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14. 发明专利

JP2021115814A すき入れ模様位置を検査するための自動線引き装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021115814A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：JP2020012205
申请日：2020-01-29
申请人：独立行政法人国立印刷局
发明人：菅野瑞希
IPC分类号： G01N21/892 , B41J25/20
摘要：【課題】本発明は、用紙のすき入れ位置の検査において、積層した用紙の端部に付与されたすき入れ位置確認マーク近傍に、検査に要する直線を自動で引くことが可能となる線引き装置を提供する。【解決手段】内部に空洞を有し、積層した用紙の格納が可能な線引き装置本体において、用紙を積載したうえで本体上面から本体底部までの昇降が可能な積層部を本体天板に設け、かつ、積層部が下降している際は用紙に対し非接触の位置にあり、積層部が上昇する際に用紙方向へ移動して用紙側面のすき入れ位置確認マーク近傍に接触する線引きローラを本体内部に設ける。【選択図】図2

15. 发明专利

JP2021113749A 表面検査装置、表面検査方法、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、及び鋼材の製造設備审中-公开
公开(公告)号：JP2021113749A
公开(公告)日：2021-08-05
申请号：JP2020006688
申请日：2020-01-20
申请人： JFEスチール株式会社
发明人：大野紘明 , 久嶋希望
IPC分类号： G01N21/892
摘要：【課題】鋼材の長手方向に長い線状の表面欠陥を精度よく検出可能な表面検査装置及び表面検査方法を提供すること。【解決手段】本発明に係る表面検査装置は、鋼材の検査対象部位に線状の斜光照明光を照射する斜光ライン光源と、線状の斜光照明光の延伸方向に対して平行な方向に視野を有し、検査対象部位からの斜光照明光の反射光を受光して検査対象部位の画像を撮影するラインセンサと、画像の延伸方向における反射光の輝度むらを補正する補正手段と、補正手段によって補正された画像を用いて検査対象部位における表面欠陥を検出する画像処理手段と、を備える。【選択図】図1

18. 发明专利

JP2021096318A 検査方法、検査装置、及び検査システム审中-公开
公开(公告)号：JP2021096318A
公开(公告)日：2021-06-24
申请号：JP2019226316
申请日：2019-12-16
申请人：住友化学株式会社
发明人：小林信次
IPC分类号： G01N21/892 , G01N21/89 , G02B5/30
摘要：【課題】基材フィルムが有する面内位相差の影響を抑制しながら、重合性液晶化合物の硬化物からなる位相差膜の欠陥の有無の検査をすることができる検査方法を提供する。【解決手段】波長550nmにおける面内位相差値が50nm以上である基材フィルム8Aと、その片面に形成された重合性液晶化合物の硬化物からなる位相差膜7Aとを備える被検査物10に光を入射して位相差膜の欠陥の有無を判断する検査方法である。第1の直線偏光板3と、被検査物10と、位相差フィルタ4と、第2の直線偏光板5とを配置する。基材フィルムの遅相軸と、第1の直線偏光板又は第2の直線偏光板の透過軸とを互いに略直交させ又は略平行とし、位相差膜の遅相軸と、位相差フィルタの遅相軸とは互いに略平行とし、光の光軸方向から見た場合に、位相差膜の遅相軸を対称軸として第1の直線偏光板の透過軸と第2の直線偏光板の吸収軸が略線対称となるように配置する。【選択図】図1

19. 发明专利

JP2021096216A 検査装置及び印刷装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021096216A
公开(公告)日：2021-06-24
申请号：JP2020037561
申请日：2020-03-05
申请人：ブラザー工業株式会社
发明人：戸松義也 , 田中貢 , 清水慶和
IPC分类号： G01N21/89 , B65H5/06 , B41J29/393 , G01N21/892
摘要：【課題】被検査物に対する検査の精度を向上させる。【解決手段】検査装置(30)は、搬送ローラ対(31,39)と、センサ(32)と、搬送ローラ対(31,39)の一方のローラ(311,391)を保持する第1保持部( 33)を支持すると共に、センサ(32)を保持する第2保持部(34)を支持する支持部(35)と、を備え、第1保持部(33)と第2保持部(34)との間に、一方のローラ(311,391)とセンサ(32)との相対移動を許容する許容空間(SP)が形成されている。【選択図】図2

20. 发明专利

JP2021096161A スポンジチタンの検査方法及びスポンジチタン集合体の製造方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021096161A
公开(公告)日：2021-06-24
申请号：JP2019227432
申请日：2019-12-17
申请人：東邦チタニウム株式会社
发明人：田中太千
IPC分类号： C22B34/12 , G01N21/89 , G01N21/27 , G01N21/892
摘要：【課題】スポンジチタン中の塩化マグネシウムが所定量以上である不良品を確認することが可能なスポンジチタンの検査方法を提供する。【解決手段】スポンジチタンの検査方法であって、スポンジチタンが波長460nm〜490nmに光吸収を有することを確認する確認工程を含む。【選択図】なし

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