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1. 发明专利

JP2018151608A 光モジュール审中-公开
公开(公告)号：JP2018151608A
公开(公告)日：2018-09-27
申请号：JP2017074494
申请日：2017-04-04
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：杉本達哉 , 港谷恭輔 , 鈴木智史 , 柴山勝己 , 細川暢郎 , 井上直 , 伊藤将師 , 蔵本豊
IPC分类号： B81B3/00 , G02B26/06
CPC分类号： B81B3/00 , G01J3/06 , G01J3/45 , G01N21/35 , G02B5/00 , G02B26/00 , G02B26/06
摘要：【課題】実装領域の特性によらず安定して光学素子を実装可能な光モジュールを提供する。【解決手段】可動ミラー5は、ミラー面51aを有するミラー部51と、弾性部52と、弾性部52に接続された支持部56と、支持部56の一方とミラー部51とを互いに連結する連結部57と、を有する。ベースBは、主面Bsと、主面Bsに連通する開口31bが設けられた実装領域31と、を有する。支持部56は、弾性部52の弾性変形に応じて弾性力が付与されると共に互いの距離が可変とされており、弾性力が付与された状態において開口31bに挿入される。可動ミラー5は、ミラー面51aが主面Bsに交差した状態において、開口31bの内面から支持部56に付与される弾性力の反力により実装領域31に支持される。連結部57は、ミラー面51aの中心よりもベースB側に設けられている。【選択図】図2

2. 发明专利

JP2018151553A 光モジュール审中-公开
公开(公告)号：JP2018151553A
公开(公告)日：2018-09-27
申请号：JP2017048569
申请日：2017-03-14
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：鈴木智史 , 杉本達哉 , 港谷恭輔
IPC分类号： G02B26/06
CPC分类号： B81B3/00 , G01J3/45 , G01N21/35 , G02B26/00 , G02B26/06
摘要：【課題】デバイス層に実装された可動ミラーの確実な移動が実現された光モジュールを提供する。【解決手段】光モジュール1は、支持層2と、支持層2上に設けられたデバイス層3と、デバイス層3に実装された可動ミラー5と、を備える。デバイス層3は、可動ミラー5が実装された実装領域31と、実装領域31に接続された駆動領域32と、を有する。支持層2とデバイス層3との間には、少なくとも実装領域31及び駆動領域32に対応する空間S1が形成されている。実装領域31は、駆動領域32に含まれる一対の弾性支持領域34に挟まれており、一対の弾性支持領域34によって支持されている。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2018116045A 分光器及びフィルタ配列を調整するための方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018116045A
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：JP2017221806
申请日：2017-11-17
申请人：エスプロスフォトニックスアーゲー
发明人：ビートデコイ
IPC分类号： G01J3/36 , G02B5/20 , G02B5/28 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J2003/1221 , G01J2003/1239
摘要：【課題】特に、250nmから1150nmの波長帯において、スペクトルを記録するための分光器であり、波長に応じて放射をフィルタリングするためのセンサ配列及びフィルタ配列を備える分光器を提供。【解決手段】製造コストを削減するために、不揮発性メモリ14を備え、フィルタ配列5により覆われたセンサ画素を識別するための装置13が設けられ、センサ配列4に関連するフィルタ配列5の座標、及び/または、センサ配列4に関連するフィルタ配列5の座標変換則が、保存された座標及び/または座標変換則に基づいて、センサ画素を個々のフィルタ画素7に割り当てるために、及び/または、何れのセンサ画素が対応するフィルタ画素7により覆われているかに応じて、個々のフィルタ画素7をアクティブ化するために、不揮発性メモリに保存される。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2018518697A 圧電作動式ファブリーペロー干渉計の組み立て及び製造の方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018518697A
公开(公告)日：2018-07-12
申请号：JP2017553898
申请日：2016-04-28
申请人：トルタグ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド , TRUTAG TECHNOLOGIES INCORPORATED
发明人：エチン・サージェイ , フィンケルスタイン・ホッド
IPC分类号： H01L41/09 , G02B5/28 , G02B26/00
CPC分类号： G01J3/45 , G01B7/14 , G01B7/30 , G01J3/0202 , G01J3/26 , G02B26/001
摘要：【解決手段】調整可能光学フィルタのためのデバイスは、基板と、1つ以上の圧電素子と、ボトムミラーと、トップミラーとを含む。1つ以上の圧電素子は、基板上に配置される。1つ以上の圧電素子は、圧電厚さを有する。ボトムミラーは、基板上に配置される。ボトムミラーは、圧電厚さを上回るボトムミラー厚さを有する。トップミラーは、ボトムミラー上に配置される。トップミラーは、1つ以上の圧電素子に取り付けられる。【選択図】図1

5. 发明专利

JP2018511822A ファブリペロー干渉計のためのミラープレート、およびファブリペロー干渉計审中-公开
公开(公告)号：JP2018511822A
公开(公告)日：2018-04-26
申请号：JP2017547156
申请日：2016-03-08
申请人：テクノロギアントゥトキムスケスクスヴェーテーテーオイ
发明人：ヴァルポーラアーポ , プルニーラミカ , グリゴラッシュケストゥティス
IPC分类号： G02B26/00 , B81B3/00 , B81C1/00 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/26 , B81B7/00 , G01B9/02 , G01B9/02018 , G01B2290/25 , G01J1/0414 , G01J3/45 , G01J2003/2879 , G02B5/08 , G02B5/28 , G02B26/00 , H01L21/02019 , H01L21/2003
摘要：ファブリペロー干渉計(300)のためのミラープレート(100)を製造するための方法であって、−シリコン(Si)を含む基板(50)を提供することと、−基板(50)上に半透過性反射コーティング(110)を実施することと、−基板(50)に複数の隙間(E1)をエッチングすること、および、隙間(E1)の表面を被覆することにより、基板(50)内および/または基板(50)上に被覆領域(70a)を形成することと、−被覆領域(70a)の頂部上に第1のセンサ電極(G1a)を形成することと、−基板(50)によって支持された第2のセンサ電極(G1b)を形成することと、を含む、方法。【選択図】図6h

6. 发明专利

JPWO2016121540A1 分光測定装置および分光測定方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016121540A1
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：JP2016571942
申请日：2016-01-15
申请人：国立大学法人香川大学 , 国立大学法人香川大学
发明人：伊知郎石丸 , 伊知郎石丸
IPC分类号： G01J3/45 , G01N21/359
CPC分类号： A61B5/1455 , G01J3/45 , G01N21/17 , G01N21/359
摘要：本発明の分光測定装置は、測定対象の表面に、電場の振動方向が入射面と平行な直線偏光であるP偏光をブリュースター角で入射させる光源101と、P偏光が入射された測定対象から発せられた測定光を位相シフタ105に導入して2つの測定光に分割する導入光学系103と、2つの測定光の干渉光を形成する干渉光学系106と、干渉光の強度を検出する干渉光検出部107と、前記位相シフタ105を駆動することにより得られる干渉光の強度変化に基づき前記測定光のインターフェログラムを求める処理部201と、測定光のインターフェログラムをフーリエ変換することにより測定光のスペクトルを求める演算部202とを備える。

7. 发明专利

JP6188823B2 ハイパースペクトル・イメージングにおける改善又はそれに関する改善有权
公开(公告)号：JP6188823B2
公开(公告)日：2017-08-30
申请号：JP2015554162
申请日：2014-01-24
申请人：ラムダ − エックス
发明人：ベギン、ディディエ
IPC分类号： G01J3/447 , G01J3/45
CPC分类号： G01J3/2823 , G01J3/0208 , G01J3/45 , G01J3/4537 , G01J3/0224

8. 发明专利

JPWO2015064758A1 光検出装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2015064758A1
公开(公告)日：2017-03-09
申请号：JP2015545334
申请日：2014-10-31
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：柴山　勝己 , 勝己柴山 , 笠原　隆 , 隆笠原 , 真樹廣瀬 , 真樹廣瀬 , 敏光川合 , 敏光川合
IPC分类号： G01J3/26 , H01L31/02 , H01L31/0232
CPC分类号： G01J3/26 , G01J3/0286 , G01J3/45 , G01J5/04 , G01J5/20 , G02B26/001
摘要：分光センサ1Aは、第1ミラー31と第2ミラー41との間の距離に応じて透過した光を対向方向Dに沿って通過させる開口50aが設けられたファブリペロー干渉フィルタ10と、開口50aを通過した光を受光する受光部3aを有する光検出器3と、光検出器3が実装された配線基板2と、フィルタ10と配線基板2との間に、開口50a内の第1空間S1と連続し且つ対向方向Dから見た場合に第1空間S1を含む第2空間S2が形成されるように、配線基板2上においてフィルタ10を支持する複数のスペーサ4と、を備える。光検出器3は、第2空間S2内に配置されている。受光部3aは、対向方向Dから見た場合に第2空間S2において第1空間S1に対応する領域内に配置されている。

9. 发明专利

JPWO2015064749A1 光検出装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2015064749A1
公开(公告)日：2017-03-09
申请号：JP2015545330
申请日：2014-10-31
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：柴山　勝己 , 勝己柴山 , 笠原　隆 , 隆笠原 , 真樹廣瀬 , 真樹廣瀬 , 敏光川合 , 敏光川合
IPC分类号： G01J3/26 , G01J1/04 , G02B26/00
CPC分类号： G01J3/26 , G01J3/0286 , G01J3/45 , G01J5/04 , G01J5/20 , G02B26/001
摘要：分光センサ1Aは、光透過領域11を有するファブリペロー干渉フィルタ10と、光透過領域11を透過した光を検出する光検出器3と、光透過領域11の周囲領域においてファブリペロー干渉フィルタ10を支持するスペーサ4A,4Bと、ファブリペロー干渉フィルタ10とスペーサ4A,4Bとを接着するダイボンド樹脂5と、を備えている。ダイボンド樹脂5は、光透過領域11における光の透過方向から見た場合に、周囲領域の内側と周囲領域の外側とを連通する一つの開口部A2を有する。

10. 发明专利

JP2017026506A 分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法审中-公开
标题翻译：在光谱仪中使用的光检测器输出校正方法
公开(公告)号：JP2017026506A
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015146359
申请日：2015-07-24
申请人：株式会社堀場製作所
发明人：安藤嘉健 , 西村克美 , 境行男
IPC分类号： G01J3/45 , G01J3/02
CPC分类号： G01J3/0297 , G01J3/28 , G01J3/45 , G01J3/453
摘要：【課題】光検出器の出力補正(検量線の作成)を、短時間で、かつ簡単な構成で行える分光分析器又は分光器を提供する。【解決手段】特性が既知の光学素子6を介在させた場合と、介在させない場合との双方で、光源1から射出された光を光検出器4に入射させ、入射光に含まれる複数の所定波数の光のそれぞれに対する光検出器4の出力値である第1出力値及び第2出力値を取得し、所定波数毎の第1出力値及び第2出力値の比と、光学素子6の波数透過又は反射特性とをパラメータとして、光検出器4の出力値から入射光の強度を算出する演算式を求める。【選択図】図2
摘要翻译：光学检测器的A输出校正（创建校正曲线），时间短，以及提供光谱仪或摄谱仪能够以简单的结构。并且如果A特性介于已知的光学元件6，在不干预两者的情况下，从光源1射出的光入射到光检测器4，多个预定包括在入射光获得第一输出值和第二输出值是光检测器4的每个光学波数，所述第一输出值的比率并对于每个预定的波数的第二输出值，该光学元件6的波数的输出值作为传输或反射特性的参数，我们获得用于从光检测器4的输出值计算所述入射光的强度的方程。 .The

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