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61. 发明专利

JP4262621B2 Atomic force microscope 有权
公开(公告)号：JP4262621B2
公开(公告)日：2009-05-13
申请号：JP2004090638
申请日：2004-03-25
申请人：オリンパス株式会社
发明人：喜裕上 , 信明酒井
IPC分类号： G01B11/00 , G01Q20/02 , G01Q30/02 , G01Q30/08 , G01Q30/14 , G01Q30/20 , G01Q60/24 , G01Q60/38

62. 发明专利

JP2009517656A Optical apparatus and method for manufacturing and using its equipped with a cantilever 审中-公开
公开(公告)号：JP2009517656A
公开(公告)日：2009-04-30
申请号：JP2008542258
申请日：2005-11-28
申请人：ベレナギングヴォークリスタラクホガーオンダーヴェイルヴェーテンザパーリクオンダージークエンパシェンテンゾーク , ユニバーシティトゥウェンテ
发明人：ダビデイアヌッツィ , マイケルカートエルヴェンシュペーク , スザブロクスデラディ
IPC分类号： B81B3/00 , G01B11/00 , G01Q10/00 , G01Q20/02 , G01Q60/24 , G01Q60/38 , G02B6/02
CPC分类号： G01Q20/02 , G01Q60/38
摘要：本発明は、光ファイバおよび光ファイバの端部に配置された片持ち梁を有する光学装置を提供する。片持ち梁は、光ファイバの一体の一部分であってよく、光ファイバの直径に実質的に等しい長さを有することができる。片持ち梁の変位を測定するための測定手段が、光ファイバの他端に接続される。この光学装置を使用して変位を測定する方法は、光源を有する測定手段を光ファイバの他端に配置する工程、光源を使用して光ファイバへと光のビームを送信する工程、光ファイバの端部で反射された光と片持ち梁で反射された光との干渉を測定する工程、および片持ち梁の中間位置に対する変位を、測定された干渉にもとづいて割り出す工程を含んでいる。

63. 发明专利

JP4244347B2 Measuring device characteristics of the sample using the laser Doppler interferometer having an optical excitation function of the sample 有权
公开(公告)号：JP4244347B2
公开(公告)日：2009-03-25
申请号：JP2005153340
申请日：2005-05-26
申请人：独立行政法人科学技術振興機構
发明人：英樹川勝
IPC分类号： G01G3/16 , G01B11/00 , G01Q10/04 , G01Q10/06 , G01Q20/02 , G01Q30/02 , G01Q60/24 , G01Q60/32 , G01Q60/38 , G01Q70/06

64. 发明专利

JP2009058427A Method and device for identifying surface molecule 审中-公开
标题翻译：用于鉴定表面分子的方法和装置
公开(公告)号：JP2009058427A
公开(公告)日：2009-03-19
申请号：JP2007226805
申请日：2007-08-31
申请人： Hokkaido Univ , 国立大学法人北海道大学
发明人： OKAJIMA KOJI , NIIKURA KENICHI
IPC分类号： G01N33/53 , G01N37/00 , G01Q30/20 , G01Q60/18 , G01Q60/24 , G01Q80/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method capable of selectively identifying molecules (object molecules) existing on a matter surface and can identify a plurality of kinds of object molecules and its positional information with high resolution.
SOLUTION: This method of identifying the object molecules existing on the sample surface comprises (A) a step of preparing two or more kinds of particulate groups of different physical characteristics where each particulate is decorated by a molecule specifically binding to different molecule; (B) a step of bringing the particulate into contact with the sample surface, binding the particulate of the particulate group to the object molecule, and fixing it to the sample surface; and (C) a step of scanning the sample surface to which the particulate is fixed using a scanning probe microscope and acquiring information capable of identifying each object molecule.
COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供能够选择性地识别物质表面上存在的分子（物体分子）的方法，并且可以以高分辨率识别多种物体分子及其位置信息。鉴定存在于样品表面上的物体分子的方法包括（A）制备两种或更多种不同物理特性的颗粒的步骤，其中每个颗粒被特异性结合不同分子的分子装饰; （B）使颗粒与样品表面接触的步骤，将颗粒基团的颗粒与物体分子结合，并将其固定在样品表面上; 和（C）使用扫描探针显微镜扫描待固定颗粒的样品表面并获取能够识别每个对象分子的信息的步骤。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

65. 发明专利

JP2009041931A Protein function analyzer 有权
标题翻译：蛋白质功能分析仪
公开(公告)号：JP2009041931A
公开(公告)日：2009-02-26
申请号：JP2007204245
申请日：2007-08-06
申请人： Nippon Telegr & Teleph Corp , 日本電信電話株式会社
发明人： SHINOZAKI YOICHI , SUMITOMO KOJI , TORIMITSU KEIICHI
IPC分类号： G01Q30/20 , G01Q60/24 , G01Q80/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a protein function analyzer which is constituted so as to fix protein having a dynamic flexible structure to a substrate in a structural form keeping the function of the protein, and measures the structural information of the protein.
SOLUTION: The protein function analyzer is constituted so as to analyze the structural information containing the height and width of protein to be measured being a measuring target and the distance between partial structures, and has: the substrate the surface of which is molecularly modified by an interface molecule by electrostatic interaction; and a measuring instrument for measuring the structural information. The protein to be measured is bonded to the interface molecule by electrostatic interaction.
COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供蛋白质功能分析仪，其构成为以保持蛋白质的功能的结构形式将具有动态柔性结构的蛋白质固定在基材上，并测定蛋白质的结构信息。解决方案：构建蛋白质功能分析仪，以分析包含被测定蛋白质的高度和宽度的结构信息作为测量对象和部分结构之间的距离，并且具有：其表面是分子式的底物通过界面分子通过静电相互作用改性; 以及用于测量结构信息的测量仪器。待测量的蛋白质通过静电相互作用结合到界面分子上。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

66. 发明专利

JP2009505057A Biomolecular interactions using an atomic force microscope 有权
公开(公告)号：JP2009505057A
公开(公告)日：2009-02-05
申请号：JP2008525665
申请日：2006-08-14
申请人：ポーハンユニバーシティオブサイエンスアンドテクノロジー , ポスコ
发明人：キム，アイアイ‐ホン , ジョングム，ユ‐ジン , パク，ジュン‐ウォン , パク，ジン‐キュ , ホン，ボン‐ジン , リー，ヘ‐ヨン , リュー，ソン‐ホー
IPC分类号： G01N33/53 , G01N33/543 , G01N33/547 , G01N33/566 , G01Q10/00 , G01Q60/24 , G01Q60/42
CPC分类号： C12Q1/6816 , G01Q60/42 , C12Q2565/601
摘要：本特許出願は、固定端と自由端とを有するカンチレバー本体を含み、該自由端はデンドロンによって化学的に修飾された表面領域を有し、該デンドロンの分岐領域の複数の末端が該表面に結合しており、該デンドロンの直鎖領域の末端が官能基化されている、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）用のカンチレバーについて記載している。
【選択図】図１Ａ

67. 发明专利

JP4218107B2 Scanning probe microscope 有权
公开(公告)号：JP4218107B2
公开(公告)日：2009-02-04
申请号：JP1400399
申请日：1999-01-22
申请人：株式会社島津製作所
发明人：秀郎中島
IPC分类号： G01N37/00 , G01Q40/00 , G01Q40/02 , G01Q60/10 , G01Q60/24

68. 发明专利

JP4181527B2 Scanning probe microscope and the cantilever 有权
公开(公告)号：JP4181527B2
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：JP2004208737
申请日：2004-07-15
申请人：株式会社東海理化電機製作所
发明人：信幸駒形
IPC分类号： G01B21/30 , G01Q20/02 , G01Q60/24 , G01Q60/38

69. 发明专利

JP4174228B2 Magnetic resonance force microscope equipped with a frequency drift tracking method and 該追 trace function 有权
公开(公告)号：JP4174228B2
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：JP2002093492
申请日：2002-03-29
申请人：日本電子株式会社
发明人：洋祐吉成
IPC分类号： G01B7/34 , G01B7/00 , G01N24/00 , G01Q60/00 , G01Q60/24 , G01Q60/52

70. 发明专利

JP2008241286A Probe control device and method of scanning type probe microscope 审中-公开
标题翻译：探针控制装置及扫描型探针微观方法
公开(公告)号：JP2008241286A
公开(公告)日：2008-10-09
申请号：JP2007078361
申请日：2007-03-26
申请人： Hitachi Kenki Fine Tech Co Ltd , 日立建機ファインテック株式会社
发明人： KURENUMA TORU , MORIMOTO TAKASHI , EDAMURA MANABU , KURODA HIROSHI , KENBO YUKIO , WATANABE MASAHIRO , BABA SHUICHI
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q60/24
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a probe control device of a scanning type probe microscope capable of enhancing measuring precision by eliminating rise and fall characteristic difference brought from servo followability, and to provide a probe control method.
SOLUTION: The probe control method of the scanning type probe microscope is equipped with a probe part, a detection part 24 for detecting the physical quantity acting across a sample and a probe, a measuring part for measuring the surface of the sample, on the basis of the physical quantity detected by the detection part and a moving mechanism and includes a difference-of-altitude process for changing the relatively changing the relative positional relation of the probe and the sample by the moving mechanism and adapted to the scanning type probe microscope to detect the presence of the difference-of-altitude of the surface of the sample and a shape measuring process for moving the probe to a place where the difference-of-altitude is present, when the difference of altitude is detected in the difference of altitude detection process to measure the shape of the sample from a lower side to a high side by the probe so as to unify the moving direction of the probe so as to from the lower side to the high side or from the high side to the lower side, at any place where the there is a difference in altitude.
COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种扫描型探针显微镜的探针控制装置，其能够通过消除从伺服追随性引起的上升和下降特性差异来提高测量精度，并提供探针控制方法。解决方案：扫描型探针显微镜的探针控制方法配备有探针部，用于检测作用于样品的物理量的检测部24和探针，测定样品表面的测定部，基于由检测部检测出的物理量和移动机构，并且包括用于通过移动机构改变相对改变探针和样本的相对位置关系并适应于扫描类型的差异高度处理探针显微镜，以检测样品表面的差异的存在以及用于将探针移动到存在差异高度的位置的形状测量过程，当在通过探头测量样品从下侧到高侧的形状的高度检测处理的差异，以便将探针的移动方向统一到低于 r侧到高侧或从高侧到低侧，在高度差异的任何地方。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

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