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1. 发明专利

JP5506405B2 Induction heating cooker 有权
公开(公告)号：JP5506405B2
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：JP2010000177
申请日：2010-01-04
申请人：三菱電機株式会社 , 三菱電機ホーム機器株式会社
发明人：恵美子倉田 , 利郎中島 , 徹岡 , 和彦鷲見 , 和裕亀岡
IPC分类号： H05B6/12
CPC分类号： H05B6/062 , H05B2213/07

2. 发明专利

JP5506406B2 Induction heating cooker 有权
公开(公告)号：JP5506406B2
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：JP2010000178
申请日：2010-01-04
申请人：三菱電機株式会社 , 三菱電機ホーム機器株式会社
发明人：恵美子倉田 , 利郎中島 , 徹岡 , 和彦鷲見 , 和裕亀岡
IPC分类号： H05B6/12
CPC分类号： H05B6/062 , H05B2213/07

3. 发明专利

JPWO2014132435A1 エレベータのかご位置検出装置有权
标题翻译：用于电梯轿厢位置检测装置
公开(公告)号：JPWO2014132435A1
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015502688
申请日：2013-03-01
申请人：三菱電機株式会社
发明人：甚井上 , 甚井上 , 恵美子倉田 , 恵美子倉田 , 佳正渡邊 , 佳正渡邊 , 白附　晶英 , 晶英白附 , 西沢　博志 , 博志西沢 , 仲嶋　一 , 一仲嶋 , 雅洋石川 , 雅洋石川
IPC分类号： B66B3/02
CPC分类号： B66B1/3492 , G01D5/20 , G01D5/2053 , H03K2017/9706
摘要：エレベータのかご位置検出装置において、磁界発生器は識別用部材に渦電流磁界を発生させ、磁界検出器は識別用部材に発生した渦電流磁界を検出する。識別用部材は、かごの昇降方向に沿って連続して配置され、磁界発生器によって識別用部材に発生する渦電流の表皮深さに対する板厚が相対的に異なっている複数の導体を有している。隣接する導体の境界の少なくとも一部の形状は、かごの昇降方向に直角な方向に対して傾斜した直線又は曲線である。
摘要翻译：在轿厢位置的电梯检测装置中，磁场发生器产生的涡电流的磁场，以所述识别部件，磁场检测器检测在所述识别部件所产生的涡电流的磁场。区分构件沿车的仰角方向连续设置，具有多个厚度的导体是用于通过磁场发生器在区分构件中产生的涡电流的趋肤深度相对不同有。至少在相邻的导体的边界的形状的一部分是垂直于车的提升方向倾斜的方向上的直线或曲线。

4. 发明专利

JPWO2016006283A1 構造物維持管理システムおよび構造物維持管理方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016006283A1
公开(公告)日：2017-04-27
申请号：JP2015543610
申请日：2015-03-23
申请人：三菱電機株式会社
发明人：恵美子倉田 , 恵美子倉田 , 克之亀井 , 克之亀井 , 恵入江 , 恵入江 , 和彦丸山 , 和彦丸山 , 健一須合 , 健一須合
IPC分类号： G06Q50/08 , G06Q50/26
CPC分类号： G06Q50/08 , G06Q50/26
摘要： 3次元で構造物と周辺環境または周辺構造物との相関関係を把握することが可能な構造物維持管理システムを得ること。構造物の絶対座標系での位置、3次元情報および2次元以下の情報を含む構造物の形状、3次元情報および2次元以下の情報を含む構造物における変状を計測する計測部1と、計測された形状のデータに含まれる形状の3次元情報を用いて、形状を3次元で表す3次元形状データを生成する形状展開部41と、計測された変状のデータに含まれる変状の3次元情報を用いて、変状を3次元で表す3次元変状データを生成する変状展開部42と、3次元形状データおよび3次元変状データを位置の情報に関連付けて記憶する構造物データベース3と、を備える。

5. 发明专利

JP5474067B2 Sliding door device and an elevator 有权
公开(公告)号：JP5474067B2
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：JP2011523516
申请日：2009-07-23
申请人：三菱電機株式会社
发明人：正博鹿井 , 利郎中島 , 一仲嶋 , 徹岡 , 晶英白附 , 恵美子倉田 , 敬太望月
IPC分类号： B66B13/26
CPC分类号： B66B13/26 , B66B13/06

6. 发明专利

JP6120684B2 漏洩電流検知装置有权
公开(公告)号：JP6120684B2
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：JP2013120685
申请日：2013-06-07
申请人：三菱電機株式会社
发明人：恵美子倉田 , 恵美子倉田 , 甚井上 , 甚井上 , 佳正渡邊 , 佳正渡邊 , 鹿井　正博 , 正博鹿井 , 隆史平位 , 隆史平位
IPC分类号： G01R31/02 , H02H3/00 , H02H3/16 , H02H3/347

7. 发明专利

JP5506986B2 Reference line generator and centering device 有权
公开(公告)号：JP5506986B2
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：JP2013138589
申请日：2013-07-02
申请人：三菱電機株式会社 , 国立大学法人東京大学
发明人：恵美子倉田 , 利郎中島 , 一仲嶋 , 正博鹿井 , 昭彦今城 , 一将伊藤 , 繁安藤
IPC分类号： G01C15/00

8. 发明专利

JPWO2011010377A1 スライドドア装置及びエレベータ有权
公开(公告)号：JPWO2011010377A1
公开(公告)日：2012-12-27
申请号：JP2011523516
申请日：2009-07-23
申请人：三菱電機株式会社
发明人：鹿井　正博 , 正博鹿井 , 中島　利郎 , 利郎中島 , 仲嶋　一 , 一仲嶋 , 岡　徹 , 徹岡 , 白附　晶英 , 晶英白附 , 恵美子倉田 , 恵美子倉田 , 敬太望月 , 敬太望月
IPC分类号： B66B13/26
CPC分类号： B66B13/26 , B66B13/06
摘要：スライドドア装置(1)においては,第1の出入口(1a)の下部に第1の下枠(3)が設けられており,第2の出入口(6a)の下部に第2の下枠が設けられている。第1の出入口(1a)の上部及び下部のいずれか一方には,第2の下枠(8)の第1の下枠に対向する面である照射面(P)に光を照射する発光器が設けられている。第1の出入口(1a)の上部及び下部のいずれか他方には,発光器(13)から発せられ照射面(P)で反射された光を受光する受光器(15)が設けられている。判定制御部は,発光器(13)から発せられ照射面(P)で反射された光が受光器(15)で受光されるかどうかを検知することにより,障害物の有無を判定する。

9. 发明专利

JP4508062B2 Fingerprint image pickup device 有权
公开(公告)号：JP4508062B2
公开(公告)日：2010-07-21
申请号：JP2005286575
申请日：2005-09-30
申请人：三菱電機株式会社
发明人：利郎中島 , 高宏中村 , 恵美子倉田 , 晶英白附 , 正博鹿井
IPC分类号： G06T1/00 , A61B5/117
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stable fingerprint images having improved contrast, in an imaging device of a fingerprint image. SOLUTION: In the imaging device of fingerprint image, a fingertip 1 having a fingerprint 11 to be an imaging object is considered as a specimen. The device is provided with a light source 3 irradiating a light 30, capable of transmitting through the specimen on the specimen, an imaging means 5 for imaging the light from the light source transmitting through the specimen and obtaining the fingerprint image, wherein the protruding parts of the fingerprint are dark and recessed parts are light, and an optical system 4 carrying out image formation of the light from the light source transmitting through the specimen on the imaging means. In addition the device is constituted such that the light from the light source 3 is irradiated on a plurality of regions 16 of the fingertip 1. In at least one of the plurality of regions, the irradiation center of the light from the light source 3 is located at a substantially center line in the width direction in a face where a nail 12 of the fingertip 1 exists and in the opposite side of a nail part with respect to a portion where the nail grows from, and a portion substantially other than the nail is irradiated. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

10. 发明专利

JPWO2013150585A1 エッジ検出装置审中-公开
标题翻译：边缘检测设备
公开(公告)号：JPWO2013150585A1
公开(公告)日：2015-12-14
申请号：JP2014508933
申请日：2012-04-02
申请人：三菱電機株式会社
发明人：琢也野口 , 琢也野口 , 河野　裕之 , 裕之河野 , 仲嶋　一 , 一仲嶋 , 恵美子倉田 , 恵美子倉田 , 隆湯澤 , 隆湯澤 , 隆史平位 , 隆史平位
IPC分类号： G01B11/00
CPC分类号： G01B11/028
摘要：被測定物に対して光ビームを照射する投光系(110)と、投光系から照射され被測定物で反射した光を検出する光検出器(8)を有する受光系(120)と、被計測物と投光系とを相対的に移動させる第1駆動装置(130)と、光検出器から得られる反射光量特性からエッジ位置を求めるエッジ演算部(140)と、エッジ演算部で得たエッジ位置から異常なエッジを検出するエッジ判定部(150)と、エッジ判定部190から得たエッジから最終的なエッジを検出するエッジ検出部(160)とを備え、スキャン方向と直交する方向における複数箇所で計測したエッジ位置の中から最外縁部のエッジを検出し、最外縁部のエッジと各エッジ位置との差分値の絶対値が、エッジ判定部の差分閾値よりも大きな反射光量特性を除外する。
摘要翻译：用于照射光束，以将待测量对象（110）的光投影系统，其具有用于检测由被测物体反射的光的光检测器（8）光接收系统从光投影系统（120）照射时，用于相对移动待测量的物体和光投影系统（130），用于确定从所述光检测器（140）中获得的反射光量特性的边缘位置的边缘计算单元，从而在边缘计算单元的第一驱动装置从边缘位置（150），用于检测从所述边界判定部190，沿垂直于扫描方向获得的边缘的最终边缘设置有边缘检测单元（160）检测出异常边缘边缘确定单元绝对值，大量的比从在多个点，边缘的测量的边缘位置的边缘的检测的最外边缘和所述最外侧部分的每个边缘位置之间的差值的边缘确定单元的差阈值的反射光特性排除。

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