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    • 21. 发明专利
    • 極端紫外線または電子線レジスト用組成物及びパターン形成方法並びにレジストパターン
    • 用于极端超紫外线或电子束的抗蚀组合物,图案形成方法和电阻图案
    • JP2016042161A
    • 2016-03-31
    • JP2014166262
    • 2014-08-18
    • JSR株式会社
    • 白谷 宗大木元 孝和藤澤 友久中川 恭志
    • H01L21/027G03F7/039
    • 【課題】ナノエッジラフネスを改善することができ、感度も十分満足する新規の極端紫外線または電子線レジスト用組成物およびそれを用いたレジストパターン形成方法並びにレジスト膜を提供する。 【解決手段】[A]酸解離性基を含む構造単位を有する重合体、[B]酸発生体、[C]酸拡散制御体、および[D]溶剤を含有する極端紫外線または電子線レジスト用組成物であって、[D]溶剤の、波長300〜600nm領域での透過率が95%以上であり、かつ前記極端紫外線または電子線レジスト用組成物の[D]溶剤以外の成分の濃度が0.01質量%となるように前記極端紫外線または電子線レジスト用組成物を[D]溶剤で希釈した溶液の、[D]溶剤を参照溶媒として測定した場合の波長300〜600nmにおける光路長1cm当たりの吸光度が、いずれも0.01未満であることを特徴とする、極端紫外線または電子線レジスト用組成物である。 【選択図】なし
    • 要解决的问题:提供一种用于极紫外线或电子束的新型抗蚀剂组合物,其可以改善纳米边缘粗糙度并显示出足够的灵敏度,以及使用该组合物形成抗蚀剂图案和抗蚀剂膜的方法。解决方案:A 用于极紫外线或电子束的抗蚀剂组合物包括[A]具有包含酸解离基团的结构单元的聚合物,[B]酸产生剂,[C]酸扩散控制材料和[D]溶剂。 [D]溶剂在300〜600nm的波长范围内具有95%以上的透光率; 并且当用[D]溶剂稀释上述用于极紫外线或电子束的抗蚀剂组合物以控制抗蚀剂组合物中用于极紫外线或除[D]溶剂之外的电子束的组分浓度至0.01质量% ,通过使用[D]溶剂作为参照溶剂的测定,稀释溶液在300〜600nm的波长范围内,每1cm光路长度的吸光度小于0.01。选择图:无
    • 29. 发明专利
    • 感放射線性組成物及びパターン形成方法
    • JPWO2017204090A1
    • 2019-03-22
    • JP2017018746
    • 2017-05-18
    • JSR株式会社
    • 白谷 宗大
    • G03F7/039G03F7/038G03F7/20G03F7/004
    • 保存安定性に優れ、LWR性能、解像性及び感度の経時低下が抑制された感放射線性組成物の提供を目的とする。本発明は、金属酸化物を主成分とする粒子と、上記粒子の凝集を抑制する凝集抑制剤と、有機溶媒とを含有する感放射線性組成物である。上記凝集抑制剤としては脱水能を有する化合物が好ましい。上記脱水能を有する化合物としては、カルボン酸無水物、オルトカルボン酸エステル、カルボン酸ハライド又はこれらの組み合わせが好ましい。上記凝集抑制剤としては、金属原子に配位しうる化合物も好ましい。上記化合物としては、下記式(1)で表されることが好ましい。下記式(1)中、R 1 は、n価の有機基である。Xは、−OH、−COOH、−NCO、−NHR a 、−COOR A 又は−CO−C(R L ) 2 −CO−R A である。nは、1〜4の整数である。上記粒子100質量部に対する上記凝集抑制剤の含有量としては、0.001質量部以上が好ましい。