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1. 发明公开

EP2937664A1 SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE FLUSHNESS 有权
标题翻译：系统VERFAHREN ZURPRÜFUNGDEROBERFLÄCHENBÜNDIGKEIT
公开(公告)号：EP2937664A1
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：EP15164409.3
申请日：2015-04-21
申请人： Lockheed Martin Corporation
发明人： Delaune, Michael J. , Buchanan, William B.
IPC分类号： G01B11/14
CPC分类号： G01B21/24 , G01B21/16
摘要： A system includes one or more memory devices operable to store surface profile data and a processor (402) operable to execute logic. The processor (402) accesses the surface profile data for a first surface (124) of a first component (120) and a second surface (134) of a second component (130), and determines, based at least in part on the surface profile data for the first and second surfaces (124, 134), a best-fit between the first and second surfaces (124, 134). The processor (402) determines a first distance (160) from a first edge-of-part point (128) on the first surface (124) to the best-fit, and a second distance (170) from a second edge-of-part point (138) on the second surface (134) to the best-fit. The processor (402) determines a flushness between the first surface (124) and the second surface (134) based at least in part on the first and second distances (160, 170).
摘要翻译：系统包括可操作以存储表面轮廓数据的一个或多个存储装置和可操作以执行逻辑的处理器（402）。处理器（402）访问第一部件（120）的第一表面（124）和第二部件（130）的第二表面（134）的表面轮廓数据，并且至少部分地基于表面用于第一和第二表面（124,134）的轮廓数据，在第一和第二表面（124,134）之间的最佳配合。处理器（402）确定从第一表面（124）上的第一边缘部分（128）到最佳配合的第一距离（160）和从第二边缘到第二边缘的第二距离（170）（138）在第二表面（134）上的最佳配合。处理器（402）至少部分地基于第一和第二距离（160,170）来确定第一表面（124）和第二表面（134）之间的平齐度。

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