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    • 21. 发明专利
    • Method and measuring device for measuring an object in three dimensions
    • JP2012526977A
    • 2012-11-01
    • JP2012510318
    • 2010-05-17
    • デグデント・ゲーエムベーハー
    • グラザー、ライナーストック、カールツィント、ミハエルヒブスト、ライムント
    • G01B11/24G02B21/00
    • G01B11/24A61B5/0068A61B5/0088A61B5/1075A61B2562/0233A61C9/006G01B2210/50G02B21/004G02B21/0064
    • 物体(8)の、特に、半透明な物体の少なくとも1つの部分の形状、例えば、歯の部分の形状を、好ましくは広帯域スペクトルを有する光を発生させるための光源(1)と、多焦点の照射パターンを作成するための装置(3)と、照射パターンの複数の焦点を物体に結像するための、大きな色収差を有する対物レンズ(6)と、対物レンズを介して物体に共焦点に結像される複数の焦点の波長スペクトルを決定するための検出装置(10)とを用いて、測定するための方法であって、各々の波長スペクトルから、各々の焦点のスペクトルのピーク位置を決定し、該ピーク位置から、結像光線(Z座標)の方向における物体の広がりを計算し、多焦点の照射パターンを、光源(1)と、大きな色収差を有する対物レンズ(6)との間に設けられた複数のライトガイド(5)によって形成し、対物レンズ(6)は、ライトガイドの、物体側の端部を物体に結像し、物体から反射された光を、ライトガイドの物体側の端部に結像し、ライトガイドによって導かれかつ反射された光を、検出装置(12)へ向ける。 構造的に簡単な措置によって極めて正確な測定を行なうことができ、サンプル上の測定点のできる限り良好な分布のみならず、検出装置における最適なスペクトル分布を可能にすることが意図されることを達成するために、物体側の照射パターンは、物体側の測定点分布が、照射側および検出側のマイクロレンズの分布またはピンホールの分布に依存していないように、ライトガイド(5)を介して、形成されることが提案される。
      【選択図】 図1