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1. 发明专利

JP6603612B2 微粒子センサ有权
公开(公告)号：JP6603612B2
公开(公告)日：2019-11-06
申请号：JP2016090180
申请日：2016-04-28
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：村瀬裕和 , 杉山武史 , 松岡俊也
IPC分类号： G01N27/62 , G01N27/68

2. 发明专利

JP6502774B2 微粒子センサ有权
公开(公告)号：JP6502774B2
公开(公告)日：2019-04-17
申请号：JP2015142703
申请日：2015-07-17
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：杉山武史 , 村瀬裕和 , 松岡俊也
IPC分类号： G01N15/06 , G01N27/68

3. 发明专利

JP6397686B2 微粒子センサ有权
公开(公告)号：JP6397686B2
公开(公告)日：2018-09-26
申请号：JP2014160426
申请日：2014-08-06
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：杉山武史 , 本村雅幸 , 大澤敬正 , 村瀬裕和
IPC分类号： G01N27/00 , G01N15/06

4. 发明专利

JP2017211239A 微粒子センサ审中-公开
公开(公告)号：JP2017211239A
公开(公告)日：2017-11-30
申请号：JP2016103466
申请日：2016-05-24
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：村瀬裕和 , 杉山武史 , 松岡俊也
IPC分类号： G01N27/60 , G01N15/06
CPC分类号： G01N27/70 , F01N11/007 , G01N15/0656 , G01N33/0036 , F01N2560/05 , F01N2560/12 , G01N2015/0046
摘要：【課題】浮遊イオンに対してガス取入管に向かう斥力を与えてガス取入管による浮遊イオンの捕集を補助する補助電極体を設けることなく、ガス排出口を通じてガス取入管の内部から外部に放出される浮遊イオンの量を低減することができる微粒子センサを提供する。【解決手段】微粒子センサ10は、ガス取入管45に接続されて捕集電位とされると共に、ガス取入管45の外部からガス排出口45Oを通じて放電電極体110の先端110sが視認できないように、ガス取入管45の内部のうち放電電極体110の先端110sとガス排出口45Oとの間に配置された捕集部材40を有する。【選択図】図10

5. 发明专利

JP2016205952A 微粒子検知システム有权
标题翻译：颗粒检测系统
公开(公告)号：JP2016205952A
公开(公告)日：2016-12-08
申请号：JP2015086746
申请日：2015-04-21
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：杉山武史 , 本村雅幸
IPC分类号： F02M35/024 , G01N15/06
摘要：【課題】微粒子センサに届く被測定ガスの温度が第1温度以上の高温になった場合でも、第1放電電極(あるいは第1放電電極と同電位の部材)と第2放電電極との間においてスパーク放電(絶縁体表面を経由したスパーク放電も含む)を生じ難くすることができる微粒子検知システムを提供する。【解決手段】制御装置200は、判定部220において、微粒子センサ10に届く被測定ガス(排気ガスEG)の温度が第1温度以上になると予測できる予測条件が成立した、及び、微粒子センサ10に届いた被測定ガス(排気ガスEG)の温度が第1温度以上である、のうち少なくともいずれかの判定がなされた場合、放電電圧出力部210に対し、放電電圧出力部210において出力する電圧を、第1電圧よりも低い第2電圧に低減させる指示をする電圧低減指示部230を備える。【選択図】図4
摘要翻译：甲即使当测量气体的温度达到所述粒子传感器已达到很高的温度等于或高于所述第一温度，所述第一放电电极（或第一放电电极和所述部件的相同的电势）和第二放电电极之间提供精细检测系统能够几乎不发生火花放电（包括通过绝缘体表面火花放电）。控制单元200，判定单元220，预测条件是温度可以预期比测量气体的第一温度更到达粒子传感器10（废气EG）被满足，并且，在细颗粒传感器10 如果到达测量气体（废气EG）的温度高于或等于所述第一温度时，所作的确定中的至少一个，相对于放电电压输出单元210，在放电电压输出单元210的电压输出包括电压降低指令部分230指令，以减少所述第二电压比所述第一电压低。点域4

6. 发明专利

JP5829556B2 微粒子検知システム有权
公开(公告)号：JP5829556B2
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：JP2012059112
申请日：2012-03-15
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：本村雅幸 , 杉山武史 , 田島佳祐 , 松岡俊也 , 横井等
IPC分类号： G01N27/60 , G01N15/06
CPC分类号： F01N11/00 , G01M15/102 , G01N15/0656 , G01N27/68 , F01N2560/05 , G01N2015/0046 , G01R31/025

7. 发明专利

JP2015163897A 微粒子検知システム有权
标题翻译：精细粒子检测系统
公开(公告)号：JP2015163897A
公开(公告)日：2015-09-10
申请号：JP2015089578
申请日：2015-04-24
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：本村雅幸 , 杉山武史 , 田島佳祐 , 松岡俊也 , 横井等
IPC分类号： G01N15/06
摘要：【課題】適切に微粒子の量を検知できる場合に、その検知を行う微粒子検知システムを提供する。【解決手段】被測定ガス中の微粒子の量を検知する微粒子検知システム1は、排気管に装着される検知部10、検知部を駆動する駆動回路210,240、駆動回路を制御する駆動制御部を備える。検知部は、第1電位とされる第1電位部材31,12,13、第2電位とされる第2電位部材14,51,53、及び、第1電位部材と第2電位部材との間に介在して、両者を電気的に絶縁する絶縁部材121,77を有する。システムは、第1電位部材と第2電位部材との間の絶縁性を検査する絶縁性検査手段215,245を備え、駆動制御部は、絶縁性検査手段で検査した絶縁性が高低により、駆動回路による検知部の駆動の可否を判断する駆動可否判断手段を有する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供能够适当地检测微粒量的微粒检测系统。解决方案：用于检测被测量气体中包含的微粒量的微粒检测系统1包括：检测部10 附着在废气中; 用于驱动检测部分10的驱动电路210,240; 以及用于控制驱动电路的驱动控制部。检测部具有：处于第一电位的第一电位部件31,12,13; 处于第二电位的第二电位部件14,51,53; 以及插入在第一电位部件和第二电位部件之间并进行电绝缘的绝缘部件121,77。该系统还包括绝缘检查装置215,245，用于检查第一电位部件与第二电位部件之间的绝缘，驱动控制部分包括用于根据驱动电路确定由驱动电路执行的检测部件的驱动适合性的驱动器合格确定装置由绝缘检查装置检查的绝缘度。

8. 发明专利

JP2015129712A 微粒子センサ有权
标题翻译：颗粒传感器
公开(公告)号：JP2015129712A
公开(公告)日：2015-07-16
申请号：JP2014001921
申请日：2014-01-08
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：杉山武史 , 本村雅幸 , 大澤敬正 , 田島佳祐 , 村瀬裕和 , 松岡俊也
IPC分类号： G01N27/60
摘要：【課題】放電電極に導通するパッドと他のパッドとの間に火花放電が生じるのを抑制した微粒子センサを提供する。【解決手段】気中放電によりイオンを生成するイオン源と、イオン源の周囲に配置されて基準電位とされる基準電位部材とを備え、生成したイオンを用いて、被測定ガス中の微粒子を検知する微粒子センサは、イオン源が、セラミック体と、放電電極体と、放電電位とされる放電電位パッドと、別電位とされる別電位パッドとを有するセラミック構造体100を備え、放電電位パッド及びこれに接触する放電電位端子73と、別電位パッド及びこれに接触する別電位端子75との間の、セラミック体の表面に沿ったセラミック体沿面距離、及びこれらを包囲するセパレータ71,72の表面に沿ったセパレータ沿面距離L2が、いずれも火花放電が生じない大きさである形態及び配置とされてなる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种特定的传感器，其中抑制了与放电电极和另一个焊盘之间具有导电性的焊盘之间的火花放电的发生。解决方案：装备有用于通过设置在离子源周围的基准电位部件，作为基准电位，通过使用产生的离子来检测待测气体中的微粒，使离子源设置有陶瓷结构体100，该陶瓷结构体100具有陶瓷放电电极，放电电位焊盘作为放电电位，另一个电位焊盘成为另一个电位，沿着陶瓷体的表面之间的陶瓷体爬电距离在放电电位焊盘和放电电位端子73之间与其接触，另一个可能的垫和与其接触的另一个潜在端子75和隔板爬电距离 e L2沿着分隔件71,72的表面，包围上述的没有发生火花放电的尺寸。

9. 发明专利

JP6838835B2 微粒子検知システム有权
公开(公告)号：JP6838835B2
公开(公告)日：2021-03-03
申请号：JP2016225321
申请日：2016-11-18
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：杉山武史 , 村瀬裕和
IPC分类号： G01N27/60 , G01N15/06

10. 发明专利

JP2019168331A 微粒子検出装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019168331A
公开(公告)日：2019-10-03
申请号：JP2018056408
申请日：2018-03-23
申请人：日本特殊陶業株式会社
发明人：杉山武史
IPC分类号： G01N27/68 , G01N15/06
摘要：【課題】微粒子センサの検出性能の一時的な低下を検出する。【解決手段】排気管内の排気ガスに含まれる微粒子の量を検出する微粒子センサを制御する微粒子検出装置は、算出部と、累積部と、異常判断部とを備える。算出部は、予め設定された単位測定時間が経過する毎に、帯電微粒子に基づいて流れる信号電流の値または信号電流を用いて微粒子の量に換算した換算値を算出するように構成される。累積部は、信号電流の値または換算値を累積した累積値を算出するように構成される。異常判断部は、単位測定時間よりも長くなるように設定された単位累積時間における累積値の変化量が予め設定された異常判定値より大きいか否かを判断し、変化量が異常判定値より大きい場合に、検出部の検出性能が異常であると判断するように構成される。【選択図】図11

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