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1. 发明专利

JPWO2019167739A1 不要電波評価システム审中-公开
公开(公告)号：JPWO2019167739A1
公开(公告)日：2020-10-01
申请号：JP2019006250
申请日：2019-02-20
申请人：国立大学法人神戸大学 , 国立大学法人東北大学
发明人：永田真 , 山口正洋 , 田中聡
IPC分类号： G01R29/08
摘要：不要電波データを格納する不要電波データベースを記憶する第1の記憶装置を備えた不要電波評価システムであって、不要電波を発生する装置の近傍の複数の領域において、当該不要電波を所定の記録条件で測定して、測定結果である不要電波のデジタルデータと前記記録条件とを含む不要電波データを記録して前記不要電波データベースに格納する不要電波記録装置と、前記不要電波データベースに格納された不要電波データに対応する不要電波を再生する不要電波再生装置とを備える。ここで、前記不要電波データベースに格納された不要電波データから、不要電波特徴データのうちの少なくとも1つの特徴項目について不要電波特徴データとして特徴抽出し、前記不要電波特徴データを不要電波特徴データベースに格納する第1の制御手段とを備える。

2. 发明专利

JP6558693B2 記憶媒体、データ符号化方法、及びデータ読出回路有权
公开(公告)号：JP6558693B2
公开(公告)日：2019-08-14
申请号：JP2015150215
申请日：2015-07-30
申请人：国立大学法人神戸大学
发明人：三浦典之 , 永田真 , 渡邊強
IPC分类号： G11C17/04 , H01L29/06 , G11C11/21 , H01L27/10

3. 发明专利

JP2017107898A 半導体装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017107898A
公开(公告)日：2017-06-15
申请号：JP2015238371
申请日：2015-12-07
申请人：有限会社ナプラ , 国立大学法人神戸大学
发明人：関根重信 , 池田博明 , 永田真
IPC分类号： H01L27/04 , H01L23/522 , H01L21/768 , H01L21/3205 , H01L21/82 , H01L21/822
摘要：【課題】平面積増大を抑制しつつ、電源供給線の断面積を増大させ、発熱を抑制した半導体装置を提供すること。【解決手段】半導体素子部31及び配線部32は半導体基板1の一面101の側に設ける。電源供給導体5は、半導体基板1の他面に設けられる。縦導体7は、半導体基板1の一面101から他面102に導かれ、半導体素子部31及び配線部32と電源供給導体5とを接続する. 【選択図】図1

4. 发明专利

JP6555486B2 オンチップモニタ回路及び半導体チップ有权
公开(公告)号：JP6555486B2
公开(公告)日：2019-08-07
申请号：JP2016569363
申请日：2016-01-12
申请人：国立大学法人神戸大学
发明人：永田真 , ジャン−リュック・ダンジェ , 藤本大介 , シヴァム・バザン
IPC分类号： H04L9/10 , G01R31/28

5. 发明专利

JP6516146B2 発振回路装置及び半導体装置、並びに半導体装置の真正性検出方法有权
公开(公告)号：JP6516146B2
公开(公告)日：2019-05-22
申请号：JP2015040479
申请日：2015-03-02
申请人：国立大学法人神戸大学
发明人：三浦典之 , 永田真
IPC分类号： H03B5/08

6. 发明专利

JP2017034011A 記憶媒体、データ符号化方法、及びデータ読出回路审中-公开
标题翻译：存储介质中，数据编码方法和数据读出电路
公开(公告)号：JP2017034011A
公开(公告)日：2017-02-09
申请号：JP2015150215
申请日：2015-07-30
申请人：国立大学法人神戸大学
发明人：三浦典之 , 永田真 , 渡邊強
IPC分类号： G11C17/04 , H01L29/06 , G11C11/21 , H01L27/10
摘要：【課題】信頼性が高く、半永久的にかつ高密度でデータを記録することができる記憶媒体を提供する。【解決手段】半導体基板11の表面において半導体結晶で、少なくとも1つのナノドット14及び少なくとも1つのナノピット13のうちの少なくとも一方を形成するか否かによりデジタルデータを記憶する記憶媒体であって、ナノドット14又はナノピット13を隣接する2本のビット線BLm〜BLm+3の間であってワード線WLn上に形成し、ナノドット14又はナノピット13を形成するか否かにより変化する少なくとも2本のビット線とワード線Wとの間の容量の変化を検出してデジタルデータを読み出すデータ読出回路を備える。半導体基板11及びデータ読出回路を保護膜を用いて密封されて構成される。【選択図】図3
摘要翻译：一个可靠的，提供了一种存储介质，可以记录永久地高密度数据。在半导体基板11的表面的半导体晶体，用于存储数字数据依赖于是否以形成所述至少一个纳米点14中的至少一个和至少一个Nanopitto 13的存储介质，纳米点14 或Nanopitto 13形成在相邻的两个位线BLm的〜BLm的+ 3字线WLn的是之间，以及至少两个位线的变化取决于是否形成纳米点14或13 Nanopitto 用于通过检测所述字线W之间的电容的改变读出的数字数据的数据读出电路通过用在半导体衬底11的保护膜和一个数据读电路密封配置。点域

7. 发明专利

JP6789533B2 不要電波評価システム有权
公开(公告)号：JP6789533B2
公开(公告)日：2020-11-25
申请号：JP2020503430
申请日：2019-02-20
申请人：国立大学法人神戸大学 , 国立大学法人東北大学
发明人：永田真 , 山口正洋 , 田中聡
IPC分类号： G01R29/08

8. 发明专利

JP2016163188A 発振回路及び半導体装置、並びに半導体装置の真正性検出方法有权
标题翻译：振荡电路，半导体器件和半导体器件的认证检测方法
公开(公告)号：JP2016163188A
公开(公告)日：2016-09-05
申请号：JP2015040479
申请日：2015-03-02
申请人：国立大学法人神戸大学
发明人：三浦典之 , 永田真
IPC分类号： H03B5/08
摘要：【課題】従来技術に比較して高いセキュリティレベルでかつ簡単な回路を用いて、半導体装置が真正品であるか否かを検出して真正性を確保する。【解決手段】半導体チップをパッケージでカバーすることにより構成される半導体装置を認証するための発振回路であって、半導体チップに設けられ、負性抵抗回路を有する第1の共振回路を備え複数の発振モードで発振する発振回路と、第2の共振回路とを備える第1の回路部と、パッケージに設けられ、第1及び第2の共振回路に非接触で結合された第3の共振回路を備える第2の回路部とを備える。また、半導体装置は、発振回路で発生される発振信号を第2の共振回路で検出する発振検出回路と、発振信号の発振モードに基づいて、半導体チップ及びパッケージを含む半導体装置を認証するか否かを検出する制御回路とをさらに備える。【選択図】図10
摘要翻译：要解决的问题：与现有技术相比，通过检测半导体器件是否是正确的产品，同时使用更高的安全级别和更简单的电路来确保真实性。解决方案：一种振荡电路被配置为认证配置的半导体器件通过用封装覆盖半导体芯片。振荡包括第一电路部分和第二电路部分。第一电路部分设置在半导体芯片中，并且包括振荡电路，该振荡电路包括具有负电阻电路的第一谐振电路并以多个振荡模式振荡，以及第二谐振电路。第二电路部分设置在封装中，并且包括第三谐振电路，其不连接到第一和第二谐振电路。半导体装置还包括：振荡检测电路，用于通过第二谐振电路检测在振荡电路中产生的振荡信号; 以及控制电路，用于基于振荡信号的振荡模式来检测是否认证包括半导体芯片和封装的半导体器件。图10

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