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    • 22. 发明专利
    • Proton neutralizer and resist composition comprising the neutralizer
    • 包含中性粒细胞的原核中和剂和抗性组合物
    • JP2004217867A
    • 2004-08-05
    • JP2003009721
    • 2003-01-17
    • Eiweiss Kkアイバイツ株式会社
    • KUZUHA NOBORU
    • G03F7/004C07C271/12C07C271/24C09K3/00G03F7/038G03F7/039
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a proton neutralizer having the following proper reactivity: it efficiently reacts with protons generated by dark reaction, under relatively mild conditions such that at storing a resist material, without inhibiting the reaction of the protons with a base polymer at exposure; and to provide a resist composition comprising the neutralizer. SOLUTION: The proton neutralizer is composed of a compound having at least one group expressed by the formula: -(CH 2 )m-NH-( t BOC) bonding to an adamantyl skeleton, as a first proton neutralizer (in the formula m is an integer of 0-5; and t BOC is a tert-butoxycarbonyl group), or a compound represented by the formula: ( t BOC)-NHOH, as a second proton neutralizer. The resist composition comprises the proton neutralizer. COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI
    • 要解决的问题:提供具有以下适当反应性的质子中和剂:其在相对温和的条件下与暗反应产生的质子有效反应,使得在存储抗蚀剂材料时,不抑制质子与 基础聚合物暴露; 并提供包含中和剂的抗蚀剂组合物。 解决方案:质子中和剂由具有至少一个由下式表示的基团的化合物组成: - (CH 2 SBB)m-NH-(中间体) 与金刚烷基骨架结合,作为第一质子中和剂(式中,m为0-5的整数,且BOC为叔丁氧基羰基),或由下式表示的化合物: (作为第二质子中和剂)。 抗蚀剂组合物包含质子中和剂。 版权所有(C)2004,JPO&NCIPI
    • 25. 发明专利
    • 化合物および該化合物からなる光塩基発生剤
    • 化合物的化合物和照相碱性发生剂
    • JP2014237597A
    • 2014-12-18
    • JP2013119889
    • 2013-06-06
    • アイバイツ株式会社Eiweiss Kk
    • MINO KAZUYAITO ATSUSHIMIKI SADAO
    • C07C279/24C09K3/00
    • 【課題】光塩基発生剤として好適な新規化合物であって、紫外線照射により高い塩基性を長時間に渡って維持することができる化合物を提供する。【解決手段】下式(1)で表される化合物。(式中、R1およびR2はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数1〜4のアルキル基または炭素原子数1〜4のアルコキシ基を表し;R3およびR4はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数1〜20のアルキル基、炭素原子数7〜20のアラルキル基または炭素原子数6〜20のアリール基を表し、R3およびR4は互いに結合して環を形成していてもよく;Qは炭素原子またはリン原子を表し、nはQの価数を表す。)【選択図】なし
    • 要解决的问题:提供适合作为光源发生器的新化合物,其可以通过紫外线照射长时间保持高碱度。溶液:化合物由式(1)表示。 (式中,Rand Reach独立地表示氢原子,碳原子数为1〜4的烷基或碳原子数为1〜4的烷氧基; Rand Reach独立地表示氢原子,烷基 碳原子数为1〜20,碳原子数为7〜20的芳烷基或碳原子数为6〜20的芳基,兰德·R·May相互键合形成环; Q表示碳原子或磷原子,n表示Q的价数。)
    • 27. 发明专利
    • Photobase generator, resist-pattern forming material and method for preparing resist
    • 光电发生器,抗电弧形成材料及其制备方法
    • JP2013121996A
    • 2013-06-20
    • JP2011270209
    • 2011-12-09
    • Eiweiss Kkアイバイツ株式会社
    • MINO KAZUYAMIKI SADAO
    • C09K3/00C07C271/24G03F7/004G03F7/038G03F7/039G03F7/38H01L21/027
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photobase generator generating a base by absorbing UV light of shorter wavelengths; and provide a pattern forming material excellent in resolution with good balance of characteristics between exposure part and non-exposure part, usable as negative/positive dual-purpose type resist.SOLUTION: This photobase generator expressed by formula (1) generates a base expressed by formula (2) by selectively absorbing UV light with 190-230 nm wavelengths. In formulae (1) and (2), Rand Reach independently is H, methyl, cyclohexyl or cyclohexyl substituted by 1-6C alkyl; when either Ror Ris H or methyl, the other is cyclohexyl or cyclohexyl substituted by 1-6C alkyl; Rand Rmay bond together to form a ring.
    • 要解决的问题:提供通过吸收较短波长的紫外光产生碱的光基产生器; 并且提供可以用作负/正两用型抗蚀剂的曝光部和非曝光部之间的特性优异的分辨率的图案形成材料。 解决方案:由公式(1)表示的这种光产生器通过选择性地吸收190-230nm波长的紫外光产生由公式(2)表示的基极。 在式(1)和(2)中,R 1分别独立地是H,甲基,环己基或环己基取代的 1-6C烷基; 当R 1 或R 2 是H或甲基时,另一个是被1-6 C烷基取代的环己基或环己基; R 1 和R 2 可以结合在一起形成环。 版权所有(C)2013,JPO&INPIT