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1. 发明专利

JP2018195512A 有機EL素子审中-公开
公开(公告)号：JP2018195512A
公开(公告)日：2018-12-06
申请号：JP2017100081
申请日：2017-05-19
申请人：国立大学法人東京工業大学 , AGC株式会社 , 株式会社カネカ
发明人：細野秀雄 , 金正煥 , 宮川直通 , 中村伸宏 , 渡邉暁 , 永井直美 , 苗偉
IPC分类号： H01L51/50 , H05B33/28 , H01L27/32 , H05B33/26
摘要：【課題】透明電極として用いるITO層に表面研磨処理を施さなくても、かつ、上記ITO層と金属酸化物層との間に介在層を形成しなくても、高い製品歩留まりで製造することができる有機ELを提供する。【解決手段】本発明に係る有機EL素子は、ITO層を含む陽極層と、陰極層と、該陽極層と該陰極層との間に挟持された有機機能層とを備え、該有機EL素子は、該ITO層と接して、非晶質金属酸化物薄膜層を備え、該非晶質金属酸化物薄膜層と接して、かつ、該有機機能層の一部として、正孔注入層を備え、該非晶質金属酸化物薄膜層は、亜鉛(Zn)、ケイ素(Si)、及び酸素(O)を含み、Zn/(Zn+Si)の原子数比が0.30〜0.95である。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2017054735A 有機ELパネルの製造方法、及び有機EL素子形成用基板の検査装置、並びに当該基板の検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017054735A
公开(公告)日：2017-03-16
申请号：JP2015178819
申请日：2015-09-10
申请人：株式会社カネカ
发明人：苗偉
IPC分类号： H01L51/50 , H05B33/02 , H05B33/28 , H05B33/22 , H05B33/10
摘要：【課題】有機EL素子形成用基板について、製品パネルに含まれる製品有機EL素子の形成前に、不良品の基板を高精度で除外可能な検査工程を含む有機ELパネルの製造方法を提供する。【解決手段】有機ELパネルの製造方法は、順に、プローブ用有機EL素子33を含む基板検査用プローブ3を用いて検査する基板検査工程、及び、素子形成工程を含む。基板検査用プローブ3は、有機EL素子形成用基板2の素子形成面に接触した状態で検査に供せられ、かつ、素子形成面側から、透光性屈折率調整層31、透光性絶縁層32、及び該プローブ用有機EL素子33を含む。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2021068603A 白色発光有機ELパネル审中-公开
公开(公告)号：JP2021068603A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：JP2019193324
申请日：2019-10-24
申请人：株式会社カネカ
发明人：苗偉 , 永井直美
IPC分类号： H01L51/50 , H05B33/12
摘要：【課題】効率、輝度、演色性が高く、かつ、長寿命で、しかも、安価製造可能な白色発光有機ELパネルを提供すること。【解決手段】本発明の白色発光有機ELパネルは、発光面から裏面に向かい順に、透光性基材、透光性陽極層、発光機能層、及び反射性陰極層を含み、発光機能層が順に、短波長蛍光発光ユニット、接続層、及び、中長波長燐光発光ユニットを含み、該中長波長燐光発光ユニットの発光スペクトルの中波長域の発光の少なくとも一部が、該中長波長燐光発光ユニットにおける中波長蛍光に由来し、かつ、該中波長蛍光が、該中長波長燐光発光ユニットにおける励起状態であって、該短波長蛍光発光ユニットの発光スペクトルの短波長光により励起された励起状態からの基底状態への遷移に起因する光であることを特徴とする。【選択図】図7

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