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1. 发明专利

JP2018059169A 低合金鋼审中-公开
公开(公告)号：JP2018059169A
公开(公告)日：2018-04-12
申请号：JP2016198789
申请日：2016-10-07
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：大村朋彦 , 荒井勇次 , 富松宏太
IPC分类号： C22C38/54 , C22C38/00
摘要：【課題】耐水素脆化特性に優れた低合金鋼の提供【解決手段】質量%で、C:0.01%以下と、Si:0.05〜1.0%およびAl:0.01〜0.10%の両方またはいずれか一方と、P:0.025%以下、S:0.010%以下、O:0.005%以下、N:0.008%以下、Ni:0〜5.0%、Mo:0〜5.0%、V:0〜5.0%、W:0〜5.0%、Co:0〜3.0%、残部:Feおよび不純物とである化学組成を有し、必要に応じてその他の任意添加元素を含み、Fn1(=Ni+0.5Mo+V+0.25W+Co(質量%))が0.5以上であり、Fn2(=Ni+0.5Mo+V+0.25W+Co(固溶分の質量%))が0.5以上である、低合金鋼。【選択図】なし

2. 发明专利

JP2019074467A 試料解析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019074467A
公开(公告)日：2019-05-16
申请号：JP2017201942
申请日：2017-10-18
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：小林憲司 , 富松宏太 , 大村朋彦
IPC分类号： G01N23/2251 , G01N23/225
摘要：【課題】試料中に水素を導入しながら、電子線装置を用いて、試料表面を高分解能かつ経時的に解析することが可能な試料解析方法を提供する。【解決手段】試料11の表面11aに電子線を入射し、表面11aから放出される電子およびX線から選択される1種以上を検出する電子線装置100を用いた試料の解析方法であって、電子線装置100の内部において、表面11aに電子線を入射する工程と、表面11bを水素含有雰囲気に曝す工程と、を備える、試料解析方法。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2017223639A 水素脆性評価装置および水素脆性評価方法ならびにそれに用いられる試験片审中-公开
公开(公告)号：JP2017223639A
公开(公告)日：2017-12-21
申请号：JP2016243898
申请日：2016-12-16
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：富松宏太
IPC分类号： G01N17/00 , G01N3/00
摘要：【課題】ミクロ組織界面の剥離強度および剥離寿命に及ぼす水素の影響を評価することが可能な水素脆性評価装置および水素脆性評価方法ならびにそれに用いられる試験片を提供する。【解決手段】Y方向に延びる微小片持ち梁10が形成された試験片1の水素脆化特性を評価する装置100であって、試験片1は、微小片持ち梁10の固定端10aと自由端10bとの間を通り、かつ、Y方向に略垂直なミクロ組織界面1bを少なくとも1つ有し、微小片持ち梁10は、ミクロ組織界面1bのうちの1つより自由端10b側に、1つのミクロ組織界面1b側を向く係止面10cを有し、電解液槽2と、対極3と、外部電源4と、係止面10cに対して、Y方向と略平行な方向に荷重を負荷する探針5と、探針5の変位および荷重を測定する測定部6と、を備える、水素脆性評価装置。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2017096887A 水素脆性評価装置および水素脆性評価方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017096887A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：JP2015232168
申请日：2015-11-27
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：富松宏太 , 大村朋彦 , 丸山直紀 , 川田光 , 網野岳文
IPC分类号： G01N17/00 , G01N3/20
摘要：【課題】ミクロ組織界面の剥離強度に及ぼす水素の影響を評価することが可能な水素脆性評価装置および水素脆性評価方法を提供する。【解決手段】Y方向に延びる微小片持ち梁10が形成された試験片1の水素脆化特性を評価する装置100であって、試験片1は、微小片持ち梁10の固定端10aと自由端10bとの間を通るミクロ組織界面1bを1つのみ有し、ミクロ組織界面1bがY方向に略垂直であり、微小片持ち梁10は、試験片1の表面1aに形成された第1面10cと、第1面10cに略垂直で、かつ、Y方向に略平行な第2面10dとを有し、電解液槽2と、対極3と、外部電源4と、第2面10dのミクロ組織界面1bより自由端10b側に、第2面10dと略垂直な方向に荷重を負荷する圧子5と、圧子5の変位および荷重を測定する測定部6と、を備える、水素脆性評価装置。【選択図】図1

5. 发明专利

JP2019045411A 試料解析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019045411A
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：JP2017170994
申请日：2017-09-06
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：富松宏太 , 大村朋彦 , 小林憲司 , 西山佳孝
IPC分类号： G01N23/2252 , G01N23/2251
摘要：【課題】試料中に水素を導入するとともに応力を負荷した状態で、電子線装置を用いて、試料表面を高分解能かつ経時的に解析することが可能な試料解析方法を提供する。【解決手段】試料11の表面11aに電子線を入射し、表面11aから放出される電子およびX線から選択される1種以上を検出する電子線装置100を用いた試料の解析方法であって、電子線装置100の内部において、表面11aが水素含有雰囲気に曝された状態で、表面11aに電子線を入射する工程と、試料11に応力を負荷する工程と、を備える、試料解析方法。【選択図】図1

6. 发明专利

JP2017037054A 水素脆性評価装置および水素脆性評価方法审中-公开
标题翻译：氢脆评价装置和氢脆评价方法
公开(公告)号：JP2017037054A
公开(公告)日：2017-02-16
申请号：JP2015239143
申请日：2015-12-08
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：富松宏太 , 丸山直紀 , 川田光 , 網野岳文 , 大村朋彦
IPC分类号： G01N17/02 , G01N3/20
摘要：【課題】ミクロ組織界面の剥離強度に及ぼす水素の影響を評価することが可能な水素脆性評価装置および水素脆性評価方法を提供する。【解決手段】固定端から自由端に向かって延びる微小片持ち梁10が形成された試験片1は、微小片持ち梁10の固定端と自由端との間を通るミクロ組織界面を1つのみ有し、ミクロ組織界面が固定端から自由端に向かって延びる方向に略垂直であり、試験片1の表面1aに形成された上面を有する微小片持ち梁10を電解液20に浸漬する電解液槽2と、電解液20に浸漬される対極3と、試験片1と対極3との間に電位差を生じさせる外部電源4と、上面のミクロ組織界面より自由端側に、上面と略垂直な方向に荷重を負荷する圧子5と、圧子5の変位および荷重を測定する測定部6と、を備える。【選択図】図1
摘要翻译：公开的是提供一种氢脆评价装置和抗氢脆的评价方法能够评估氢对微结构界面的剥离强度的影响的。的试验片1的微悬臂10形成延伸朝向从固定端的自由端，仅一个微结构表面上的固定端和微悬臂梁10的自由端之间通过一基本上垂直于其中微结构表面朝向从固定端的自由端延伸的方向，所述电解质具有浸渍在电解液20形成在试验片1的表面1a的上表面的微悬臂梁10 和浴2，对电极3浸渍在电解液20中，外部电源4来产生试验片1和对置电极3，上表面的微结构表面，上表面和基本垂直的自由端侧之间的电势差它包括一个压头5向负载的方向上，用于测量位移和压头5的负荷的测量单元6。点域1

7. 发明专利

JP2019074469A 試料解析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019074469A
公开(公告)日：2019-05-16
申请号：JP2017201944
申请日：2017-10-18
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：富松宏太 , 大村朋彦 , 小林憲司 , 西山佳孝
IPC分类号： G01N23/2252 , G01N23/2202 , G01N23/2251
摘要：【課題】試料中に水素を導入しながら、電子線装置を用いて、試料表面を高分解能かつ経時的に解析することが可能な試料解析方法を提供する。【解決手段】試料11の表面11aに電子線を入射し、表面11aから放出される電子およびX線から選択される1種以上を検出する電子線装置100を用いた試料の解析方法であって、表面11aに電子線を入射する工程と、表面11aに水素イオンビームを照射する工程と、を備える、試料解析方法。【選択図】図1

8. 发明专利

JP2019074468A 試料解析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019074468A
公开(公告)日：2019-05-16
申请号：JP2017201943
申请日：2017-10-18
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：富松宏太 , 大村朋彦 , 小林憲司 , 西山佳孝
IPC分类号： G01N23/2252 , G01N23/2202 , G01N23/2251
摘要：【課題】試料中に水素を導入しながら、電子線装置を用いて、試料表面を高分解能かつ経時的に解析することが可能な試料解析方法を提供する。【解決手段】試料11の表面11aに電子線を入射し、表面11aから放出される電子およびX線から選択される1種以上を検出する電子線装置100を用いた試料の解析方法であって、表面11aに電子線を入射する工程と、電子線装置100の内部において、表面11aが水素含有雰囲気に曝された状態で、試料11を陰極とし、電子線装置100の内部に設けられた電極16と表面11aとの間でグロー放電を発生させる工程と、を備える、試料解析方法。【選択図】図1

9. 发明专利

JP2019045410A 試料解析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019045410A
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：JP2017170993
申请日：2017-09-06
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：小林憲司 , 富松宏太 , 大村朋彦
IPC分类号： G01N23/2252
摘要：【課題】試料中に水素を導入しながら、電子線装置を用いて、試料表面を高分解能かつ経時的に解析することが可能な試料解析方法を提供する。【解決手段】試料11の表面11aに電子線を入射し、表面11aから放出される電子およびX線から選択される1種以上を検出する電子線装置100を用いた試料の解析方法であって、電子線装置100には、電子およびX線が透過可能な透過窓10aを有しかつ気体を密封する筐体10bが設けられ、筐体10bの内部において、表面11aが水素含有雰囲気に曝された状態で、筐体10bの外部から透過窓10aを通して、表面11aに電子線を入射する工程、を備える、試料解析方法。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2019045409A 試料解析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019045409A
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：JP2017170992
申请日：2017-09-06
申请人：新日鐵住金株式会社
发明人：富松宏太 , 大村朋彦 , 小林憲司 , 西山佳孝
IPC分类号： G01N23/2252 , G01N23/2251
摘要：【課題】試料中に水素を導入しながら、電子線装置を用いて、試料表面を高分解能かつ経時的に解析することが可能な試料解析方法を提供する。【解決手段】試料11の表面11aに電子線を入射し、表面11aから放出される電子およびX線から選択される1種以上を検出する電子線装置100を用いた試料の解析方法であって、電子線装置100の内部において、表面11aが水素含有雰囲気に曝された状態で、表面11aに電子線を入射する工程を備える、試料解析方法。【選択図】図1

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