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1. 发明专利

JP6588201B2 遠心機有权
公开(公告)号：JP6588201B2
公开(公告)日：2019-10-09
申请号：JP2014243023
申请日：2014-12-01
申请人：メディカテック株式会社
发明人：月岡浩康
IPC分类号： B04B5/02

2. 发明专利

JP6502740B2 遠心機ローター、遠心機、および、遠心機使用方法有权
公开(公告)号：JP6502740B2
公开(公告)日：2019-04-17
申请号：JP2015092667
申请日：2015-04-30
申请人：栄研化学株式会社 , メディカテック株式会社
发明人：齋藤信悟 , 森安義 , 久保田豊 , 月岡浩康
IPC分类号： B04B5/02 , C12M1/26 , B01F9/10

3. 发明专利

JP6205570B2 分注装置有权
公开(公告)号：JP6205570B2
公开(公告)日：2017-10-04
申请号：JP2013212667
申请日：2013-10-10
申请人：メディカテック株式会社
发明人：月岡浩康
IPC分类号： G01N35/10

4. 发明专利

JP2013088320A Powder characteristic measuring instrument 有权
标题翻译：粉末特性测量仪器
公开(公告)号：JP2013088320A
公开(公告)日：2013-05-13
申请号：JP2011229918
申请日：2011-10-19
申请人： Medica Tekku Kk , メディカテック株式会社
发明人： TSUKIOKA HIROYASU
IPC分类号： G01N11/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a power characteristic measuring instrument capable of reducing the number of components and efficiently performing a plurality of measurement items with one instrument when measuring a power characteristic.SOLUTION: A powder characteristic measuring instrument 10 has a powder supply part 12 for supplying powder at a supply position, a measuring chamber for creating a powder deposition layer for repose angle measurement with powder from the powder supply part 12, a second measuring chamber for creating a powder deposition layer for spatula angle measurement, a third measuring chamber for creating a powder deposition layer for powder density measurement, and an inclination angle measurement part for measuring an inclination angle of the powder deposition layer created in the first or second measuring chamber from the powder deposition layer, with the first or second measuring chamber positioned at the supply position of the powder supply part 12. The first, second and third measuring chambers are respectively independently formed and are provided with a powder opening 17 on a ceiling part.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种功率特性测量仪器，其能够在测量功率特性时使用一台仪器减少部件数量并有效地执行多个测量项目。解决方案：粉末特性测量仪器10具有用于在供应位置供应粉末的粉末供应部分12，用于从粉末供应部分12产生用粉末进行静止角度测量的粉末沉积层的测量室，第二测量用于产生用于刮刀角度测量的粉末沉积层的室，用于产生用于粉末密度测量的粉末沉积层的第三测量室和用于测量在第一或第二测量中产生的粉末沉积层的倾斜角度的倾斜角测量部分其中第一或第二测量室位于粉末供应部分12的供应位置。第一，第二和第三测量室分别独立地形成，并且在天花板部分上设置有粉末开口17 。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

5. 发明专利

JP2012220301A Dispensation apparatus 审中-公开
标题翻译：配送设备
公开(公告)号：JP2012220301A
公开(公告)日：2012-11-12
申请号：JP2011085335
申请日：2011-04-07
申请人： Medica Tekku Kk , メディカテック株式会社
发明人： TSUKIOKA HIROYASU
IPC分类号： G01N35/10 , G01N1/00
CPC分类号： G01N35/1016 , G01N35/109 , G01N2035/1058
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To promptly perform dispensation work in a dispensation apparatus for an accurate dispensation amount corresponding to a downward stroke of a piston without being affected by air which is sucked up together with a liquid during suction of the piston.SOLUTION: A dispensation apparatus comprises a dispensation head, a piston and suction means. The dispensation head includes a dispensation cylinder which extends downward from a cylinder body with an internal space formed cylindrical and has a diameter smaller than that of the internal space. The piston is inserted from the internal space of the cylinder body into the dispensation cylinder and is movable vertically to a start position above the dispensation cylinder and a dispensation completion position below the dispensation cylinder. The suction means sucks a liquid from a drip port in a distal end of the dispensation cylinder into the internal space and locates the start position which is above the dispensation cylinder, under a liquid level. The piston faces the start position under the liquid level at initial dispensation operation.
摘要翻译：要解决的问题：在分配装置中及时执行与活塞的向下冲程相对应的精确分配量的分配工作，而不受在活塞抽吸期间与液体一起吸入的空气的影响。解决方案：分配装置包括分配头，活塞和抽吸装置。分注头包括从圆柱体向下延伸的分配气缸，内部空间形成为圆柱形并且具有小于内部空间的直径的直径。活塞从气缸体的内部空间插入分配气缸中，并且可垂直移动到分配气缸上方的起始位置和分配气缸下方的分配完成位置。抽吸装置将液体从分配筒的远端的滴水口吸入内部空间，并将液体位于分配筒上方的起始位置。在初始分配操作时，活塞面对液面下的起始位置。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

6. 发明专利

JP4993102B2 Cup Set machine 有权
公开(公告)号：JP4993102B2
公开(公告)日：2012-08-08
申请号：JP2007193032
申请日：2007-07-25
申请人：メディカテック株式会社
发明人：康信月岡
IPC分类号： G01N35/04

7. 发明专利

JP2011059012A Chip supply device in chip aligner 有权
标题翻译：芯片对准器中的芯片供应器件
公开(公告)号：JP2011059012A
公开(公告)日：2011-03-24
申请号：JP2009210870
申请日：2009-09-11
申请人： Medica Tekku Kk , メディカテック株式会社
发明人： TSUKIOKA HIROYASU
IPC分类号： G01N35/10
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To compose a supply means of capable of supplying chips thrown into a chip bath to a chip conveyance rail reliably and speedily without damaging the chips and without generating a fitted state in a bamboo shoot shape in a chip aligner for setting the chips to a chip rack automatically. SOLUTION: A floorboard 20 of the chip bath 2 is tilted in one direction. A chip supply bar 3 is placed at an edge in an inclination direction of the floor while being linked to an elevation operation mechanism 4 so that an end face 30 of the top may be elevated from a height position nearly aligned to the floor surface of the chip bath 2 to an ascending position elevated higher than the floor surface. Also, the end face 30 of the top in the chip supply bar 3 is formed on an inclination surface descending and tilting in one direction. A guide wall 5 for checking a chip (b) traveling by the inclination surface is placed on the front at the side of a descending inclination of the end face 30 so that the upper end edge may be nearly flush with the end face 30 of the top of the chip supply bar 3 at an ascending position. COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：构成一种供应装置，其能够可靠且快速地将投掷到芯片槽中的芯片提供给芯片输送轨道，而不损坏芯片，并且在芯片对准器中不产生竹笋形状的装配状态用于将芯片自动设置到芯片机架。解决方案：芯片槽2的地板20在一个方向上倾斜。芯片供应杆3被放置在与地板的倾斜方向的边缘处，同时连接到升降操作机构4，使得顶部的端面30可以从几乎对准到地面的高度位置升高芯片槽2升到高于地板表面的上升位置。此外，芯片供给杆3中的顶部的端面30形成在沿一个方向下降和倾斜的倾斜表面上。用于检查通过倾斜表面行进的芯片（b）的引导壁5被放置在端面30的下降倾斜侧的前部，使得上端边缘可以与端面30的端面30几乎齐平芯片供应杆3的顶部处于升序位置。版权所有（C）2011，JPO＆INPIT

8. 发明专利

JP2021003069A 検体塗布装置及び塗布棒の位置設定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021003069A
公开(公告)日：2021-01-14
申请号：JP2019119577
申请日：2019-06-27
申请人：メディカテック株式会社
发明人：町田哲男
IPC分类号： G01N1/04 , G01N1/28 , C12M1/26
摘要：【課題】採便棒が寒天培地に接するときに加わる応力をほぼ均一にして寒天培地に検体を塗布することが可能な検体塗布装置、及び塗布棒の位置設定方法を提供する。【解決手段】長尺形状をなし、先端部を寒天培地41に接触させて該先端部に付着した検体を寒天培地41に塗布する採便棒11と、採便棒11の先端部が寒天培地41の表面に接するように、寒天培地41に対する採便棒11の相対位置を変化させ、採便棒11の先端部が寒天培地41の表面に接した状態で、検体を寒天培地41に塗布する制御を行う制御部31を有する。更に、採便棒11の撓み量を検出するレーザセンサ27を有する。そして、検体を寒天培地41に塗布する際において、レーザセンサ27で検出される撓み量が一定となるように、前記寒天培地41に対する採便棒11の相対位置を制御する。【選択図】図2B

9. 发明专利

JP2020143997A セトリングチャンバ保持具审中-公开
公开(公告)号：JP2020143997A
公开(公告)日：2020-09-10
申请号：JP2019040542
申请日：2019-03-06
申请人：メディカテック株式会社
发明人：深水祐介 , 町田哲男
IPC分类号： G01N33/48
摘要：【課題】セトリングチャンバを着脱させるときの作業者の指が受ける負担を低減させたセトリングチャンバ保持具を提供することを課題とする。【解決手段】セトリングチャンバ保持具10は、上下方向に延びる筒部と該筒部の底部側方へ延び出す第1脚部STaおよび第2脚部STbとを有するセトリングチャンバSTを着脱自在に保持する保持具であり、試験用プレートPLを載置する凹状のプレート載置部12と、プレート載置部12に載置された試験用プレートPL上にセトリングチャンバSTを保持する保持部13とを備える。保持部13は、セトリングチャンバSTが試験用プレートPL上に押圧されることで試験用プレートPL上に密着するように第1脚部STaと第2脚部STbとをそれぞれ係止し、装着されたセトリングチャンバSTが引き上げられることで、この係止を解除する係止・係止解除構造14を有する。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2020142186A 吸引具および分注装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020142186A
公开(公告)日：2020-09-10
申请号：JP2019040540
申请日：2019-03-06
申请人：メディカテック株式会社
发明人：月岡浩康 , 町田哲男
IPC分类号： B01L3/02
摘要：【課題】配列された複数の吸引ノズルのうち、使用しない吸引ノズルでは使用者が操作しなくても吸引停止となる簡単な構成の吸引具および分注装置を提供することを課題とする。【解決手段】吸引具10は、吸引口部12が配列されているベース部材14と、各吸引口部にそれぞれ接続されている吸引ノズル16とを備える。吸引ノズル16は、ノズル基端側部材18と、頭部20tがノズル基端側部材18よりも吸引ノズル先端側へ突出していて、ノズル基端側部材18に対して進退動可能に設けられた進退動部材20と、進退動部材20をノズル先端方向へ付勢する圧縮コイルバネ22と、ノズル基端側部材18と進退動部材20と圧縮コイルバネ22とによって形成され、進退動部材20が延出し端Eに位置するときには吸引口Mと吸引口部12とを非連通にし、進退動部材20が吸引ノズル基端側へ移動すると吸引口Mと吸引口部12とを連通にする切替機構24とを備える。【選択図】図1

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