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    • 61. 发明公开
    • Polarimetric directional field sensor
    • Gerichteter,极化仪Feldsensor。
    • EP0458255A2
    • 1991-11-27
    • EP91108161.0
    • 1991-05-21
    • PIRELLI CAVI S.p.A.
    • Simonelli, Francesco
    • G01R29/08G01R1/067G01R15/24G01R29/12
    • G01R29/12G01R1/071G01R29/0885
    • A polarimetric directional field sensor comprises an emitter and receiver (1) of measurement signals, connected by optical fibres (2, 2a, 2b) to a portable probe (3). The probe (3) comprises an optical element (11, 13) sensitive to the field to be measured and means (9, 20) for polarizing the measurement signal. The optically sensitive element (11,13) is in the form of a birefringent crystal having a crystalline structure which provides at least one plane in which the induced birefringence is modified by a single component of the field to be measured. The crystal is cut and oriented in the probe so that the direction of propagation of the optical measurement signal inside the crystal is normal to this plane, the polarizing means (9, 20) being oriented at 45° to the orthogonal axes in which the crystal's refractive indices are modified by the desired component of the field.
    • 偏振方向场传感器包括由光纤(2,2a,2b)连接到便携式探头(3)的测量信号的发射器和接收器(1)。 探针(3)包括对要测量的场敏感的光学元件(11,13)和用于偏振测量信号的装置(9,20)。 光敏元件(11,13)是具有晶体结构的双折射晶体的形式,其提供至少一个平面,其中感应双折射被待测场的单个分量修饰。 晶体被切割并定向在探针中,使得晶体内的光学测量信号的传播方向垂直于该平面,偏振装置(9,20)与晶体的正交轴垂直取向为45度 折射率由场的期望分量修改。
    • 65. 发明公开
    • ELECTRIC FIELD MEASURING DEVICE
    • EINRICHTUNG ZUR MESSUNG DES ELEKTRISCHEN FELDS
    • EP2378298A1
    • 2011-10-19
    • EP09829151.1
    • 2009-11-27
    • Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd.
    • MIYAZAKI NorikazuSAKAI Takeshi
    • G01R29/08
    • G01R29/0885G01R29/0871G01R33/032
    • The electric field measuring device measures an electric field intensity of an electromagnetic wave generated from equipment under test 8 in an area for detecting an electromagnetic wave. An antenna 1 and an optical intensity modulator having a Mach-Zehnder type optical waveguide are inside the area and an output signal of the antenna is supplied to a modulation electrode of the optical intensity modulator. A light source unit, a light receiving unit, and a DC bias control unit controlling a DC bias voltage supplied to the optical intensity modulator are outside the area. An optical wave is guided to the optical intensity modulator from the light source unit, and is guided to the light receiving unit from the optical intensity modulator via an optical fiber 4. The DC bias voltage is supplied to the optical intensity modulator from the DC bias control unit via a power supply line 4.
    • 电场测量装置测量在检测电磁波的区域中由被测设备8产生的电磁波的电场强度。 天线1和具有马赫 - 曾德尔型光波导的光强度调制器在该区域的内部,天线的输出信号被提供给光强度调制器的调制电极。 光源单元,光接收单元和控制提供给光强度调制器的DC偏置电压的DC偏置控制单元在该区域之外。 光波从光源单元引导到光强度调制器,并通过光纤4从光强度调制器引导到光接收单元。直流偏置电压从直流偏压提供给光强度调制器 控制单元经由电源线4。
    • 67. 发明公开
    • Sonde électro-optique de mesure de champs électriques ou électromagnétiques à asservissement de la longueur d'onde du point de fonctionnement
    • 用于与所述工作点的波长的一个控制电或电磁场的测量的电光探针
    • EP1674878A1
    • 2006-06-28
    • EP05111366.0
    • 2005-11-28
    • THALES
    • BREUIL, NicolasDUVILLARET, Lionel
    • G01R33/032G01R15/24G01R29/08
    • G01R29/0885G01R15/242G01R15/243
    • La présente invention concerne le domaine des dispositifs permettant d'effectuer des mesures ponctuelles de l'intensité d'un champ électrique, magnétique ou électromagnétique présent dans une zone donnée de l'espace.
      L'invention consiste en un dispositif basé sur une technique polariseur / analyseur, comportant au moins:

      une source lumineuse de longueur d'onde variable et commandable,
      un capteur électro-optique dont un élément est constitué d'un matériau optique biréfringent, dont l'une des faces est réfléchissante,
      une fibre optique à maintien de polarisation placée entre la source lumineuse et connectée au capteur de façon à orienter l'axe de polarisation du faisceau émis dans une direction faisant un angle sensiblement égal à 45° par rapport aux axes diélectriques propre de la partie active du capteur,
      un élément photo-détecteur pour convertir le faisceau lumineux réfléchi par le capteur en un signal électrique proportionnel à la puissance lumineuse reçue,
      des moyens de contrôle permettant de faire varier la valeur de la longueur d'onde λ émise.

      Le dispositif selon l'invention asservit le point de fonctionnement du capteur électro-optique en faisant varier la longueur d'onde émise par la source en fonction de la puissance optique reçue par le photodétecteur.
      L'invention trouve son application dans tous les domaines où la mesure ponctuelle ou la cartographie dans un espace donné espace d'un champ électrique ou électromagnétique revêt une certaine importance.
    • 该装置具有对电光传感器(23)和光源(21)之间放置一个偏振维持光纤(24)。 该传感器具有一个双折射部分做分解所发射的光束分成两个波直线偏振光和垂直于海誓山盟。 一种光偏振维持循环器(27)开的光束,其功率是基于由所述传感器反射的波之间的相位差。
    • 68. 发明公开
    • DISPOSITIF ET PROCEDE DE DETECTION ET DE MESURE NON INVASIVES D’UN CHAMP ELECTRIQUE
    • 装置和方法进行检测和电场的非侵入式测量
    • EP1656566A1
    • 2006-05-17
    • EP04786325.3
    • 2004-08-18
    • CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE CACHAN
    • ZYSS, JosephTOURY, Timothée, Pol, Jean
    • G01R31/308
    • G01R31/308G01R29/0885G02B21/0016
    • The invention relates to a device which is used for the non-invasive detection of an electric potential or field, or the spatial and/or temporal derivatives thereof, in a medium with a linear or quadratic electrooptical effect. The inventive device (1) comprises: an optical source (3) which is used to illuminate at least one zone of the medium that is to be probed with a light beam, the path of which defines an optical axis; and means for mapping the phase shift of the light beam (7) of the zone to be probed. The aforementioned measuring means which are used to map the light beam (7) phase shift comprise a confocal microscope (15) in which the zone to be probed is placed in order to form an image of a plane of said zone.
    • 共焦显微镜(15),用于映射在所述光束(7)的相位差。 被检查区位于光束所以没有它的一个平面图像形成。 干涉仪(5)将所述源光束(19)成参考光束(21)和上检查光束(23)。 它可以测量参考 - (21)和检查光束(23)之间的相移通过检查区已通过。 在干涉仪中,参考和检查光束长度控制是活性高达截止频率fc。 映射系统(7)具有一个信号采样频率fa超过截止频率fc。 该介质可以沿着检查光束(23)根据三个空间轴移位。 扫描器(33)扫过查阅─和参考区域(36)。 通过相位变化的波束(7)注册的图像的图像采集频率f,超过截止频率fc。 扫描仪中在频率fx和fy的两个方向分别进行操作,以形成n×m个像素的图像,满足FX = FY / N和fy = FA /米。 四个声光偏转器扫描光束沿着所述轴和前方的重新对准梁和继共焦显微镜。 伽利略透镜增加了第一阶和光轴之间的角度。 入射光束的偏振被提前显微镜的控制。