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81. 发明公开

EP1710590A1 Verfahren zum Testen und Testsystem für energietechnische Einrichtungen 审中-公开
标题翻译：埃菲尔铁塔（Einrichtungen）
公开(公告)号：EP1710590A1
公开(公告)日：2006-10-11
申请号：EP05007778.3
申请日：2005-04-08
申请人： Omicron electronics GmbH
发明人： Steinhauser, Fred, Dr.
IPC分类号： G01R19/25 , H02H3/00 , G01R31/34 , G01R31/327 , G01R31/08 , G01R29/16 , G01R29/18 , G01R19/165
CPC分类号： G01R19/2513 , G01R19/16533 , G01R29/16 , G01R29/18 , G01R31/085 , G01R31/3271 , G01R31/3272 , G01R31/3274 , G01R31/3275 , G01R31/34
摘要： Es wird ein Verfahren zum Testen von energietechnischen Einrichtungen (15, 16) offenbart, welches Testeinheiten (101-104) und eine zentrale Steuervorrichtung (3) zum Steuern der Testeinheiten (101-104) umfasst. Dabei werden mithilfe der Testeinheiten (101-104), welche räumlich auseinander liegen, die energietechnischen Einrichtungen (15, 16) getestet. Zur Steuerung sind die Testeinheiten (101-104) dabei direkt über ein Kommunikationsnetz (1), gegebenenfalls das Internet, mit der zentralen Steuervorrichtung (3) verbunden. Insbesondere können Hauptaufgaben der Tests der energietechnischen Einrichtungen (15, 16) durch Testmittel (201, 202) ausgeführt werden, welche innerhalb der zu testenden energietechnischen Einrichtungen (15, 16) angeordnet sind.
摘要翻译：该方法涉及使用布置在间隔开的位置的测试单元（101-104）来测试部件（15,16）。测试单元通过通信网络（1）直接连接到中央控制单元（3），以控制和同步测试单元。中央控制单元可以以膝上型计算机的形式提供。测试系统包含独立声明。

82. 发明公开

EP1398644A1 Verfahren zum Testen eines Transformators und entsprechende Testvorrichtung 有权
标题翻译： Verfahren zum Testen eines Transformers und entsprechende Testvorrichtung
公开(公告)号：EP1398644A1
公开(公告)日：2004-03-17
申请号：EP02020424.4
申请日：2002-09-11
申请人： Omicron electronics GmbH
发明人： Süss, Franz , Krüger, Michael, Dr. , Kaufmann, Friedrich
IPC分类号： G01R35/02
CPC分类号： G01R35/02 , G01R31/027
摘要： Um mit möglichst geringem Aufwand und insbesondere mit einer Prüfsignalquelle mit geringer Ausgangsleistung einen Transformator, insbesondere einen Messwandler, testen zu können, wird vorgeschlagen, an den zu testenden Transformator ein Prüfsignal anzulegen, dessen Frequenz kleiner als die Nennfrequenz des Transformators ist. Mit Hilfe des Prüfsignals werden mehrere frequenzabhängige Parameter, insbesondere der Wirbelstromwiderstand (Reddy) und die Hysteresekurve (Uc, I L ) des Transformators, gemessen, um daraus ein Simulationsmodell abzuleiten, welches das Verhalten des Transformators bei unterschiedlichen Frequenzen simuliert. Mit Hilfe dieses Simulationsmodells kann schließlich auf das Verhalten des Transformators, das heißt auf die sekundärseitige Klemmenspannung (U CT ) und den sekundärseitigen Klemmenstrom (I CT ), bei Betrieb mit einer von der Frequenz des Prüfsignals abweichenden Frequenz, insbesondere bei Betrieb mit der Nennfrequenz des Transformators, geschlossen werden.
摘要翻译：用于测试变压器的测试方法，其中将具有比变压器额定频率更小的频率的测试信号施加到变压器，并用于测量多个独立于频率的参数，特别是涡流电阻和变压器滞后曲线。这些用于创建一个模拟不同频率下变压器行为的变压器仿真模型。使用该模型研究变压器次级侧的行为，特别是端子电压和电流的行为。独立的要求是用于测试变压器的测试装置，具有测试信号源（2），用于测量变压器参数的测量装置（4）和评估单元（5）。

83. 发明授权

EP0904549B1 VERFAHREN ZUR PRÜFUNG VON DIFFERENTIALSCHUTZRELAIS/-SYSTEMEN 失效
标题翻译：程序对测试差动保护继电器/系统
公开(公告)号：EP0904549B1
公开(公告)日：2003-02-19
申请号：EP98916893.5
申请日：1998-03-06
申请人： Omicron Electronics GmbH
发明人： GRÜNERT, Hagen
IPC分类号： G01R31/327
CPC分类号： G01R31/3272 , H02H7/045
摘要： The invention relates to a method and device for testing differential protection relays or differential protection relay systems. The operating means to be protected by the differential protection relay or differential protection relay system are simulated with all their most important parameters by means of a test device. The test currents calculated in the simulation, in accordance with the means to be protected and other parameters, are sent to the differential protection relay or relay system which is connected to the testing device, so that the operating and error performances of the differential protection relay or relay system can be detected by means of the testing current applied, and can be evaluated in accordance with the specified tolerance data of the differential protection relay or differential protection relay system.

84. 发明公开

EP0904548A1 TESTSYSTEM UND TESTVERFAHREN 失效
标题翻译：测试系统及测试方法
公开(公告)号：EP0904548A1
公开(公告)日：1999-03-31
申请号：EP98916966.0
申请日：1998-03-17
申请人： Omicron Electronics GmbH.
发明人： PETER, Winfried , HENSLER, Thomas
IPC分类号： G01R31
CPC分类号： G01R31/3272 , G01R31/00
摘要： The invention relates to a test system and test method for testing the operatability of test samples (7). A user-specific selection can be made from several prepared test modules (2a-2c), which can be assembled to give the test specification of one's choice. A control module (1) carries out the whole test which corresponds to the user-specific test specification, and directs the individual selected test modules (2a-2c) in accordance with this test specification and in the desired order. Advantageously, a test report is automatically established regarding the test results of the individual selected test modules (2a-2c), which report is particularly incorporated into the user-specific test specification.

85. 发明公开

EP4200608A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM ENTGASEN EINER EINRICHTUNG UND ENTSPRECHENDES PRÜFSYSTEM ZUR GASANALYSE 审中-实审
公开(公告)号：EP4200608A1
公开(公告)日：2023-06-28
申请号：EP21791277.3
申请日：2021-10-06
申请人： Omicron electronics GmbH
发明人： GISELBRECHT, Dietmar , ANGLHUBER, Martin
IPC分类号： G01N33/28 , B01D19/00

86. 发明公开

EP4046339A1 SICHERE PRÜFANORDNUNG 有权
公开(公告)号：EP4046339A1
公开(公告)日：2022-08-24
申请号：EP20792648.6
申请日：2020-10-16
申请人： Omicron electronics GmbH
发明人： NUSSBAUMER, Roland , BLOCHER, Thomas , KUKUK, Matthias
IPC分类号： H04L12/423

87. 发明授权

EP3149807B1 KONTAKTIERUNGSEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM ELEKTRISCHEN KONTAKTIEREN EINES PRÜFOBJEKTS 有权
公开(公告)号：EP3149807B1
公开(公告)日：2020-07-08
申请号：EP15727928.2
申请日：2015-05-29
申请人： Omicron electronics GmbH
发明人： KLAPPER, Ulrich
IPC分类号： H01R4/30 , H01R4/34 , H01R11/24

88. 发明授权

EP3417300B1 PRÜFGERÄT UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINER STEUEREINHEIT EINER SCHALTVORRICHTUNG EINER SCHALTANLAGE 有权
公开(公告)号：EP3417300B1
公开(公告)日：2020-04-08
申请号：EP17703757.9
申请日：2017-02-08
申请人： Omicron electronics GmbH
发明人： JOCHUM, Michael , GEIGER, Stephan , KÜNG, Rainer
IPC分类号： G01R31/327 , H02H3/04

89. 发明公开

EP3417301A1 PRÜFGERÄT ZUM PRÜFEN EINER STEUEREINHEIT EINER SCHALTVORRICHTUNG EINER SCHALTANLAGE 有权
公开(公告)号：EP3417301A1
公开(公告)日：2018-12-26
申请号：EP17704258.7
申请日：2017-02-10
申请人： Omicron electronics GmbH
发明人： JOCHUM, Michael , GEIGER, Stephan , KÜNG, Rainer
IPC分类号： G01R31/327
摘要： In order to enable improved functional testing of a control unit (6) of the switching apparatus (5) of an electrical switchgear (4), the invention provides a test device (10) which has a signal input (9) having a positive pin (p) and a negative pin (n) and is designed in such a manner that an input signal (U
e ) can be applied between the positive pin (p) and the negative pin (n). The test device (10) also has a separating unit (12) which is connected to the positive pin (p) and to the negative pin (n) and is configured to separate a positive signal component in the form of a positive trace (U
e+ ) from the input signal (U
e ) and to output said signal component at a first pin (A) and to separate a negative signal component in the form of a negative trace (U
e- ) from the input signal and to output said signal component at a second pin (B). The use of the test device to test a control unit (6) of the switching apparatus (5) is described, wherein the test device (10) simulates the switching apparatus (5), the signal input (9) of the test device is connected to the control unit (6) and the control unit (6) outputs an input signal (U
e ) to the signal input (9).

90. 发明公开

EP3417300A1 PRÜFGERÄT UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINER STEUEREINHEIT EINER SCHALTVORRICHTUNG EINER SCHALTANLAGE 有权
公开(公告)号：EP3417300A1
公开(公告)日：2018-12-26
申请号：EP17703757.9
申请日：2017-02-08
申请人： Omicron electronics GmbH
发明人： JOCHUM, Michael , GEIGER, Stephan , KÜNG, Rainer
IPC分类号： G01R31/327
摘要： The invention relates to a testing device (10) to enable improved functional testing of a control unit (6) of the switching device (5) of an electrical switchgear installation (4). Said testing device (10) has a signal input (9) and a controlled current sink (20), wherein the current sink (20) is connected to the signal input (9) and shunts an input current (i
q ) from the signal input (9) in order to realize a dynamically adjustable input impedance (Z). The controlled current sink (20) can be realized by means of a controlled control circuit, in which a controlled voltage source (U
q ) and a shunt (R
1 ) are present, wherein the magnitude of the input current (20) of the controlled current sink (20) is set by a current (i
1 ) flowing across the shunt (R
1 ), wherein the current (i
1 ) is set by the controlled voltage source (U
q ). The invention further relates to a method for testing the control unit (6), wherein the testing device (10) has a signal input (9), to which an input voltage (U
e ) can be applied, and, in the testing device (10), a controlled current sink (20) shunts an input current (i
q ) from the signal input (9) and thereby realizes a dynamically adjustable input impedance (Z). The invention further relates to the use of the testing device to test a control unit (6) of the switching device (5), wherein the testing device (10) simulates the switching device (5), the signal input (9) of the testing device is connected to the control unit (6), and an input signal (U
e ) is output to the signal input (9) by the control unit (6).

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