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    • 10. 发明专利
    • 半導体装置およびその製造方法
    • 半导体器件及其制造方法
    • JP2016157844A
    • 2016-09-01
    • JP2015035373
    • 2015-02-25
    • 株式会社デンソー国立大学法人東北大学
    • 鈴木 拓浅海 一志小柳 光正福島 誉史李 康旭
    • H01L25/065H01L25/07H01L25/18H01L21/301H01L21/60
    • 【課題】チップを高精度に個片化するためのプロセス時間の短縮化が図れ、かつ、アライメント精度の向上を図ることを可能とする。 【解決手段】上チップ10のうち下チップ20側に向けられる裏面12の外周を1周囲む溝部13を形成し、その内側の接続面12aが高精度に寸法決めされるようにす。下チップ20に構成される親水領域および疎水領域の形状や寸法は露光時のマスクによって一義的に決まり、高精度に寸法決めたものとなる。したがって、高精度に寸法決めされた下チップ20の親水領域に水滴30が塗布された状態になるため、接続面12aが高精度に寸法決めされていれば、水滴30上に上チップ10を搭載したときに、上チップ10が下チップ20に対して高精度に位置決めがなされる。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:为了实现高精度切割芯片的处理时间的减少,并且提高对准精度。解决方案:在半导体器件及其制造方法中,槽13完全围绕 面对下芯片20的上芯片10的后表面12和槽13的内侧上的连接面12a的尺寸精度高。 在下部芯片20中形成的亲水区域和疏水区域的形状和尺寸通过掩模在曝光时明确地确定,以高精度尺寸。 因此,由于高精度尺寸的下芯片20的亲水区域达到涂覆有水滴30的状态,所以当连接面12a的尺寸精度高且上芯片10安装在水滴上时 如图30所示,上部芯片10以高精度对准下部芯片20.选择的图示:图1