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71. 发明专利

JP5301801B2 Process and the acquisition device of the deformable geometric form 有权
公开(公告)号：JP5301801B2
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：JP2007238302
申请日：2007-09-13
申请人：コミッサリアアレネルジーアトミークエオゼネルジザルタナテイヴ
发明人：ドミニク・ダヴィド , ローラン・ブランペン
IPC分类号： G01B21/32 , G01B21/20
CPC分类号： G01B21/32 , G01B5/207
摘要： The process involves placing a set of sensors (1) in different positions of the geometrical form. A model form is selected, and model parameters are determined based on the signals supplied by the sensors. The distances which separate the sensors from one another are measured. A spatial distribution of points is determined. The sensors are fixed to a support (3a) made from a solid elastic material, which matches parts of the geometrical form. The support is equipped with an element in the zigzag form. The sensors are placed on successive segments of the zigzag element. An independent claim is also included for an acquisition device of a geometrical form defined by a deformable material.

72. 发明专利

JP2013535670A Full load static characteristics test equipment and test methods of the bolt joint surface unit 有权
公开(公告)号：JP2013535670A
公开(公告)日：2013-09-12
申请号：JP2013520956
申请日：2011-07-25
申请人：西安理工大学
发明人：ユメイファン , イェフイ , シンガンヤン , ヤンユー
IPC分类号： G01M99/00
CPC分类号： G01L5/24 , G01B21/22 , G01B21/32 , G01N2033/0078 , G01N2203/00
摘要：本発明のボルト接合面ユニットの全荷重の静特性試験装置はケース(１)を含み、ケース(１)の上方には横梁(７)が設置され、横梁(７)は左側支柱(４Ａ)と右側支柱(４Ｂ)を通じてケース(１)に固定的に結合され、ケース(１)の作業台には下試験部材(２)が配置され、下試験部材(２)上には上試験部材(３)が配置され、上試験部材(３)の上方と横梁(７)間に上試験部材(３)、下試験部材(２)と順じに結合する予荷重部品(６)が設置され、上試験部材(３)の両端の片持ち梁にそれぞれ一つの荷重印加部品が対称的に取り付けられ、それぞれ第１荷重印加部品(５Ａ)と第２荷重印加部品(５Ｂ)と称し、第１荷重印加部品(５Ａ)と第２荷重印加部品(５Ｂ)は垂直上方で横梁(７)とそれぞれ結合され、上試験部材(３)の両端の片持ち梁の端部にそれぞれ１つの結合部材(８)が取り付けられ、結合部材(８)と横梁(７)の右側支柱４Ｂ間に、結合部材(８)と横梁(７)の左側支柱(４Ａ)間には、それぞれ水平となる荷重印加部品が設置され、それぞれ第３荷重印加部品(５Ｃ)と第４荷重印加部品(５Ｄ)と称する。ボルト接合面ユニットの全荷重の静特性試験方法は当該試験装置の異なる構造の組み合わせを利用して、ボルト接合面ユニットのプレストレス力試験、法線方向の使用荷重静特性試験、接線方向の使用荷重静特性試験、曲げモーメントの使用荷重静特性試験及びトルクの使用荷重静特性試験を行うことができる。

73. 发明专利

JPWO2012008484A1 接触状態検出装置、接触状態検出方法、接触状態検出用コンピュータプログラム、接触状態検出装置を備える電気伝導度測定システムおよび接触状態検出方法を含む電気伝導度測定方法有权
公开(公告)号：JPWO2012008484A1
公开(公告)日：2013-09-09
申请号：JP2012524575
申请日：2011-07-13
申请人：国立大学法人静岡大学
发明人：太岩田 , 太岩田 , 俊夫塩見 , 俊夫塩見 , 鈴木　康司 , 康司鈴木
IPC分类号： G01B11/16 , G01B5/30
CPC分类号： G01B11/16 , G01B21/32
摘要：プローブなどの接触体や被接触物を損傷することなく簡単な構成で精度良く接触体の被接触物への押圧状態を検出することができる接触状態検出装置および接触状態検出装置を備える電気伝導度測定システムを提供する。電気伝導度測定システム100に適用された接触検出装置は、接触体アプローチ部123、プローブ光源131、撮像素子135およびコンピュータ装置140を備えている。接触体アプローチ部123は、被接触物WKにおける被接触面に交わる姿勢で接触体110を保持しつつ被接触物WKに向って変位させる。プローブ光源131は、被接触物WKに向って変位する接触体110に向って光を照射する。撮像素子135は、光が照射された接触体110を撮像して接触体撮像画像情報をコンピュータ装置140に出力する。コンピュータ装置140は、接触体撮像画像情報の変化に基づいて接触体110の被接触物WKへの押圧状態を検出する。図1

74. 发明专利

JP5037626B2 Method and apparatus for strain measurement by image 有权
公开(公告)号：JP5037626B2
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：JP2009539282
申请日：2007-11-26
申请人：コーニングインコーポレイテッド
发明人：アールウスタニク，コーリー
IPC分类号： G01B21/00 , G01B11/00
CPC分类号： G01B11/161 , G01B7/16 , G01B21/32 , G02F1/1303 , G02F1/1309

75. 发明专利

JP2012519274A Deformation method of measuring the deformation measurement equipment and structures using the same structures 有权
公开(公告)号：JP2012519274A
公开(公告)日：2012-08-23
申请号：JP2011551993
申请日：2010-03-02
申请人：テクノバリューカンパニーリミテッドTechnovalue Co.,Ltd. , 延世大學校産學協力財団Industry−Academic Cooperation Foundation Yonsei University
发明人：ジョセフパク , スンジュハム , ユンチョルリム , ユンムックリム
IPC分类号： G01B11/16 , G01B7/24
CPC分类号： G01B21/32 , H01F1/0054 , H01F1/0063
摘要：本発明は、構造物の変形率測定用装置及びそれを用いた構造物の変形率測定方法に関する。さらに詳しくは、本発明の構造物の変形率測定用装置は、一定の間隔で配列されたナノ粒子を含有する光結晶層を含む。本発明によると、様々な産業構造物が使用荷重などにより変形された場合、当該部分の構造色変化または磁束変化を測定することによって、より簡単、且つ容易に構造物の正確な変形有無及び変形率を測定でき、これにより構造物の過多変形による安全事故の発生を防止することができる。
【選択図】図１

77. 发明专利

JP2010511859A Method and apparatus for strain measurement by image 有权
公开(公告)号：JP2010511859A
公开(公告)日：2010-04-15
申请号：JP2009539282
申请日：2007-11-26
申请人：コーニングインコーポレイテッド
发明人：アールウスタニク，コーリー
IPC分类号： G01B11/16
CPC分类号： G01B11/161 , G01B7/16 , G01B21/32 , G02F1/1303 , G02F1/1309
摘要：ＬＣＤ産業で用いられる測定及び検査システムを較正する方法が示される。トランスデューサによって結合された２枚の基板を含むアセンブリが設けられる。これらの基板には２つの器具が接着され、干渉計に接続される。少なくとも一方の基板に、測定及び検査システムの支持台上の基準点を基準として用いて印がつけられる。次に、トランスデューサを動作させ、熱処理やガラス切断処理等といったＬＣＤガラスの処理をシミュレートする。トランスデューサを動作させることにより、干渉計によって測定された第１の歪み測定値を表す信号も生成される。次に、印を基準マークと比較して、第２の歪み測定値を決定する。第１の歪み測定値と第２の歪み測定値との比較を用いて、測定及び検査装置を較正する。

78. 发明专利

JP2008089588A Process and acquisition device of deformable geometrical configuration 有权
标题翻译：可变几何配置的过程和获取装置
公开(公告)号：JP2008089588A
公开(公告)日：2008-04-17
申请号：JP2007238302
申请日：2007-09-13
申请人： Commiss Energ Atom , コミツサリアタレネルジーアトミーク
发明人： DAVID DOMINIQUE , BLANPAIN ROLAND
IPC分类号： G01B21/20
CPC分类号： G01B21/32 , G01B5/207
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an acquisition process of a geometrical configuration specified by a deformable material. SOLUTION: A process and an acquisition device of the deformable geometrical configuration are provided. A set of sensors 1 is placed on the form (a curved face or a surface), wherein each sensor supplies representative signals of the form direction at the position of the sensor; a model of the form is selected; parameters of the model are determined based on the signals, and the distances which separate the sensors are measured; the spatial arrangement of the points of the form are determined based on the parameters of the model and distance measurement. The invention is applied especially to the fields of machining, joinery, masonry work and construction work. COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供由可变形材料指定的几何构造的采集过程。解决方案：提供了可变形几何构型的工艺和采集装置。一组传感器1放置在表面（曲面或表面）上，其中每个传感器在传感器的位置处提供形式方向的代表信号; 选择形式的模型; 根据信号确定模型的参数，并测量分离传感器的距离; 基于模型和距离测量的参数确定形状点的空间排列。本发明特别适用于加工，细木工，砖石加工和施工工作等领域。版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

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