可能とする。【解決手段】複数の導体路が設けられた被検査基板における各導体路毎の基準値が記録された基準値データ、および被検査基板を対象とする測定処理によって測定された各導体路毎の測定値が記録された測定値データに基づき、各導体路の良否を特定可能に測定結果を視覚的に報知する際に、各導体路の良否の程度を特定可能な特定用の値を基準値および測定値に基づいて演算すると共に、被検査基板における各導体路の位置に応じて各導体路を示す複数の導体路像Glが配置された被検査基板像G1aの基板画像データを使用して被検査基板像G1aにおける各導体路像Glの色相、明度および彩度のうちの1つを特定用の値に対応させて変更することで報知用画像G4のデータを生成し、その報知用画像G4によって各導体路についての測定結果を報知する。【選択図】図6

6. 发明专利

JP2017101947A 基板検査装置および基板検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017101947A
公开(公告)日：2017-06-08
申请号：JP2015233186
申请日：2015-11-30
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄 , 田中裕士
IPC分类号： G01R31/28 , H05K3/00 , G01R31/02
摘要：【課題】導体パターンのプロービングポイントに対するプローブの接触状態を正確に判定する。【解決手段】導体パターンと電極2aとの間の静電容量の値を測定する測定部4と、導体パターン上のプロービングポイントに対するプロービングが実行された際に測定された静電容量の値がしきい値Ct以上のときにプローブの接触状態を良好と判定しその状態において測定された静電容量の値と基準値とを比較して導体パターンの良否を検査する処理部6とを備え、処理部6は、一対のプロービングポイントにプローブ31がそれぞれプロービングされている状態において各プローブ31間の導通状態を判定する導通状態判定処理において導通状態が良好と判定したときに導体パターンと電極2aとの間の静電容量の値を測定部4に測定させる処理を、基板に設けられているすべての導体パターンについて実行し、最も小さい静電容量の値を基に決定した値をしきい値Ctに設定する。【選択図】図1

7. 发明专利

JP6727981B2 測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法有权
公开(公告)号：JP6727981B2
公开(公告)日：2020-07-22
申请号：JP2016156328
申请日：2016-08-09
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄
IPC分类号： G01R31/58

8. 发明专利

JP6679394B2 測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法有权
公开(公告)号：JP6679394B2
公开(公告)日：2020-04-15
申请号：JP2016080103
申请日：2016-04-13
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄
IPC分类号： G01R31/50

9. 发明专利

JP2017096736A 基板検査装置および基板検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017096736A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：JP2015228360
申请日：2015-11-24
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄 , 田中裕士
IPC分类号： H05K3/00 , G01R31/02
摘要：【課題】検査効率を向上させる。【解決手段】基板の一方の面の8個の導体パターンPの一部を第1群として高電位とさせると共に他のすべての導体パターンPを第2群として低電位とさせて各導体パターンP間の絶縁状態を検査する第1絶縁検査を各群として設定する導体パターンPの組み合わせを変更しつつ3回実行する第1処理と、基板の他方の面の3個の導体パターンPの1つを高電位とさせると共に8個の導体パターンPのすべてを低電位とさせて各導体パターンP間の絶縁状態を検査する第2絶縁検査を導体パターンPを変更しつつ3個の導体パターンPのすべてについて実行する第2処理と、3個の導体パターンPの1つを高電位とさせると共に他の1つの導体パターンPを低電位とさせて2つの導体パターンP間の絶縁状態を検査する第3絶縁検査を、2つの導体パターンPのすべての組み合わせについて実行する第3処理とを行う。【選択図】図7

10. 发明专利

JP6739967B2 測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法有权
公开(公告)号：JP6739967B2
公开(公告)日：2020-08-12
申请号：JP2016074081
申请日：2016-04-01
申请人：日置電機株式会社
发明人：久保田雄
IPC分类号： G01R31/50 , H05K3/00 , G01D7/08

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