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21. 发明专利

JP5896465B2 粒状材料の粒度分布計測方法及びシステム有权
标题翻译：颗粒材料的粒度分布测量方法和系统
公开(公告)号：JP5896465B2
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：JP2012132433
申请日：2012-06-12
申请人：鹿島建設株式会社
发明人：川野健一 , 藤崎勝利 , 黒沼出 , 岡本道孝 , 上本勝広
IPC分类号： G01N15/02

22. 发明专利

JP2015179044A 地盤材料の粒度測定方法及びシステム有权
标题翻译：颗粒尺寸测量方法和地面材料系统
公开(公告)号：JP2015179044A
公开(公告)日：2015-10-08
申请号：JP2014057082
申请日：2014-03-19
申请人：鹿島建設株式会社 , カジマメカトロエンジニアリング株式会社
发明人：藤崎勝利 , 武井昭 , 神戸隆幸 , 小林弘明 , 中村元郎 , 下田光輝 , 山口鎮雄 , 林知幸 , 小野田一也 , 田村広行 , 三上大道 , 照井秀幸 , 川野健一 , 片上裕紀
IPC分类号： G01N15/02
摘要：【課題】様々な粒径の粒状材が混在する地盤材料の粒度を短時間で精度よく測定できる方法及びシステムを提供する。【解決手段】様々な粒径の粒状材が混在する地盤材料Sの所定量を蓋なし容器51内に積載し,その容器51を加振して地盤材料Sの所定量を容器51の底面全体に分散させ,容器51の上方から容器51内の地盤材料の分散画像Gを撮影し,その分散画像Gから地盤材料Sの粒度P(d)を測定する。好ましくは、容器51に積載した地盤材料Sの所定量が底面全体に均等な厚さで分散するように加振する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够在短时间内精确测量其中存在各种粒度的颗粒材料的研磨材料的粒径的方法和系统。解决方案：预定量的研磨材料S，其中存在将各种粒径安装在没有盖的容器51中，并且将容器51激励以将预定量的研磨材料S分散到容器51的整个底面，然后将研磨材料的分散图像G 容器51从容器51的上方成像，然后基于分散图像G测量研磨材料S的粒径P（d）。优选地，容器被激发，使得安装在容器51上的预定量的研磨材料S以均匀的厚度分散在整个底面上。

23. 发明专利

JP5700802B2 岩石の品質評価方法及び岩石の品質評価装置有权
标题翻译：质量评估方法和岩石的岩石质量评价装置
公开(公告)号：JP5700802B2
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：JP2011033797
申请日：2011-02-18
申请人：鹿島建設株式会社 , 株式会社セントラル技研
发明人：藤崎勝利 , 吉田輝 , 川野健一 , 小泉悠 , 池尻健
IPC分类号： G01N3/52 , G01N3/00 , G01N33/24

24. 发明专利

JP2021095740A トンネル掘進機及びトンネル掘進方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021095740A
公开(公告)日：2021-06-24
申请号：JP2019227578
申请日：2019-12-17
申请人：鹿島建設株式会社
发明人：永谷英基 , 久保田光太郎 , 川野健一 , 吉迫和生
IPC分类号： E21D9/06 , E21D9/093
摘要：【課題】胴体に生じる摩擦抵抗を把握する。【解決手段】トンネル掘進機100は、地山を掘削する掘削部20が装着され、地山の内壁Wを支持可能な胴体10と、胴体10に設けられ、胴体10に作用する荷重を測定する荷重計50と、を備える。【選択図】図1

25. 发明专利

JP6469900B2 免振部材有权
公开(公告)号：JP6469900B2
公开(公告)日：2019-02-13
申请号：JP2018006490
申请日：2018-01-18
申请人：鹿島建設株式会社
发明人：岡本道孝 , 藤崎勝利 , 小原隆志 , 照井秀幸 , 川野健一
IPC分类号： C01F11/18 , F16F15/02 , F16F7/01 , E02D27/34

26. 发明专利

JP2018100588A 免振部材审中-公开
公开(公告)号：JP2018100588A
公开(公告)日：2018-06-28
申请号：JP2018006490
申请日：2018-01-18
申请人：鹿島建設株式会社
发明人：岡本道孝 , 藤崎勝利 , 小原隆志 , 照井秀幸 , 川野健一
IPC分类号： C01F11/18 , F16F15/02 , F16F7/01 , E02D27/34
摘要：【課題】優れた免振効果を有する免振材料を形成するための無機粒体材料であって、従来品よりも遙かに経済性に優れる無機粒体材料を用いた免振部材を提供すること。【解決手段】免振材料が、可撓性を有する袋体又は筒体に充填されてなる免振部材であって、前記袋体又は前記筒体が、面状補強材料を構成していて、前記免振材料が、粒径75μm以下の無機粒子を70%以上含んでなり、間隙比が0.3以上0.6以下であり、混和剤を0.08%以上10%以下含有する無機粒体材料からなる、免振部材とする。【選択図】図9

27. 发明专利

JP6319791B2 地盤材料の粒度測定方法及びシステム有权
公开(公告)号：JP6319791B2
公开(公告)日：2018-05-09
申请号：JP2014057082
申请日：2014-03-19
申请人：鹿島建設株式会社 , カジマメカトロエンジニアリング株式会社
发明人：藤崎勝利 , 武井昭 , 神戸隆幸 , 小林弘明 , 中村元郎 , 下田光輝 , 山口鎮雄 , 林知幸 , 小野田一也 , 田村広行 , 三上大道 , 照井秀幸 , 川野健一 , 片上裕紀
IPC分类号： G01N15/02

28. 发明专利

JP6279978B2 無機粒体材料有权
公开(公告)号：JP6279978B2
公开(公告)日：2018-02-14
申请号：JP2014114687
申请日：2014-06-03
申请人：鹿島建設株式会社
发明人：岡本道孝 , 藤崎勝利 , 小原隆志 , 照井秀幸 , 川野健一
IPC分类号： E02D27/34

29. 发明专利

JP6236360B2 施工体の強度管理方法及び施工体の強度管理システム有权
公开(公告)号：JP6236360B2
公开(公告)日：2017-11-22
申请号：JP2014120527
申请日：2014-06-11
申请人：鹿島建設株式会社 , 株式会社セントラル技研
发明人：石井健嗣 , 岡本道孝 , 小原隆志 , 北本幸義 , 吉田輝 , 川野健一 , 照井秀幸 , 池尻健
IPC分类号： E02D1/00

30. 发明专利

JP2016029391A 粒状材料の粒度分布計測方法及びシステム有权
标题翻译：颗粒材料颗粒尺寸分布测量方法和颗粒材料颗粒尺寸分布测量系统
公开(公告)号：JP2016029391A
公开(公告)日：2016-03-03
申请号：JP2015215351
申请日：2015-11-01
申请人：鹿島建設株式会社
发明人：川野健一 , 藤崎勝利 , 黒沼出 , 岡本道孝 , 上本勝広
IPC分类号： G01N15/02
摘要：【課題】粒状材料の画像から粒径範囲の広い粒径加積曲線を作成する。【解決手段】異なる粒径dの粒状材が混合した粒状材料Sを撒き出して全体画像G0及び所定拡大倍率の部分画像G1を撮影する。全体画像G0から所定下限粒径d1以上の当該粒径d1を含む複数の所定粗粒径diについてその粒径di以上の検出粒状材の画像全体に対する面積割合である粒度インデクスIiを算出し,その粒度インデクスIiを加積通過率P(di)に変換して粒径d1以上の粗粒径加積曲線P(d≧d1)を作成する。部分画像G1から下限粒径d1以下の当該粒径d1を含む複数の所定細粒径djについて粒径d1以下の粒状材を検出して所定細粒径djの粒度インデクスIjを算出し,その粒度インデクスIjを加積通過率P(dj)に変換して粒径d1以下の細粒径加積曲線P(d≦d1)を作成する。粗粒径及び細粒径の加積曲線を合成して粒径加積曲線P(d)を作成する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：从颗粒材料的图像形成宽粒度范围内的粒度聚集曲线。解决方案：作为具有不同粒径d的颗粒材料的混合物的颗粒材料S被散射，并且总体上拍摄图像G0和预定倍率的部分图像G1。粒径指数Ii，其为粒径等于或大于预定下限粒径d1且等于或大于预定下限粒子的多个预定粗粒径di的检测粒状物的面积比从总体图像G0计算出与整体图像的尺寸d1，并且将粒度指数Ii转换为累积通过率P（di），并且将粒子尺寸累积曲线P（d≥d1）创建等于或大于d1。从部分图像G1中检测出粒径等于或小于下限粒径d1的粒状物质，其中包括下限粒径d1和等于或小于粒径的多个预定细粒径dj d1，并且计算出预定的细粒径dj的粒度指数Ij，将粒度指数Ij转换为积累通过率P（dj），并且细粒度累积曲线P（d≤d1）为创建。通过将粗粒度累积曲线与细粒度累积曲线组合来产生粒子积累曲线P（d）。选择图：图1

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