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1. 发明公开

EP3312624A1 ANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR VIBRATIONSPRÜFUNG VON LEITERPLATTEN 审中-公开
标题翻译： PCB的振动测试的布置和方法
公开(公告)号：EP3312624A1
公开(公告)日：2018-04-25
申请号：EP16194366.7
申请日：2016-10-18
申请人： Dyconex AG
发明人： Bihler, Eckardt
IPC分类号： G01R31/28 , G01M7/00 , G01N29/28 , G01R31/304 , H04R17/00 , G01R31/312
CPC分类号： G01R31/2817 , G01M7/00 , G01N29/28 , G01R31/2808 , G01R31/2815 , G01R31/304 , G01R31/312 , H04R17/00
摘要： Die Erfindung betrifft eine Anordnung für die Prüfung von Leiterplatten-Prüflingen (1) mit mindestens einem elektrischen Netz. Um intermittierende Fehler und Schwachstellen zu erkennen, weist die Anordnung
- mindestens eine Schallerzeugungseinheit (11) mit einem Schallgeber (15),
- mindestens ein Befestigungselement (19, 103, 104) zur Befestigung eines Prüflings (1) über eine Koppelschicht (17) an dem Schallgeber (15) sowie
- eine Messeinheit (12) mit einer Strom- oder Spannungsquelle (13) auf, wobei die Strom- oder Spannungsquelle (13) elektrisch mit einem Eingang (24) eines elektrischen Netzes des Prüflings (1) verbindbar ist, wobei die Messeinheit (12) mit einem Ausgang (25) des jeweiligen elektrischen Netzes des Prüflings (1) elektrisch verbindbar und zur Erfassung eines zeitabhängigen Strom- und/oder Spannungssignals an dem Ausgang (25) des jeweiligen elektrischen Netzes des Prüflings (1) während und/oder nach Einkoppeln einer von dem Schallgeber (15) erzeugten, vorgegebenen
Schallwelle über die Koppelschicht (17) in den Prüfling (1) eingerichtet ist. Die Erfindung betrifft ferner ein entsprechendes Verfahren für die Prüfung von Leiterplatten-Prüflingen.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试具有至少一个电网的印刷电路板（1）的装置。为了检测间歇性故障和弱点，该装置包括： - 具有声音发生器（15）的至少一个声音生成单元（11）， - 至少一个紧固件（19，103，104），用于经由耦合层（17）上固定的试验片（1）声音发生器（15），以及 - 具有电流源或电压源的测量单元（12）（13），所述电流源或电压源（13）电连接到所述测试片的电网络（1）的输入端（24）可连接，其中，具有下测试该装置的相应的电网络的输出（25）的测量单元（12）（1）电连接，并在测试片（1）的相应的电网络的期间的输出（25）检测的时间依赖电流和/或电压信号和/或在通过耦合层（17）将由声音发生器（15）产生的声波耦合到测试对象（1）中之后。本发明还涉及用于测试印刷电路板测试样本的相应方法。

2. 发明公开

EP1987366A4 METHOD AND APPARATUS FOR STRAIN MONITORING OF PRINTED CIRCUIT BOARD ASSEMBLIES 审中-公开
标题翻译：方法和设备电路板安排应变监测
公开(公告)号：EP1987366A4
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：EP07751139
申请日：2007-02-20
申请人： CISCO TECH INC
发明人： AHMAD MUDASIR , TENG SUE
IPC分类号： G01L1/22
CPC分类号： G01R31/2817 , H05K1/0268 , H05K1/0271 , H05K2201/10151 , H05K2203/163

3. 发明公开

EP2122375A1 TESTVORRICHTUNG ZUM TESTEN VON PRÜFLINGEN UNTER TEMPERATUR 有权
标题翻译：用于测试测试器件样品低温
公开(公告)号：EP2122375A1
公开(公告)日：2009-11-25
申请号：EP08707065.2
申请日：2008-01-16
申请人： Hatec Handhabungstechnik Maschinenbau Gmbh
发明人： LINNERBAUER, Horst-Dieter
IPC分类号： G01R31/28 , G05D23/19
CPC分类号： G01R31/2817 , G05D23/1934
摘要： An improved test device for testing test samples (13) comprises a plurality of chambers (1) in which chambers (1) at least one respective test sample (13) to be tested can be positioned. The temperature in the chambers (1) is adjusted already before the contact and/or measuring position (E) is reached. The chambers (1) are supplied to the test and/or contact position (E) together with the test samples (13) to be tested placed therein in order to carry out a test measurement.

4. 发明公开

EP1601983A2 THERMAL STRATIFICATION TEST APPARATUS AND METHOD PROVIDING CYCLICAL AND STEADY-STATE STRATIFIED ENVIRONMENTS 审中-公开
标题翻译： DEVICE AND METHOD FOR热分层测试，循环和反分层环境的生产
公开(公告)号：EP1601983A2
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：EP04715159.2
申请日：2004-02-26
申请人： Intel Corporation
发明人： FENK, C., Walter
IPC分类号： G01R31/316
CPC分类号： G01R31/2862 , G01R31/2817 , G01R31/2874
摘要： A method and apparatus for a thermal stratification test providing cyclical and steady-state stratified environments. In order to test an electronic device, for example one having one or more levels of ball-grid-array interconnections, e.g., connecting a chip to a flip-chip substrate and connecting the flip-chip substrate to a printed circuit board of a device, an apparatus and method are provided to heat one side of the device while cooling the second side. In some embodiments, the process is then reversed to cool the first side and heat the second. Some embodiments repeat the cycle of heat-cool-heat-cool several times, and then perform functional tests of the electronic circuitry. In some embodiments, the functional tests are performed in one or more thermal-stratification configurations after cycling at more extreme thermal stratification setups. In some embodiments, a test that emphasizes solder creep is employed.

5. 发明公开

EP0733909A1 Method and apparatus for local temperature sensing for use in performing high resolution in-situ measurement 失效
标题翻译： Methode und Apparat zur lokalen Temperaturmessungfürhochauflösendein-situ Messung
公开(公告)号：EP0733909A1
公开(公告)日：1996-09-25
申请号：EP96200817.3
申请日：1996-03-25
申请人： INTERUNIVERSITAIR MICRO ELEKTRONICA CENTRUM VZW
发明人： De Ceuninck, Ward , Roggen, Jean , Stals, Lambert , De Schepper, Luc
IPC分类号： G01R31/00 , G01R19/32
CPC分类号： G01R31/2642 , G01R31/013 , G01R31/2817 , G01R31/2849
摘要： An apparatus and method for measuring a parameter of a sample or component at a measurement temperature, wherein the parameter and the measurement temperature are measured at substantially the same time. A temperature coefficient of the sample or component is also established by using temperature fluctuations measured at or near the sample at the time at which the parameter is measured.
摘要翻译：在测量温度下测量样品或组分的参数的装置和方法，其中在基本相同的时间测量参数和测量温度。样品或组分的温度系数也通过使用在测量参数时的样品处或附近测量的温度波动来建立。

6. 发明公开

EP0609402A1 IMPROVED UNITIZED TEST SYSTEM WITH BIDIRECTIONAL TRANSPORT FEATURE 失效
标题翻译：测试系统的双向传输机制。
公开(公告)号：EP0609402A1
公开(公告)日：1994-08-10
申请号：EP93908778.0
申请日：1992-10-23
申请人： Venturedyne, Ltd.
发明人： LIKEN, Peter, A. , HOLMES, Robert, J. , BOUWMAN, Georges, J.
IPC分类号： G01N17 , G01R31
CPC分类号： G01R31/2817
摘要： Un système amélioré (10) permet de tester des plaquettes de circuits électriques (33) dans une chambre de test climatique (11) et comporte un chariot (31) pouvant entrer dans cette chambre et en sortir. Le chariot (31) supporte un nombre relativement important de plaquettes de circuits imprimés (33) qu'il convient de tester, par exposition à des températures extrêmes par exemple. Un connecteur (35) et un boîtier de connexion communs (47) permettent de surveiller les tests de plaquettes grâce à des instruments placés hors de la chambre (11). Un dispositif d'insertion/extraction (49) amène le chariot (31) en position de test (51) dans la chambre (11) puis le retire de celle-ci vers une position (53) où l'on peut récupérer les plaquettes.

7. 发明授权

EP0378631B1 SYSTEME DE DETECTION DE PARTICULES LIBRES DANS UN BOITIER DE COMPOSANT ET PROCEDE DE DETECTION 失效
标题翻译：用于检测组分壳体中的自由颗粒和检测过程的系统
公开(公告)号：EP0378631B1
公开(公告)日：1993-10-06
申请号：EP89907180.7
申请日：1989-06-05
申请人： THOMSON-CSF , CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES
发明人： POTIER, Daniel , GRUAU, Jean , LECRIVAIN, Albert
IPC分类号： H05K13/08 , G01R31/28 , G01M7/00
CPC分类号： G01R31/2817 , H05K13/08
摘要： System for detecting free particles in component housings (13) mounted on a printed circuit board (1) whereby said board (1) is firmly fixed to a vibrating base (3) by pneumatic means (2). A removable piezo-acoustic sensor (4) verifies the presence of free particles in one or several components. Applications: testing components already mounted on circuit boards.

8. 发明公开

EP0460050A1 A METHOD FOR TESTING THE OPERATIONAL EFFICIENCY OF A COMPONENT OF AN ELECTRONIC CIRCUIT 失效
标题翻译：程序对电子回路元件的运行效率。
公开(公告)号：EP0460050A1
公开(公告)日：1991-12-11
申请号：EP90903988.0
申请日：1990-02-05
申请人： AGA AB
发明人： ÖHRSTRÖM, Per , NORL N, Sten
IPC分类号： G01R31
CPC分类号： G01R31/2817
摘要： L'invention concerne un procédé de test du rendement opérationnel d'un composant d'un circuit électronique à basse température, comprenant les étapes consistant à refroidir ledit composant et/ou ses connexions au reste dudit circuit, et à mesurer le fonctionnement opérationnel dudit composant ainsi que de ses connexions dans le circuit. L'invention est caratérisée par une étape supplémentaire consistant à appliquer du dioxyde de carbone à l'état solide audit composant et/ou aux connexions de ce dernier, de sorte que le dioxyde de carbone soit vaporisé tandis que l'on refroidit ledit composant et/ou lesdites connexions simultanément.

9. 发明公开

EP4379399A1 PARAMETER ESTIMATION FOR VOLTAGE MEASUREMENTS IN NOISY ENVIRONMENTS 审中-公开
公开(公告)号：EP4379399A1
公开(公告)日：2024-06-05
申请号：EP22210653.6
申请日：2022-11-30
申请人： Hitachi Energy Ltd
发明人： Asoodar, Mohsen
IPC分类号： G01R27/08 , G01R27/26 , G01R31/26 , G01R31/27 , G01R31/28 , G01R31/64
CPC分类号： G01R31/27 , G01R31/2642 , G01R31/2621 , G01R31/2813 , G01R31/2817 , G01R31/64 , G01R27/08 , G01R27/2605
摘要： A method (1000) for estimating an ON-state resistance of a semiconductor switch (100) in an electric power converter is provided. The method comprises obtaining (1010), from a measurement circuit, an ON-state voltage (vON(t)) of the semiconductor switch. The method further comprises obtaining (1020) an ON-state current (iON(t)) through the semiconductor switch. The method further comprises integrating (1050) the ON-state voltage over a period of time (T), to obtain an integrated voltage. The method further comprises integrating (1060) the ON-state current over the same period of time (T), to obtain an integrated current. The method further comprises determining (1070) an ON-state resistance estimate of the semiconductor switch based on the integrated voltage and the integrated current.

10. 发明公开

EP3242138A1 METHOD FOR DIAGNOSING STATE OF CAPACITOR IN MODULAR CONVERTER 审中-公开
标题翻译：方法在模块转换器中诊断电容器状态
公开(公告)号：EP3242138A1
公开(公告)日：2017-11-08
申请号：EP15875718.7
申请日：2015-12-30
申请人： Hyosung Corporation
发明人： OH, Jae Hoon , SEO, Jae Jin
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R19/16571 , G01R31/028 , G01R31/2817 , G01R31/40 , G06F17/18 , G08B3/10
摘要： The present invention relates to a method for diagnosing the state of the capacitor in a modular converter.
The method for diagnosing the state of the capacitor in a modular converter includes determining a FIT table depending on the input voltage and temperature of an internal capacitor for multiple sample modular converters; detecting, by an input voltage detection unit, the input voltage of the capacitor in a target modular converter, the state of the capacitor of which is to be diagnosed, during a preset period; detecting, by a temperature detection unit, the temperature of the capacitor of the target modular converter during the preset period; calculating the cumulative mean for the input voltage and the temperature, which are respectively detected by the input voltage detection unit and the temperature detection unit during the preset period; and selecting, by a control unit, a FIT value corresponding to the cumulative mean of the input voltage and the temperature, from the FIT table; and extracting the MTBF of the capacitor from the FIT table.
摘要翻译：本发明涉及一种用于诊断模块化转换器中电容器状态的方法。用于诊断模块化转换器中的电容器的状态的方法包括根据用于多个样本模块化转换器的内部电容器的输入电压和温度来确定FIT表; 通过输入电压检测单元在预设时间段内检测目标模块化转换器中的电容器的输入电压，所述目标模块化转换器中的电容器的状态将被诊断; 通过温度检测单元在预设时间段内检测目标模块转换器的电容器的温度; 计算输入电压检测单元和温度检测单元分别在预设时间段内检测到的输入电压和温度的累积平均值; 并且由控制单元从FIT表中选择与输入电压和温度的累积平均值相对应的FIT值; 并从FIT表中提取电容器的MTBF。

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