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1. 发明专利

JP5904540B2 エレクトレット型振動検出システム、外部振動情報の生成方法、外部振動に関する伝達関数情報を生成する方法、外部振動情報の生成プログラム、外部振動に関する伝達関数情報を生成するプログラム有权
标题翻译：驻极体型振动检测系统，从而产生外部振动的信息，生成关于所述外部振动的传递函数的信息的方法的方法中，发电机外部的振动信息，节目生成关于外部振动的传递函数信息
公开(公告)号：JP5904540B2
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：JP2012123487
申请日：2012-05-30
申请人：オムロン株式会社 , 国立大学法人東京工業大学
发明人：正木達章 , 中尾慎一 , 西田秀志 , 佐々木栄一 , 山口浩
IPC分类号： G01H17/00 , G01M99/00 , G08C17/00 , G01H11/06
CPC分类号： G01H11/06 , G01M5/0008 , G01M7/00

3. 发明专利

JP6792859B2 解析方法、解析プログラム、および解析装置有权
公开(公告)号：JP6792859B2
公开(公告)日：2020-12-02
申请号：JP2016156441
申请日：2016-08-09
申请人：国立大学法人東京工業大学
发明人：佐々木栄一 , 田村洋 , 蛯沢佑紀 , 小林裕介 , 竹谷晃一 , 阿久津絢子 , 菅沼久忠 , 田辺篤史
IPC分类号： G01N27/90 , G01B7/06 , G01N27/72

4. 发明专利

JP2016148549A 構造物変位解析装置、および構造物変位解析プログラム有权
标题翻译：结构位移分析设备和结构位移分析程序
公开(公告)号：JP2016148549A
公开(公告)日：2016-08-18
申请号：JP2015024381
申请日：2015-02-10
申请人：国立大学法人東京工業大学
发明人：佐々木栄一 , 梅川雄太郎 , 田島文彦 , 小林裕介 , 菅沼久忠 , 峰沢ジョージヴゥルペ , 田辺篤史
IPC分类号： G01H17/00
摘要：【課題】より正確に構造物の変位を算出することができる構造物変位解析装置、および構造物変位解析プログラムを提供すること。【解決手段】測定対象の構造物に取り付けられた加速度センサによって測定された加速度データを取得する取得部と、前記加速度データにウェーブレット変換を行うウェーブレット変換部と、前記構造物の変位解析に適した周波数範囲を設定する周波数範囲設定部と、前記設定部により設定された周波数範囲内で、前記ウェーブレット変換によって得られるウェーブレット係数を2階積分するウェーブレット係数積分部と、前記積分部によって積分された結果に対してウェーブレット逆変換を行って前記構造物の変位を算出するウェーブレット逆変換部と、を備える構造物変位解析装置。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够进一步精确地计算结构的位移和结构位移分析程序的结构位移分析装置。解决方案：结构位移分析装置包括：获取单元，其获取由加速度传感器测量的加速度数据连接到测量对象结构; 对加速度数据执行小波变换的小波变换单元; 频率范围设置单元，其设置适合于所述结构的位移分析的频率范围; 小波系数积分单元，其通过小波变换获得的小波系数在由设置单元设置的频率范围内两次; 以及小波逆变换单元，其对由积分单元进行积分的结果执行小波逆变换，并计算结构的位移。图4：

5. 发明专利

JP2019128161A 解析方法、解析プログラム、および解析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019128161A
公开(公告)日：2019-08-01
申请号：JP2018007729
申请日：2018-01-19
申请人：国立大学法人東京工業大学
发明人：佐々木栄一 , 阿久津絢子 , 田村洋
IPC分类号： G01N27/90
摘要：【課題】簡易、高速、かつ正確に解析対象の特性を解析することができる解析方法を提供する。【解決手段】本発明の解析方法は、所定の周波数の交流電気信号を第1コイルに印加して解析対象を励磁し、前記解析対象に渦電流を生成し、前記渦電流により発生した磁界により、第2コイルに発生した電圧の振幅に応じた第1電気的状態量、および前記交流電気信号と前記電圧との位相差に応じた第2電気的状態量を求め、前記第1電気的状態量および前記第2電気的状態量に基づいて、前記解析対象の厚さ方向の特性を解析する。【選択図】図2

6. 发明专利

JP2018025434A 解析方法、解析プログラム、および解析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018025434A
公开(公告)日：2018-02-15
申请号：JP2016156441
申请日：2016-08-09
申请人：国立大学法人東京工業大学
发明人：佐々木栄一 , 田村洋 , 蛯沢佑紀 , 小林裕介 , 竹谷晃一 , 阿久津絢子 , 菅沼久忠 , 田辺篤史
IPC分类号： G01B7/06 , G01N27/90
摘要：【課題】簡易かつ正確に解析対象の特性を解析することができる解析方法、解析プログラム、および解析装置を提供すること。【解決手段】第1周波数の交流電気信号を第1コイルに印加して解析対象を励磁し、前記解析対象に第1渦電流を生成し、前記第1渦電流により発生した磁界により第2コイルに発生した電圧に応じた第1電気的状態量を測定し、第2周波数の交流電気信号を前記第1コイルに印加して前記解析対象を励磁し、前記解析対象に第2渦電流を生成し、前記第2渦電流により発生した磁界により前記第2コイルに発生した電圧に応じた第2電気的状態量を測定し、前記第1電気的状態量および前記第2電気的状態量に基づいて、前記解析対象の厚さ方向の特性を解析する、解析方法。【選択図】図10

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