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11. 发明专利

JPWO2020261391A1 信号処理装置、信号処理方法及びレーダ装置有权
公开(公告)号：JPWO2020261391A1
公开(公告)日：2021-10-28
申请号：JP2019025183
申请日：2019-06-25
申请人：三菱電機株式会社
发明人：伊藤優佑 , 吉岐航 , 小竹論季 , 柳澤隆行 , 中野貴敬
IPC分类号： G01S7/487
摘要：連続光をパルス変調することで生成された送信パルス光が計測対象によって散乱された光である散乱パルス光と、連続光とのヘテロダイン検波により得られた受信信号を複素信号に変換し、複素信号を出力する複素信号生成部(29)と、複素信号生成部(29)から出力された複素信号における実部の信号と複素信号における虚部の信号とから、複素信号の位相データを算出する位相データ算出部(30)と、位相データ算出部(30)により算出された位相データに基づいて、受信信号の周波数を算出する周波数算出部(31)と、周波数算出部(31)により算出された受信信号の周波数から、計測対象の移動に伴って生じるドップラシフト周波数を算出し、ドップラシフト周波数から計測対象の移動速度を算出する移動速度算出部(32)とを備えるように、信号処理装置(20)を構成した。

12. 发明专利

JP6873288B1 分光イメージング装置有权
公开(公告)号：JP6873288B1
公开(公告)日：2021-05-19
申请号：JP2019570594
申请日：2019-07-02
申请人：三菱電機株式会社
发明人：吉岐航 , 宇野健 , 中野貴敬
IPC分类号： G01N21/27 , B64G1/22 , G03B15/00 , H04N5/225 , G01J3/36
摘要：分光イメージング装置(1)は、視野絞り(2d)、シェーディング光学素子(2c)、分散素子(2f)および二次元検出器(2h)を有した分光部(2)と、二次元検出器(2h)の各画素の電圧値を読み出す検出器読み出し部(3)と、画素の電圧値をデジタル信号に変換するAD変換部(4)と、デジタル信号を信号処理する信号処理部(5)とを備え、シェーディング光学素子(2c)が、分光部(2)における、視野絞り(2d)の前段または視野絞り(2d)の後段と、二次元検出器(2h)の前段との少なくとも一方に配置されている。

13. 发明专利

JP6289275B2 撮像制御装置、撮像装置および撮像制御方法有权
公开(公告)号：JP6289275B2
公开(公告)日：2018-03-07
申请号：JP2014116935
申请日：2014-06-05
申请人：三菱電機株式会社
发明人：佐藤真梨子 , 中野貴敬
IPC分类号： G03B7/08 , H04N5/232

14. 发明专利

JP6184166B2 結像性能評価装置有权
公开(公告)号：JP6184166B2
公开(公告)日：2017-08-23
申请号：JP2013104183
申请日：2013-05-16
申请人：三菱電機株式会社
发明人：今泉智 , 中野貴敬
IPC分类号： G02B17/00 , G01M11/02

15. 发明专利

JP5921311B2 画像処理装置及び画像処理方法有权
公开(公告)号：JP5921311B2
公开(公告)日：2016-05-24
申请号：JP2012097682
申请日：2012-04-23
申请人：三菱電機株式会社
发明人：酒井真梨子 , 松本佳宏 , 中野貴敬
IPC分类号： G06T5/00 , G06T1/00

16. 发明专利

JP2015064753A 画像処理装置有权
标题翻译：图像处理设备
公开(公告)号：JP2015064753A
公开(公告)日：2015-04-09
申请号：JP2013198264
申请日：2013-09-25
申请人：三菱電機株式会社
发明人：佐藤真梨子 , 中野貴敬
IPC分类号： G01W1/00 , G06T1/00
摘要：【課題】高精度に観測対象を検出することができるようにする。【解決手段】SV合成画像生成部3により推定された各画素における観測対象の数量Z(i,j)が閾値Z th 以上であれば、画素位置(i,j)には観測対象が存在していると判定し、数量Z(i,j)が閾値Z th 未満であれば、画素位置(i,j)には観測対象が存在していないと判定する観測対象判定部4を設け、数量算出部5が、SV合成画像生成部3により推定された各画素の数量Z(i,j)のうち、観測対象判定部4により観測対象が存在していると判定された画素における数量Z(i,j)だけを積算することで、画像全体に含まれる観測対象の数量Cを算出する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：以高精度检测物体。解决方案：当由一个像素估计的像素估计的像素的数量Z（i，j）时，对象确定部分4确定对象存在于像素位置（i，j）中 SV合成图像生成部3等于或大于阈值Z，并且当量Z（i，j）小于阈值Z时，确定在像素位置（i，j）中不存在对象。量计算部分5通过仅将由对象确定部分4确定的对象存在的像素中的数量Z（i，j）从数量Z（i，j）中积分，来计算包括在整个图像中的对象的数量C. j）在由SV合成图像生成部3估计的像素中。

17. 发明专利

JP2015064228A フーリエ干渉型分光器及び分光強度計測方法审中-公开
标题翻译：傅立叶干涉光谱仪和光谱强度测量方法
公开(公告)号：JP2015064228A
公开(公告)日：2015-04-09
申请号：JP2013197116
申请日：2013-09-24
申请人：三菱電機株式会社
发明人：中野貴敬
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/45
摘要：【課題】入射光束の強度が時間的に変化する場合でも、高精度に入射光束の分光強度を計測することができるようにする。【解決手段】光束干渉部1の光軸と平行な方向に光軸を有し、入射光束の強度を測定する強度モニタ部3と、強度モニタ部3により測定された入射光束の強度の逆数をゲイン係数に設定し、そのゲイン係数を光束強度検出部2により検出された合成光束の強度に乗算するゲイン調整部4とを備える。これにより、入射光束の強度が時間的に変化する場合でも、高精度に入射光束の分光強度を計測することができる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够精确地测量进入光束的光谱强度的傅里叶干涉光谱仪，即使当入射光束的强度以时变方式变化时，傅立叶干涉光谱仪包括：强度监测部分 3，其在与光束干涉部分1的光轴平行的方向上具有光轴，用于测量入射光束的强度; 以及增益调整部4，其将由强度监视部3测量的入射光的强度的倒数设定为增益系数，并将由光束强度检测部2检测出的合成光通量的强度乘以增益系数。因此，即使当入射光束的强度以时变方式变化时，入射光束的光谱强度也可被精确测量。

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