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31. 发明专利

JP2020173223A 試験システム、伝達効率算出装置、プログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2020173223A
公开(公告)日：2020-10-22
申请号：JP2019076533
申请日：2019-04-12
申请人：学校法人法政大学
发明人：相原建人
IPC分类号： G01M13/021
摘要：【課題】簡易な構成で歯車の伝達効率を測定可能な試験システム等を提供する。【解決手段】試験システム1は、はすば歯車2の伝達効率の試験システムであり、噛み合わせて配置された複数の歯車2のうち一の歯車2−1に加わるスラスト力と、別の歯車2−2に加わるスラスト力とを荷重f a 、f b として測定する荷重計21、22と、荷重計21、22によって測定した荷重f a 、f b に基づいて、歯車2の伝達効率を算出する伝達効率算出装置40と、を有する。【選択図】図1

32. 发明专利

JP2020169914A 精密測定装置及び移動型精密計測ロボット审中-公开
公开(公告)号：JP2020169914A
公开(公告)日：2020-10-15
申请号：JP2019071848
申请日：2019-04-04
申请人：学校法人法政大学 , 株式会社小坂研究所
发明人：吉田一朗 , 田中一秀
IPC分类号： G01B5/28 , B25J5/00 , G01B21/30
摘要：【課題】測定時の安定性を向上させることが可能となる精密測定装置を備えた移動型精密計測ロボットを提供する【解決手段】移動型精密計測ロボット1は、ロボット本体10と、ロボット本体10の両側面に配置されたクローラ機構12と、ロボット本体10内に配置された精密測定装置14と、精密測定装置14をロボット本体10に対して上下動させるための高さ調整機構16と、を備える。移動型精密計測ロボット1は、クローラ機構12により所定の測定位置にまで移動して、高さ調整機構16により精密測定装置14を下降させる。精密測定装置14が地面に接触した状態で電磁石34に電力を供給して磁気吸着させる。精密測定装置14の精密測定ユニット32が電磁石34によって地面に固定された状態で、触針式センサ38により表面粗さの測定を行う。【選択図】図1

33. 发明专利

JP2020129106A 光学ミラー审中-公开
公开(公告)号：JP2020129106A
公开(公告)日：2020-08-27
申请号：JP2019230825
申请日：2019-12-20
申请人：学校法人法政大学
发明人：山内潤治 , 大川内巧
IPC分类号： G02B5/30 , G02B5/26 , G02B5/28
摘要：【課題】広帯域特性を維持しながら入射角を広く選択することができる光学ミラー(円偏光ミラーおよびゼロシフトミラー)を提供すること。【解決手段】本発明の光学ミラーは、方位角φ=45度で入射する直線偏光に対し、基板上に、高屈折率層と低屈折率層を交互に複数組積層してなる高反射層と、該高反射層の上に間隔を隔てて2次元配列される横断面が矩形の複数の柱状体部よりなる2次元周期構造体部から構成され、前記柱状体部が高屈折率部と該高屈折率部の上に設けられる低屈折率部を積層してなることを特徴とする。【選択図】図1

34. 发明专利

JP6699031B2 モデル学習方法、説明文評価方法、及び装置有权
公开(公告)号：JP6699031B2
公开(公告)日：2020-05-27
申请号：JP2015103964
申请日：2015-05-21
申请人：日本電信電話株式会社 , 学校法人法政大学
发明人：木村昭悟 , 西川仁 , 藤代裕之
IPC分类号： G06F16/30 , G06F16/00

35. 发明专利

JP6683972B2 半導体装置とその製造方法および半導体積層物有权
公开(公告)号：JP6683972B2
公开(公告)日：2020-04-22
申请号：JP2016166155
申请日：2016-08-26
申请人：学校法人法政大学 , 株式会社サイオクス , 住友化学株式会社
发明人：三島友義 , 堀切文正
IPC分类号： H01L29/868 , H01L29/872 , H01L29/06 , H01L21/329 , H01L29/47 , H01L21/205 , C23C16/34 , H01L21/20 , H01L33/32 , H01L29/861

36. 发明专利

JP2020051870A 測定装置、および測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020051870A
公开(公告)日：2020-04-02
申请号：JP2018180874
申请日：2018-09-26
申请人：横河電機株式会社 , 学校法人法政大学
发明人：勝山純 , 松本憲典 , 品川満
IPC分类号： G01R29/12 , G01R27/26
摘要：【課題】シート状もしくはフィルム状の誘電体の比誘電率を高空間分解能かつ非接触で測定することができる測定装置、および測定方法を提供することを目的とする。【解決手段】測定装置は、交流電界を発生する電界発生手段と、電界発生手段からの交流電界を検出できる電界検出手段と、測定対象物の厚さを測定する厚さ計と、比誘電率と交流電界の強度の関係を示す検量線の導出を行う処理部と、を備え、電界発生手段と電界検出手段は互いに対向して配置され、測定対象物は電界発生手段と電界検出手段の間に挿入され、電界発生手段と電界検出手段は測定対象物と接触しないように距離を隔てて配置され、厚さ計は測定対象物と接触しないように配置され、電界検出手段は測定対象物によって減衰した交流電界の強度を検出し、厚さ計は測定対象物の厚さを測定し、処理部は、測定された交流電界の強度と厚さと検量線とに基づいて測定対象物の比誘電率を算出する。【選択図】図1

37. 发明专利

JP6644295B2 半導体装置有权
公开(公告)号：JP6644295B2
公开(公告)日：2020-02-12
申请号：JP2015167196
申请日：2015-08-26
申请人：学校法人法政大学 , 株式会社サイオクス , 住友化学株式会社
发明人：中村徹 , 三島友義 , 太田博 , 山本康博 , 堀切文正
IPC分类号： H01L29/868 , H01L29/06 , H01L29/861

38. 发明专利

JP2020014566A 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2020014566A
公开(公告)日：2020-01-30
申请号：JP2018138182
申请日：2018-07-24
申请人：学校法人法政大学
发明人：尾川浩一
IPC分类号： G01N29/06 , A61B8/14
摘要：【課題】汎用性が高く、かつ、簡単な処理によって、反射信号の信号強度が低下した部分を補正することができる、画像処理装置を提供する。【解決手段】画像処理装置は、画像データに対して、深さ方向に周波数変換処理を施して、周波数データに変換するS2。次に、周波数データのうち、少なくとも0次を含む低周波数の周波数データを検出器の並び方向で平滑化し、平滑化周波数データを生成するS3。そして、平滑化周波数データを含む周波数データに対して、周波数逆変換処理を施して、補正後の画像データを出力するS6。【選択図】図2

39. 发明专利

JP6631771B2 微生物分析装置及び微生物分析方法有权
公开(公告)号：JP6631771B2
公开(公告)日：2020-01-15
申请号：JP2015096824
申请日：2015-05-11
申请人：国立研究開発法人情報通信研究機構 , 学校法人法政大学
发明人：田中裕人 , 小嶋寛明 , 富成征弘 , 田中秀吉 , 川岸郁朗 , 曽和義幸
IPC分类号： C12Q1/06 , C12M1/34

40. 发明专利

JP6621026B2 波長掃引光源の評価方法有权
公开(公告)号：JP6621026B2
公开(公告)日：2019-12-18
申请号：JP2016173608
申请日：2016-09-06
申请人：日本電信電話株式会社 , 学校法人法政大学
发明人：豊田誠治 , 上野雅浩 , 佐々木雄三 , 阪本匡 , 品川満
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/01

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