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61. 发明专利

JP6423662B2 ねじ溝形状測定装置とそれを用いた工作機械审中-公开
公开(公告)号：JP6423662B2
公开(公告)日：2018-11-14
申请号：JP2014188867
申请日：2014-09-17
申请人： DMG森精機株式会社
发明人：濱中宏和 , 中尾大樹
IPC分类号： G01B11/24 , G01B5/20 , B23Q17/20 , B23Q17/24 , G01B21/20

62. 发明专利

JP6419261B2 座標測定装置を動作させる方法审中-公开
公开(公告)号：JP6419261B2
公开(公告)日：2018-11-07
申请号：JP2017114033
申请日：2017-06-09
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：スコットエリスヘミングス , アンドリューパッツウォルド
IPC分类号： G01B5/008 , G01B21/20
CPC分类号： G01B5/008 , G01B21/04

63. 发明专利

JP2018165688A 形状測定装置及び形状測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018165688A
公开(公告)日：2018-10-25
申请号：JP2017063444
申请日：2017-03-28
申请人：株式会社東京精密
发明人：王肖南 , 青戸智浩
IPC分类号： G01B11/08 , G01B21/20 , G01B21/10 , G01B11/24
摘要：【課題】ワークの形状を高精度且つ高速測定できる形状測定装置及び形状測定方法を提供する。【解決手段】ワークが載置される基準平面と、基準平面に垂直な測定基準軸を中心とする同一円周上に3以上設定された基準位置ごとに、基準位置から基準位置に対向するワークの被測定面内の測定点までの距離を検出する距離検出部と、測定基準軸に対する個々の基準位置の既知の位置情報と、距離検出部が検出した基準位置ごとの距離とに基づき、ワークの形状を求める解析部と、を備える。【選択図】図1

64. 发明专利

JP6401618B2 測定方法及び測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP6401618B2
公开(公告)日：2018-10-10
申请号：JP2015003963
申请日：2015-01-13
申请人：株式会社ナガセインテグレックス
发明人：島田尚一 , 宇田豊 , 清野慧 , 郷泰幸
IPC分类号： G01B21/20

65. 发明专利

JP2018144167A 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器审中-公开
公开(公告)号：JP2018144167A
公开(公告)日：2018-09-20
申请号：JP2017040982
申请日：2017-03-03
申请人：株式会社キーエンス
发明人：下平真達 , ▲高▼山直輝
IPC分类号： G01B11/00 , G01B11/26 , G01B21/20 , G01B11/25 , G01B21/00 , G01B21/22 , G06T7/70 , B25J13/08
摘要：【課題】ロボット装置の設定に際して、把持解が得られない場合でも把持解の検討として、より多くの解が得られるようにする。【解決手段】入力画像中から、サーチモデル登録部8bで登録された複数のサーチモデルを用いて、各ワークの姿勢と位置を特定する三次元サーチを行うための三次元サーチ部8kと、三次元サーチ部8kによる三次元サーチに成功したサーチモデルに対応するワーク表面の位置、姿勢に加え、該三次元サーチに成功したサーチモデルに対する相対的な位置関係情報を用いて、三次元サーチに失敗、又はサーチの信頼性を示す指標が所定値よりも低いサーチモデルに対応するワーク表面の位置、姿勢を特定し、特定されたワーク表面に指定された把持位置を把持候補位置として認識する把持候補認識部8zと、把持候補認識部8zにより認識された把持候補位置が、エンドエフェクタで把持可能か否かを判定するための三次元ピック判定部8lとを備える。【選択図】図81

66. 发明专利

JP6381787B2 3次元表面の自動再合成审中-公开
公开(公告)号：JP6381787B2
公开(公告)日：2018-08-29
申请号：JP2017510853
申请日：2014-08-27
申请人：ケアストリームヘルスインク
发明人：グリネクヤニック
IPC分类号： A61B1/24 , G01B11/24 , G01B21/20 , G06T19/20
CPC分类号： G06T7/55 , G06T3/4038 , G06T7/30 , G06T7/521 , G06T15/10 , G06T2200/32 , G06T2207/10028 , G06T2207/20072 , G06T2207/30036

67. 发明专利

JP6373126B2 ウエハ情報処理装置审中-公开
公开(公告)号：JP6373126B2
公开(公告)日：2018-08-15
申请号：JP2014170450
申请日：2014-08-25
申请人：株式会社ダイヘン
发明人：宮本玲
IPC分类号： G01B21/30 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B21/20

68. 发明专利

JP2018124256A 形状測定装置の制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018124256A
公开(公告)日：2018-08-09
申请号：JP2017131254
申请日：2017-07-04
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：野田孝
IPC分类号： G01B21/20 , G01B5/20
摘要：【課題】5軸制御可能な形状測定装置の制御方法を提供する。【解決手段】形状測定装置は、第1および第2駆動軸の回転で姿勢が変化するプローブヘッドと、3つの並進軸(第3から第5駆動軸)でプローブヘッドの位置を変位させる三次元測定機と、を備える。測定チップの位置は、第3から第5駆動軸の座標値で与えられ、プローブヘッドの姿勢は第1回転角αおよび第2回転角βで与えられる。第1回転軸と第2回転軸との交点を回転中心Qとする。制御周期ごとの補間点を第1から第5駆動軸ごとに求め、第1および第2駆動軸の補間点(αi、βi)の値を加味した所定の変換式によって測定チップの補間点の座標値を回転中心Qの座標値に変換して制御用補間点Qiとする。第3から第5駆動軸は制御用補間点Qiに位置決め制御するとともに、第1および第2駆動軸は補間点(αi、βi)に位置決めを行う。【選択図】図22

70. 发明专利

JP6366344B2 ツールマーク照合システム有权
公开(公告)号：JP6366344B2
公开(公告)日：2018-08-01
申请号：JP2014095015
申请日：2014-05-02
申请人：国立大学法人群馬大学
发明人：松原雅昭 , 中村昌義
IPC分类号： G06T7/00 , G01B11/24 , G01B21/20

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