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    • 5. 发明公开
    • Pruefvorrichtung fuer elektro-optische Leiterplatten
    • 设备用于测试电光电路板
    • EP2876422A2
    • 2015-05-27
    • EP14193011.5
    • 2014-11-13
    • vario-optics ag
    • Michler, MarkusBetschon, FelixHalter, MarkusLamprecht, TobiasKremmel, JohannesBischof, DavidBeyer, Stefan
    • G01M11/00
    • G01M11/33H04B10/03H04B10/0775
    • Eine Prüfvorrichtung für elektro-optische Leiterplatten (1) mit Lichtwellenleitern (4) umfasst einen Beamer (9) und eine Kamera (10), die so positionierbar sind, dass vom Beamer (9) abgegebenes Licht mittels eines ersten Umlenkelementes (6) in Lichtwellenleiter (4) der Leiterplatte (1) einkoppelbar und mittels eines zweiten Umlenkelementes (7) in das Blickfeld der Kamera (10) auskoppelbar ist. In einer ersten Phase wird der Beamer (9) benutzt, um für jeden Umlenkspiegel des ersten Umlenkelementes (6) die Lage zu bestimmen, die ein Lichtfleck in dem von dem Beamer (9) projizierten Bild einnehmen muss, damit der Lichtfleck den Umlenkspiegel beleuchtet. In einer zweiten Phase wird der Beamer (9) benutzt, um wenigstens einen Umlenkspiegel selektiv mit dem ihm zugeordneten Lichtfleck zu beleuchten und die Prüfung des dem wenigstens einen Umlenkspiegel zugeordneten Lichtwellenleiters durchzuführen.
    • 用于电光印刷电路板(1)与光波导(4)的测试装置,包括:投影仪(9)和被定位成使得通过在光波导的第一偏转元件(6)的装置从所述投影机(9)发射的光的照相机(10) (4)在电路板(1),并且可以通过在视耦合出相机(10)的场的第二偏转元件(7)而被耦合。 在投影机(9)的第一相位被用于确定所述的第一偏转元件(6),它必须占据的光点,其中所述投影机(9)投影图像,从而使光点照射偏转反射镜的每一个反射镜的位置。 在投影机(9)的第二阶段用于与其相关联的光点选择性地照亮至少一个偏转镜,和至少执行光波导相关联的偏转镜的测试。