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1. 发明专利

JP6316019B2 X線発生管、該X線発生管を備えたX線発生装置及びX線撮影システム有权
公开(公告)号：JP6316019B2
公开(公告)日：2018-04-25
申请号：JP2014029252
申请日：2014-02-19
申请人：キヤノン株式会社
发明人：辻野和哉 , 上田和幸
IPC分类号： H01J35/00 , H01J35/06 , H01J35/08 , H01J35/14
CPC分类号： H01J35/045 , G21K1/02 , H01J35/14

2. 发明专利

JP5896649B2 ターゲット構造体及びX線発生装置有权
标题翻译：目标装置和X射线发生器
公开(公告)号：JP5896649B2
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：JP2011189107
申请日：2011-08-31
申请人：キヤノン株式会社
发明人：佐藤安栄 , 小倉孝夫 , 上田和幸 , 野村一郎
IPC分类号： H01J35/08
CPC分类号： H01J35/08 , G01N23/04 , H01J35/18 , H01J2235/087 , H01J2235/088 , H01J2235/186

3. 发明专利

JP5871529B2 透過型X線発生装置及びそれを用いたX線撮影装置有权
标题翻译：透射X射线发生器及使用该X射线成像设备
公开(公告)号：JP5871529B2
公开(公告)日：2016-03-01
申请号：JP2011189112
申请日：2011-08-31
申请人：キヤノン株式会社
发明人：小倉孝夫 , 柳沢芳浩 , 田村美樹 , 野村一郎 , 廣木珠代 , 上田和幸 , 松谷茂樹
IPC分类号： H01J35/08
CPC分类号： H01J35/08 , G01N23/04 , H01J35/16 , H01J2235/087 , H01J2235/168 , H01J2235/186

4. 发明专利

JP5871528B2 透過型X線発生装置及びそれを用いたX線撮影装置有权
公开(公告)号：JP5871528B2
公开(公告)日：2016-03-01
申请号：JP2011189109
申请日：2011-08-31
申请人：キヤノン株式会社
发明人：田村美樹 , 廣木珠代 , 松谷茂樹 , 小倉孝夫 , 上田和幸 , 柳沢芳浩 , 野村一郎
IPC分类号： A61B6/00 , H05G1/52 , H01J35/08
CPC分类号： H01J35/08 , G01N23/04 , H01J35/14 , H01J35/16 , H05G1/70 , H01J2235/087 , H01J2235/168 , H01J2235/186

5. 发明专利

JP5787556B2 X線発生装置及びX線撮影装置有权
标题翻译： X射线发生器和X射线成像装置
公开(公告)号：JP5787556B2
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：JP2011050002
申请日：2011-03-08
申请人：キヤノン株式会社
发明人：青木修司 , 野村一郎 , 小倉孝夫 , 佐藤安栄 , 山▲崎▼ 康二 , 柳沢芳浩 , 上田和幸 , 田村美樹
IPC分类号： H01J35/08

6. 发明专利

JP2015104459A 放射線発生ユニットおよび放射線撮影装置有权
标题翻译：辐射发生单元和放射性设备
公开(公告)号：JP2015104459A
公开(公告)日：2015-06-08
申请号：JP2013247132
申请日：2013-11-29
申请人：キヤノン株式会社
发明人：塩澤崇史 , 上田和幸 , 辻野和哉 , 伊藤靖浩
IPC分类号： A61B6/02 , A61B6/00
CPC分类号： H01J35/16 , A61B6/0407 , A61B6/502 , G21K1/02 , H01J35/06 , H01J35/08 , H05G1/10 , H01J2235/087 , H01J2235/166
摘要：【課題】複数のターゲットと前方遮蔽体とを備えた放射線発生ユニットにおける減衰半陰影を低減する。【解決手段】複数のターゲットと複数の隔壁部を有する前方遮蔽体とを備えたターゲットアレイと、検出部を備えた放射線検出ユニットと、を有する放射線撮影装置であって、隔壁部は、配列方向において傾斜角度分布を有する斜面を備えている。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：减少设置有多个靶和前屏蔽的辐射发生单元中的衰减的半阴影。解决方案：射线照相装置包括：具有多个靶的靶阵列和具有多个靶的前屏蔽分隔壁部分和具有检测部分的辐射检测单元，所述分隔壁部分具有在排列方向上具有倾斜角度分布的倾斜平面。

7. 发明专利

JP2015075358A 放射線検査装置审中-公开
标题翻译：辐射检查装置
公开(公告)号：JP2015075358A
公开(公告)日：2015-04-20
申请号：JP2013210361
申请日：2013-10-07
申请人：キヤノン株式会社
发明人：田村美樹 , 上田和幸
IPC分类号： G01N23/04
摘要：【課題】被検体に収納された流体中に沈殿する異物を、高解像度で把握し、精度良く検出できる検出装置を提供する。【解決手段】放射線発生管1Aを、鉛直方向に所定の放射角をもって放射線を放出するように配置すると共に、放射線検出器2を、放射線検出素子21の列を縦方向に向けて配置する。下端に位置する放射線検出素子211の中心と放射線発生管1Aの焦点中心とを結ぶ直線51と、焦点中心を通るターゲットの電子照射面の法線5とがなす角度をθ 1 、上端に位置する放射線検出素子212の中心と放射線発生管1Aの焦点中心とを結ぶ直線52と、前記法線5とがなす角度をθ 2 とした時に、θ 1 >θ 2 となる配置とする。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够以高分辨率识别沉积在分析物中储存的流体中的异物并能够精确地检测的检测装置。解决方案：放射线发生管1A设置成发射辐射相对于垂直方向以预定角度，并且在辐射检测器2中，放射线检测元件21的串被设置在纵向方向上。他们被处置以满足＆thetas;>＆thetas; 这里，＆thetas示出了连接位于最下端的放射线检测元件211的中心与辐射生成管1A的焦点中心的直线51与电子照射面的法线5之间的角度目标通过焦点中心。该图表示法线5与连接位于上端的放射线检测元件212的中心与辐射生成管1A的焦点中心的直线52之间的角度。

8. 发明专利

JP6395373B2 放射線発生ユニットおよび放射線撮影装置有权
公开(公告)号：JP6395373B2
公开(公告)日：2018-09-26
申请号：JP2013247132
申请日：2013-11-29
申请人：キヤノン株式会社
发明人：塩澤崇史 , 上田和幸 , 辻野和哉 , 伊藤靖浩
IPC分类号： A61B6/02 , H05G1/00 , A61B6/00
CPC分类号： H01J35/08 , A61B6/502 , G21K1/02 , H01J2235/087 , H01J2235/166

9. 发明专利

JP6021338B2 放射線発生装置及びそれを用いた放射線撮影装置有权
标题翻译：辐射发生器和利用其的放射线成像装置
公开(公告)号：JP6021338B2
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：JP2012006953
申请日：2012-01-17
申请人：キヤノン株式会社
发明人：上田和幸 , 山▲崎▼ 康二
IPC分类号： A61B6/00 , H01J35/08 , H05G1/02
CPC分类号： H01J35/02 , H05G1/025

10. 发明专利

JP5875297B2 放射線発生管及びそれを用いた放射線発生装置、放射線撮影システム有权
标题翻译：辐射管以及使用该放射线成像系统的放射线产生装置
公开(公告)号：JP5875297B2
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：JP2011189108
申请日：2011-08-31
申请人：キヤノン株式会社
发明人：小倉孝夫 , 上田和幸 , 佐藤安栄 , 野村一郎
IPC分类号： A61B6/00 , G01N23/04 , H01J35/08
CPC分类号： H01J35/165 , G01N23/04 , H01J35/08 , H01J35/16 , H01J35/18 , H01J2235/087 , H01J2235/166 , H01J2235/186

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