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11. 发明专利

JPWO2006049120A1 動的モード原子間力顕微鏡探針の振動シミュレーション方法、プログラム、記録媒体、振動シミュレータ有权
公开(公告)号：JPWO2006049120A1
公开(公告)日：2008-05-29
申请号：JP2006542365
申请日：2005-10-31
申请人：独立行政法人科学技術振興機構
发明人：成朗佐々木 , 成朗佐々木 , 忠孝高橋 , 忠孝高橋
IPC分类号： G01Q10/00 , G01Q10/06 , G01Q40/00 , G01Q60/24 , G01Q60/32
CPC分类号： G01Q30/04
摘要：動的AFM探針の振動特性をシミュレートする。任意の動作パラメータ(例えば、探針の変位u0、カンチレバーのバネ定数k、探針の曲率半径R1)に対して、探針が先端に取り付けられた板バネ状のカンチレバーを機械的に共振させながら上下動させて、試料表面の構造を観察する動的モード原子間力顕微鏡(AFM)探針の振動特性をシミュレートして、探針の初期位置u0毎の定常状態の振動情報を記録し(変位u−時刻τ)(S103、S104)、記録された振動情報に基づいてGUIで探針の運動を可視化する。一方、AFMで得られる主要なスペクトロスコピー、例えば、振幅a−探針初期位置u0関係や、相互作用力F−探針初期位置u0関係を求め、探針(カンチレバー)の表面への接近および引き離し運動に対応させてグラフ化する。

12. 发明专利

JP2007333599A Probe design support system, probe design support method and probe design support program 有权
标题翻译：探索设计支持系统，探索设计支持方法和探索设计支持计划
公开(公告)号：JP2007333599A
公开(公告)日：2007-12-27
申请号：JP2006166587
申请日：2006-06-15
申请人： Mizuho Information & Research Institute Inc , Univ Waseda , みずほ情報総研株式会社 , 学校法人早稲田大学
发明人： WATANABE NAOTAKA , TSUKADA SHO
IPC分类号： G01Q40/00 , G01Q60/38 , G01Q90/00
CPC分类号： G01Q30/04 , G01Q70/16
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a probe design support method for efficiently designing a probe tip structure for the numerical value simulation of a measuring image, due to a scanning probe microscope to more accurately analyze the measuring image, and to provide a probe design support system and a probe design support program. SOLUTION: A control means 20 is constituted so as not only to arrange virtual atoms in the crystal structure set to an imaginary 3D space to store the coordinates of respective atoms in an atom-arranging list data memory part 220, but also to specify the virtual atom eliminated from the atom-arranging list data memory part 220, on the basis of the mirror index acquired through a mirror index setting processing part 211 and the boundary condition of the cut surface specified from the cutting position acquired by a cutting position setting processing part 212. This control means 20 counts the number of coupling bonds of the respective virtual atoms positioned on the surface of a probe cut by the cutting surface to be molded and specifies an unstable state, on the basis of the number of the coupling bonds to perform the display altering processing of the virtual atoms. COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：为了提供用于有效设计测量图像的数值模拟的探针尖端结构的探针设计支持方法，由于扫描探针显微镜以更准确地分析测量图像，并且提供探针设计支持系统和探针设计支持程序。解决方案：控制装置20构成为不仅将设置为虚拟3D空间的晶体结构中的虚拟原子设置在原子排列列表数据存储部220中存储各原子的坐标，而且还基于通过镜索引设定处理部211获取的镜像索引和从切割位置取得的切割位置指定的切割面的边界条件，指定从原子排列列表数据存储部220中排除的虚拟原子设置处理部分212.该控制装置20对位于被模制的切割表面切割的探针的表面上的各个虚拟原子的耦合键的数量进行计数，并且基于耦合的数量指定不稳定状态键进行虚拟原子的显示改变处理。版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

13. 发明专利

JP2007271318A Agglutination simulator for contact mode atomic force microscope, agglutination simulation program, recording medium recorded with agglutination simulation program, and agglutination simulation method 有权
标题翻译：用于接触模式原子力显微镜的AGGLUTINATION模拟器，AGGLUTINATION模拟程序，使用AGGLUTINATION模拟程序记录的记录介质和AGGLUTINATION模拟方法
公开(公告)号：JP2007271318A
公开(公告)日：2007-10-18
申请号：JP2006094243
申请日：2006-03-30
申请人： Japan Science & Technology Agency , 独立行政法人科学技術振興機構
发明人： SASAKI NARIAKI , TAKAHASHI TADATAKA
IPC分类号： G01Q30/04 , G01Q60/24 , G01Q60/28
CPC分类号： G01Q30/04 , G01Q60/363
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To simulate agglutination characteristics between a surface having an interaction and a probe. SOLUTION: A processing part finds a displacement of the probe and a speed of the probe (S203-S207) by solving until a set time an equation of motion of the probe when a side not attached with the probe in a cantilever is positioned in response to an initial position of the set probe. The processing part finds the interaction between the probe and a protrusion/a sample surface (S208), based on the displacement of the probe in the set time. The processing part stores the found interaction while corresponding to the initial position of the set probe (S209). The processing part sets an initial value of the displacement of the probe and an initial value of the speed of the probe in the next repetition processing, respectively as values in the final time of the displacement of the probe and the speed of the probe (S211). The processing part sets a new initial position of the probe to make the cantilever operated downwards (S215, S203), and repeats the processing shown hereinbefore. COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：模拟具有相互作用的表面和探针之间的凝集特性。解决方案：处理部件通过求解直到设定时间后探针的位移和探头的速度（S203-S207），当悬臂中未附接探头的一侧的探针的运动方程为响应于设定探头的初始位置而定位。处理部分基于探针在设定时间内的位移，找到探针与突起/样品表面之间的相互作用（S208）。处理部分对应于设定探针的初始位置存储找到的相互作用（S209）。处理部分将探针的位移的初始值和下次重复处理中的探针的速度的初始值分别设定为探针的位移的最终时间和探针的速度的值（S211 ）。处理部件设置探头的新的初始位置以使悬臂向下操作（S215，S203），并且重复上文所示的处理。版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

14. 发明专利

JPWO2004092712A1 分子の検出方法、分子の計数方法、分子局在化の検出方法、及びこれらに用いる分子検出装置有权
公开(公告)号：JPWO2004092712A1
公开(公告)日：2006-07-06
申请号：JP2005505471
申请日：2004-04-16
申请人：日立化成工業株式会社
发明人：小林　照幸 , 照幸小林 , 紀行中山 , 紀行中山 , 鶴紀田村 , 鶴紀田村 , 文錫金 , 文錫金
IPC分类号： C12M1/00 , C12N15/09 , G01N33/53 , G01N33/543 , G01N37/00 , G01Q30/04 , G01Q30/14 , G01Q60/34 , G01Q80/00 , G01Q90/00
CPC分类号： G01Q30/04 , G01N33/543
摘要：本発明は、基板上に固定化された鎖状分子を溶液中で走査プローブ顕微鏡によりプロービングすることで視覚化し識別することを特徴とする分子の検出方法に関する。また、本発明は、基板に固定化された鎖状分子を検出するための装置であって、前記基板を保持する治具、前記基板と溶液とを収容する容器、探針、探針の検出器、前記基板又は前記探針を三次元方向に走査する駆動機構、及び、前記駆動機構を制御する駆動制御回路を具備することを特徴とする分子検出装置に関する。本発明によれば、従来は困難であった、基板上に固定された鎖状分子を明確に検出することができる。

15. 发明专利

JPWO2017221423A1 走査型プローブ顕微鏡用データ処理装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2017221423A1
公开(公告)日：2018-10-25
申请号：JP2016068919
申请日：2016-06-24
申请人：株式会社島津製作所
发明人：山崎賢治 , 小暮亮雅
IPC分类号： G01Q30/04
CPC分类号： G01Q30/04
摘要：走査型プローブ顕微鏡を用いて探針で試料表面を走査することにより該試料表面の複数の測定点のそれぞれについて取得された、第1の物理量の変化に対する第2の物理量の変化を示す二軸データを処理する走査型プローブ顕微鏡用データ処理装置において、各測定点における二軸データから1乃至複数種類の特徴量を求める特徴量算出部41と、特徴量のうちの1つを使用者に選択させる特徴量選択部42と、使用者による特徴量の選択に基づいて各測定点を1画素とする二次元マッピング画像として画面表示する二次元マッピング画像表示部43と、二次元マッピング画像における画素の1つが使用者により選択されると、該選択された画素と該画素に隣接する1乃至複数の画素に対応する測定点の二軸データを画面表示する二軸データ表示部44とを備える。

16. 发明专利

JP2018105824A 組成ネットワークトポロジー構造の解析方法と解析プログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2018105824A
公开(公告)日：2018-07-05
申请号：JP2016255524
申请日：2016-12-28
申请人： TDK株式会社
发明人：米澤祐 , 吉留和宏 , 横田英明 , 松元裕之 , 後藤将太 , 郷原丈弘
IPC分类号： G01N33/00 , G01N27/62
CPC分类号： G01Q30/04 , H01F1/15308 , H01J37/285
摘要：【課題】特定元素のネットワーク構造を解析することで、各種の機能材料の特性向上を図ることが可能な組成ネットワークトポロジー構造の解析方法と解析プログラムを提供すること。【解決手段】試料に含まれる特定元素(特定化合物を含む概念で用いる)について、所定の測定範囲内で、濃度分布を三次元的に測定可能な解析対象三次元体を求める。解析対象三次元体を、より細かな複数の三次元体から成る単位グリッドに分割する。それぞれの単位グリッド毎に含まれる前記特定元素の含有量を求める。隣接する単位グリッドの間で、特定元素の含有量がそれぞれ最大となる極大点グリッドを求める。解析対象三次元体に含まれる極大点グリッドとの関係で、試料が有している特定元素の組成ネットワークトポロジー構造を定量化する。【選択図】図2

17. 发明专利

JPWO2016185518A1 原子間力顕微鏡の情報取得方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016185518A1
公开(公告)日：2018-03-01
申请号：JP2017518631
申请日：2015-05-15
申请人：オリンパス株式会社
发明人：酒井信明
IPC分类号： G01Q60/32
CPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/04
摘要：原子間力顕微鏡の情報取得方法は、カンチレバーの自由端に設けられた探針と試料の間に力学的な相互作用を生じさせながらカンチレバーと試料を相対的にラスター走査させるあいだ、探針と試料の間に第一の大きさを有する第一の相互作用を生じさせる第一の相互作用生成工程と、探針と試料の間に第一の相互作用が生じているときの試料の第一の情報を取得する第一の情報取得工程と、探針と試料の間に第二の大きさを有する第二の相互作用を生じさせる第二の相互作用生成工程と、探針と試料の間に第二の相互作用が生じているときの試料の第二の情報を取得する第二の情報取得工程とを有している。第一の相互作用の第一の大きさと第二の相互作用の第二の大きさは互いに異なっている。第一の相互作用生成工程と第一の情報取得工程と第二の相互作用生成工程と第二の情報取得工程は同一走査領域において行われる。

18. 发明专利

JP6061277B2 高分子鎖の動態解析方法、高分子の製造方法、高分子、合成高分子の製造方法及び合成高分子有权
标题翻译：聚合物链的动力学分析方法，一种制造聚合物，聚合物，制造方法和合成聚合物的合成聚合物的方法
公开(公告)号：JP6061277B2
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：JP2014554534
申请日：2013-12-26
申请人：国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学
发明人：篠原健一
IPC分类号： G01Q60/24 , G01Q30/12 , G01Q30/04
CPC分类号： G01Q60/42 , G01Q30/04 , B82Y35/00 , G01Q30/14

19. 发明专利

JP5975535B2 交流磁場の磁気プロファイル測定装置および磁気プロファイル測定方法有权
标题翻译：磁性形状测定装置和交变磁场的磁性轮廓测量方法
公开(公告)号：JP5975535B2
公开(公告)日：2016-08-23
申请号：JP2013536311
申请日：2012-09-25
申请人：国立大学法人秋田大学
发明人：齊藤準 , 吉村哲
IPC分类号： G01Q60/50
CPC分类号： G01N27/725 , G01Q30/04 , G01Q60/54 , G01R33/0385 , B82Y35/00

20. 发明专利

JP2012063212A Surface analyzer 有权
标题翻译：表面分析仪
公开(公告)号：JP2012063212A
公开(公告)日：2012-03-29
申请号：JP2010206844
申请日：2010-09-15
申请人： Shimadzu Corp , 株式会社島津製作所
发明人： MORIMOTO HISASHI
IPC分类号： G01Q30/04 , G01B11/00 , G01B11/24
CPC分类号： G01Q30/04 , B82Y35/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To improve workability when an observer specifies an interesting region on a sample about a physical quantity such as a phase other than height in observation with SPM.SOLUTION: A range indication image 34 indicating an observable range on a sample is displayed on a navigation window 33 in a sample observation display screen 30 and an interesting region setting indication frame 35 for indicating an enlarged observation range is displayed so as to be superposed to the image 34. A table of thumbnails of enlarged images acquired for the same sample up to now is displayed on an image history table display window 32, and when the observer selects and indicates an arbitrary image, a thumbnail of the image is mapped on the range indication image 34. When the observer changes the position, size and angle of the interesting region setting indication frame 35 by mouse operation while referring to the mapped thumbnail, an enlarged image on the sample corresponding to the changes is newly acquired.
摘要翻译：要解决的问题：当观察者在SPM观察中指定关于诸如高度之外的相位的物理量的样本上的感兴趣区域时，提高可操作性。解决方案：在样本观察显示屏幕30中的导航窗口33上显示指示样本上的可观察范围的范围指示图像34，并且显示用于指示放大的观察范围的感兴趣区域设置指示框35，以便叠加到图像34.在图像历史表显示窗口32上显示对于同一样本获取的放大图像的缩略图表，并且当观察者选择并指示任意图像时，图像的缩略图是映射在范围指示图像34上。当观察者通过鼠标操作改变感兴趣区域设置指示帧35的位置，大小和角度，同时参考映射的缩略图，新获取对应于该变化的样本上的放大图像。版权所有（C）2012，JPO＆INPIT

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