专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

11. 发明授权

EP1489831B1 Color management system using distributed profiles for color printing systems 有权转让
标题翻译：使用彩色印刷系统的分布式配置文件的色彩管理系统
公开(公告)号：EP1489831B1
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：EP03013650.1
申请日：2003-06-16
申请人： X-Rite Europe GmbH
发明人： Hasler, David , Campa, Roland , Beyer, Martin , Lamy, Francis , Ehbets, Peter , Zimmermann, Bruno
IPC分类号： H04N1/60
CPC分类号： H04N1/603

12. 发明公开

EP2728342A1 Handmessgerät zur Erfassung des visuellen Eindrucks eines Messobjekts 有权转让
标题翻译： Handmessgerätzur Erfassung des visuellen Eindrucks eines Messobjekts
公开(公告)号：EP2728342A1
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：EP12191413.9
申请日：2012-11-06
申请人： X-Rite Europe GmbH
发明人： Ehbets, Peter , Frick, Beat , Wegmüller, Mark , Hünkemeier, Jörg , Niederer, Guido
IPC分类号： G01N21/47 , G01N21/25 , G01N21/57 , G01J3/02 , G01J3/50
CPC分类号： G01J3/50 , G01J3/0272 , G01J3/504 , G01N21/255 , G01N21/474 , G01N21/57 , G01N2021/4735 , G01N2021/4783 , G01N2201/0221
摘要： Ein Handmessgerät für Appearance Analysen enthält eine Messanordnung (MA), die eine Anzahl von Beleuchtungseinrichtungen (21-27) zur Beaufschlagung eines Messfelds mit Beleuchtungslicht in mindestens drei Beleuchtungsrichtungen und eine Anzahl von Aufpickeinrichtungen (31-33) zur Erfassung des Messlichts in mindestens einer Beobachtungsrichtung umfasst. Die Beleuchtungsrichtungen und die Beobachtungsrichtungen liegen in einer gemeinsamen System-Ebene (SP). Mindestens eine Aufpickeinrichtung (32) ist zur örtlich integralen spektralen Ausmessung des Messlichts und mindestens eine Aufpickeinrichtung (33) ist zur örtlich aufgelösten farblichen Ausmessung des Messlichts ausgebildet. Die spektrale Aufpickeinrichtung (32) und die örtlich auflösende Aufpickeinrichtung (33) sind so angeordnet, dass sie das vom Messfeld zurückgestrahlte Messlicht unter denselben Beobachtungsbedingungen und insbesondere aus derselben Beobachtungsrichtung empfangen.
摘要翻译：手持测量仪器具有测量装置和接收具有测量开口的壳体的电子控制器，测量场的照明通过该测量开口发生在测量对象的表面上。成像啄食装置（33）被形成用于测量光的颜色测量。光谱啄食装置（32）和成像啄食装置被布置成使得它们在相同的观察条件下，特别是从相同的观察方向接收测量场放射测量光。

13. 发明授权

EP2034286B1 Verfahren zur Druckprozesskontrolle unter Verwendung eines spektralen Messsystems mit spatialem Lichtmodulator 有权转让
标题翻译：使用分光测量系统与光调制器spatialem用于打印过程控制的方法
公开(公告)号：EP2034286B1
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：EP07115905.7
申请日：2007-09-07
申请人： X-Rite Europe GmbH
发明人： Ehbets, Peter
IPC分类号： G01J3/10 , G01N21/25 , H04N1/60
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0229 , G01J3/46 , G01J3/463 , G01J3/50 , G01J3/501

14. 发明授权

EP2003431B1 Verfahren zur Farbmessung von gedruckten Proben mit Aufhellern 有权
标题翻译：一种用于与增白剂印刷样品的颜色测量方法
公开(公告)号：EP2003431B1
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：EP07110191.9
申请日：2007-06-13
申请人： X-Rite Europe GmbH
发明人： Wegmüller, Mark , Ehbets, Peter , Frick, Beat
IPC分类号： G01N21/64 , G01J3/46 , G01N21/25
CPC分类号： G01N21/251 , G01N21/64

15. 发明公开

EP2034286A1 Spektrales Messsystem mit spatialem Lichtmodulator 有权转让
标题翻译：使用分光测量系统与光调制器spatialem用于打印过程控制的方法
公开(公告)号：EP2034286A1
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：EP07115905.7
申请日：2007-09-07
申请人： X-Rite Europe GmbH
发明人： Ehbets, Peter
IPC分类号： G01J3/10 , G01N21/25 , H04N1/60
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0229 , G01J3/46 , G01J3/463 , G01J3/50 , G01J3/501
摘要： Ein Messsystem zur fotoelektrischen Abtastung von Messstellen eines Messobjekts umfasst einen Beleuchtungskanal (21-24) zur Beaufschlagung des in einer Messebene (MP) angeordneten Messobjekts (M) mit Beleuchtungslicht und einen Messkanal (11-13) zum Auffangen und zur fotoelektrischen Wandlung des von den Messstellen des Messobjekts M zurückgeworfenen Messlichts. Der Beleuchtungskanal und/oder der Messkanal ist dafür ausgebildet, die Reflexionseigenschaften der Messstellen in mehreren Wellenlängenbändern zu erfassen. Der Beleuchtungskanal (21-24) weist einen von einer elektronischen Steuerungseinheit (40) gesteuerten spatialen Lichtmodulator (23) zur Erzeugung eines räumlichen Beleuchtungsmusters auf, welches die selektive Beaufschlagung von interessierenden Messstellen (25) des Messobjekts (M) mit Beleuchtungslicht bewirkt. Die Steuerungseinheit (40) ist mit Bildverarbeitungsfunktionalitäten ausgestattet und dazu ausgebildet, aus Bilddaten des Messobjekts (M) für den Anwendungszweck geeignete Messstellen (25) zu lokalisieren und entsprechende Beleuchtungsmuster zur selektiven Beleuchtung der Messstellen zu berechnen. Alternativ kann die Steuerungseinheit (40) Beleuchtungsmuster auch aufgrund von Positionsdaten von interessierenden Messstellen (25) berechnen und den spatialen Lichtmodulator (23) zur Erzeugung der berechneten Beleuchtungsmuster ansteuern. Der Messkanal weist eine bildgebende Abtasteinrichtung (11) für das Mcssobjckt (M) auf, welche Abtastcinrichtung Bilddaten des Messobjekts erzeugt und der Steuerungseinheit (40) zur Berechnung von Beleuchtungsmustern zuführt.
Die spatial intensitätsmässig modulierten Beleuchtungsmuster erlauben eine optische Isolation der interessierenden Messstellen und dadurch die Elimination von optischen Übersprecheffekten. Dadurch ist das Messsystem zur präzisen spektralen Ausmessung von sehr kleinen, innerhalb des Messobjekts verteilten Messstellen geeignet.
摘要翻译：该测量系统，通过该光在测量平面（MP）设置在测量对象（M）上照明的照明通道。所述照明通道具有通过在电子控制单元（40）控制的空间光调制器（23），以产生空间照明图案被照射在测量对象的选择性测量点。由测量对象物反射的光在测量信道被捕获。光被转换成电能的照片。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式