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41. 发明专利

JP2013521726A A method and apparatus for reducing the contribution of noise to the digital sample value signal 有权
公开(公告)号：JP2013521726A
公开(公告)日：2013-06-10
申请号：JP2012556349
申请日：2011-02-25
申请人：ロックスタービーアイディーシーオー,エルピー
发明人：デイヴィー，ジョナサン , ジョーンズ，ラッセル
IPC分类号： H03M1/08 , H03M1/12
CPC分类号： H03K5/08 , H03K5/1534 , H03M1/0629 , H03M1/12
摘要：デジタルのサンプル値信号へのノイズの寄与を減少させるための、統計プロセッサ及び勾配リミッタを含む、方法及び装置が開示される。統計プロセッサは、フィルタされた信号の平均値（平均値及び／又は標準偏差）を決定する。平均値は、対象となる信号の周波数の、予期される最大の一次導関数の値に対応する勾配制限を決定するために、用いられる。かかる勾配制限は、アナログデジタルコンバータの出力を制約するために適用され、デジタルアナログコンバータの出力が、最大の増減率を越えることを防止する。アナログデジタルコンバータの出力を制約することにより、アンチエイリアスフィルタを最初に用いることなく、アナログ信号をデジタルにサンプリングすることができる。なぜなら、デジタルのサンプル値信号の事後的な処理が、信号の高い周波数成分の寄与を制限し、それによって、信号を受信するために、完全にデジタルなサンプリング・フィルタリング回路が提供され得るためである。

42. 发明专利

JP5159951B2 Analog unit 有权
公开(公告)号：JP5159951B2
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：JP2011515823
申请日：2009-05-29
申请人：三菱電機株式会社
发明人：晴幸倉地
IPC分类号： H03M1/10
CPC分类号： H03M1/1028 , H03M1/12

44. 发明专利

JP2013026634A Semiconductor element for current control and control device using the same 有权
标题翻译：使用该电流控制和控制装置的半导体元件
公开(公告)号：JP2013026634A
公开(公告)日：2013-02-04
申请号：JP2011156013
申请日：2011-07-14
申请人： Hitachi Automotive Systems Ltd , 日立オートモティブシステムズ株式会社
发明人： HOSHINO KENICHI , HIROTSU TEPPEI , ISHIDA RYOSUKE
IPC分类号： H03K17/695 , H03K17/687 , H03M1/10
CPC分类号： H02M3/157 , F02D2041/2024 , F02D2041/2058 , H03M1/0609 , H03M1/12
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor element for current control and a control device therewith which implement high accuracy current detection in a single chip IC by dynamically compensating for fluctuations in a gain a and an offset b.SOLUTION: The semiconductor element for current control has a transistor 4, a current-voltage conversion circuit 22 and an AD converter 23 on the same semiconductor chip. A reference current generation circuit 6, 6' superimposes a current pulse Ic on a current to a load 2 to cause a digital voltage value output by the AD converter to fluctuate. A gain/offset correction section 8 signal-processes fluctuations in the digital voltage value by the reference current generation circuit 6, 6', and dynamically determines a gain a, a' and an offset b, b' in a linear relational expression of the digital voltage value output by the AD converter 23 and a digital current value of the load. A digital current value computation section 12 uses the gain and offset determined by the gain/offset correction section 8 to correct the voltage value output by the AD converter.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于电流控制的半导体元件及其控制装置，通过动态补偿增益a和偏移量b中的波动，在单芯片IC中实现高精度电流检测。解决方案：用于电流控制的半导体元件在相同的半导体芯片上具有晶体管4，电流 - 电压转换电路22和AD转换器23。参考电流产生电路6,6'将电流脉冲Ic叠加在负载2上，使得由AD转换器输出的数字电压值波动。增益/偏移校正部分8通过参考电流产生电路6,6'信号处理数字电压值的波动，并且动态地确定线性关系表达式中的增益a，a'和偏移b，b' 由AD转换器23输出的数字电压值和负载的数字电流值。数字电流值计算部分12使用由增益/偏移校正部分8确定的增益和偏移来校正由AD转换器输出的电压值。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

45. 发明专利

JP5116825B2 Electronic control unit 有权
公开(公告)号：JP5116825B2
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：JP2010239821
申请日：2010-10-26
申请人：三菱電機株式会社
发明人：将行丸山 , 宏之上月 , 克哉池本
IPC分类号： H03M1/10
CPC分类号： H03M1/1076 , H03M1/12

46. 发明专利

JP2012191412A Apparatus and method for testing a/d converter 审中-公开
标题翻译：用于测试A / D转换器的装置和方法
公开(公告)号：JP2012191412A
公开(公告)日：2012-10-04
申请号：JP2011052805
申请日：2011-03-10
申请人： Advantest Corp , 株式会社アドバンテスト
发明人： ASAMI KOJI , FURUKAWA YASUO
IPC分类号： H03M1/10
CPC分类号： H03M1/109 , H03M1/12
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To test an A/D converter in a shorter time.SOLUTION: A testing apparatus 2 is provided for testing an N-bit (N is a natural number) A/D converter 1. A voltage generation section 10 outputs a 2-scale analog voltage Vto the A/D converter 1. A capture unit 20 captures an output code Dof the A/D converter 1 on each step. A signal processing section 30 compares the output code Dcaptured on each step with a corresponding expected code EXP, corrects the value of the analog voltage Von each step in accordance with the result of comparison, and causes the voltage generation section 10 to output the corrected analog voltage V.
摘要翻译：要解决的问题：在较短时间内测试A / D转换器。解决方案：提供测试装置2用于测试N位（N是自然数）A / D转换器1.电压产生部分10输出2 N 尺寸模拟电压V IN 到A / D转换器1.捕获单元20捕获输出代码D OUT A / D转换器1。信号处理部分30将每个步骤上捕获的输出代码D OUT 与相应的预期码EXP进行比较，校正模拟电压V IN ，根据比较结果，使电压产生部10输出校正的模拟电压V IN 。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

47. 发明专利

JP2012095042A Electronic control device 有权
标题翻译：电子控制装置
公开(公告)号：JP2012095042A
公开(公告)日：2012-05-17
申请号：JP2010239821
申请日：2010-10-26
申请人： Mitsubishi Electric Corp , 三菱電機株式会社
发明人： MARUYAMA MASAYUKI , KOZUKI HIROYUKI , IKEMOTO KATSUYA
IPC分类号： H03M1/10
CPC分类号： H03M1/1076 , H03M1/12
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic control device that can detect an anomaly in an A/D converter and can also detect an anomaly in a reference voltage for A/D conversion.SOLUTION: Main microcomputer anomaly determination means 14 checks whether or not a voltage value of Vcc based on digital data 11a from a main microcomputer A/D converter 11 is at least at a threshold 13a to make an anomaly determination for the main microcomputer A/D converter 11 and Vref. Sub microcomputer anomaly determination means 24 checks whether or not a voltage value of Vcc based on digital data 21a from a sub microcomputer A/D converter 21 is at least at a threshold 23a to make an anomaly determination for the sub microcomputer A/D converter 21 and Vref. Anomaly identification means 15 identifies an anomalous section by using the anomaly determination results of both main microcomputer anomaly determination means 14 and sub microcomputer anomaly determination means 24.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够检测A / D转换器中的异常并且还可以检测用于A / D转换的参考电压的异常的电子控制装置。解决方案：主微型计算机异常判定装置14检查基于来自主微型计算机A / D转换器11的数字数据11a的Vcc的电压值是否至少为阈值13a，以对主微型计算机进行异常判定 A / D转换器11和Vref。子微计算机异常判定单元24检查基于来自子微计算机A / D转换器21的数字数据21a的Vcc的电压值是否至少为阈值23a，以对子微计算机A / D转换器21进行异常判定和Vref。异常识别装置15通过使用主微型计算机异常确定装置14和子微计算机异常确定装置24的异常确定结果来识别异常部分。（C）2012年，JPO和INPIT

48. 发明专利

JP2011237218A Air flow measurement device 有权
标题翻译：空气流量测量装置
公开(公告)号：JP2011237218A
公开(公告)日：2011-11-24
申请号：JP2010107330
申请日：2010-05-07
申请人： Denso Corp , 株式会社デンソー
发明人： MIZUTANI AKITOSHI , BAN TAKAHISA
IPC分类号： G01F1/696 , G01F1/00 , G01F15/02
CPC分类号： G01F1/6965 , H03M1/1038 , H03M1/12
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten a sampling period of A/D conversion of air flow voltage signal Vq in a time A/D conversion circuit (TAD).SOLUTION: An air flow measurement device includes the TAD that samples reference voltage signals Vref3, Vref2, Vref1, intake air temperature voltage signal Vt, and the airflow voltage signal Vq in an order selected by an analog multiplexer, and converts them to digital data; and a sampling timing setting unit that sets a timing of sampling Vref3, Vref2, Vref1, Vt, and Vq by the TAD. The sampling timing setting section inserts the sampling timing of Vq between the sampling timings of two adjacent analogue input voltage signals among Vref3, Vref2, Vref1, and Vt. Consequently, the sampling period of A/D conversion of the air flow voltage signal Vq can be shortened.
摘要翻译：要解决的问题：缩短时间A / D转换电路（TAD）中的气流电压信号Vq的A / D转换的采样周期。解决方案：气流测量装置包括以由模拟多路复用器选择的顺序对参考电压信号Vref3，Vref2，Vref1，进气温度电压信号Vt和气流电压信号Vq进行采样的TAD，并将其转换为数字数据; 以及采样定时设定单元，其通过TAD设定采样Vref3，Vref2，Vref1，Vt，Vq的定时。采样定时设定部在Vref3，Vref2，Vref1，Vt之间插入两个相邻的模拟输入电压信号的采样定时之间的采样定时，因此，气流电压信号Vq的A / D转换的采样周期缩短。版权所有（C）2012，JPO＆INPIT

49. 发明专利

JP4776143B2 Calibration of the A / d converter 有权
公开(公告)号：JP4776143B2
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：JP2002523718
申请日：2001-08-24
申请人：テレフオンアクチーボラゲットエルエムエリクソン(パブル)
发明人：ベント，エリクヨンソン，
IPC分类号： H03M1/10 , H03M1/12
CPC分类号： H03M1/1004 , H03M1/12

50. 发明专利

JP4746792B2 A / d converter 有权
公开(公告)号：JP4746792B2
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：JP2001246282
申请日：2001-08-14
申请人：富士通セミコンダクター株式会社
发明人：清子本多 , 俊一神
IPC分类号： H03M1/10 , H03M1/08 , H03M1/12
CPC分类号： H03M1/0845 , H03M1/12

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