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11. 发明授权

EP0602466B1 Monolithisch integrierter Spannungsregler 失效
标题翻译：单片集成稳压器
公开(公告)号：EP0602466B1
公开(公告)日：1998-03-04
申请号：EP93119431.0
申请日：1993-12-02
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Theus, Ulrich, Dr.-Ing. , Kessel, Jürgen, Dipl.-Ing.
IPC分类号： G05F1/56 , G05F3/30
CPC分类号： G05F1/563 , G05F1/575 , H03F1/305 , Y10S323/901

12. 发明公开

EP0865075A3 Verfahren zum Herstellen von räumlich strukturierten Bauteilen 失效
标题翻译：一种用于生产结构化空间元件的方法
公开(公告)号：EP0865075A3
公开(公告)日：2000-02-02
申请号：EP98102579.4
申请日：1998-02-14
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Igel, Günther, Dipl.-Ing. , Mall, Martin, Dr. Dipl.-Phys.
IPC分类号： H01L21/78 , H01L21/48 , H01L21/60 , H01L21/24 , H01L23/367
CPC分类号： B81C1/00666 , B81B2203/0136 , B81C2201/0136 , B81C2201/0173
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von räumlich strukturierten Bauteilen 10 aus einem Körper 1, bei dem auf der Rückseite des Körpers 1 eine Verzögerungsschicht 8 mit Durchbrechungen 9 zum Verzögern eines Abtragvorgangs des Materials des Körpers vorgesehen wird, auf der Rückseite des Körpers 1 Gebiete 5 aus einem migrationsfähigen Material aufgebracht werden, der Körper 1 einem thermischen Migrationsverfahren unterzogen wird, so daß Migrationsbereiche 7 entstehen, und dann die Bauteile 10 in einem einzigen Abtragvorgang aus dem Körper 1 herausgetrennt und die Migrationsbereiche 7 freigelegt werden.

13. 发明公开

EP0973027A2 Verfahren zum Herstellen einer Elektrode 有权
公开(公告)号：EP0973027A2
公开(公告)日：2000-01-19
申请号：EP99112860.4
申请日：1999-07-03
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Igel, Günter
IPC分类号： G01N27/30 , G01N27/403
CPC分类号： G01N27/30
摘要： Bei einem Verfahren zum Herstellen einer Elektrode (1) wird mit einem herkömmlichen Strukturierungsverfahren auf einem Substrat (2) eine elektrisch leitfähige Oberflächenstruktur erzeugt, die wenigstens eine Spitze (3) oder Kante (4) aufweist. Im Bereich der Spitze (3) oder Kante wird auf das Substrat (2) eine Elektrodenschicht (5) aufgalvanisiert und/oder durch elektrostatisches Pulverbeschichten aufgetragen. Anschließend wird ein die an der Spitze (3) oder Kante befindliche Elektrodenschicht (5) umgrenzender Oberflächenbereich des Substrats (2) mit einer chemischen Reaktion in eine isolierende Schicht (8) umgewandelt. Die Elektrodenschicht (5) kann auch dadurch aufgebracht werden, daß im Bereich der Spitze (3) oder Kante eine Chemikalie freigesetzt wird, die bei Bestrahlung mit elektromagnetischer und/oder korpuskularer Strahlung einen elektrisch leitfähigen Stoff absondert. Diese Chemikalie wird dann im Bereich der Spitze (3) oder Kante mit optischer Strahlung beaufschlagt.
摘要翻译：该方法包括将供应管道布置在基板（2）中，该基板（2）在基板的表面附近开口靠近尖端（3）或边缘。供应管道用于在尖端或边缘附近提供化学药品，并使用电磁或粒子辐射来沉淀导电材料。用于分离导电材料的化学品在电磁或粒子辐射下在尖端或边缘的区域中的尖端或边缘处照射。

14. 发明公开

EP0962524A1 Verfahren und Vorrichtung zur intrazellulären Manipulation einer biologischen Zelle 有权
标题翻译：用于生物细胞的细胞内操作的方法和装置
公开(公告)号：EP0962524A1
公开(公告)日：1999-12-08
申请号：EP99107819.7
申请日：1999-04-20
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Baumann, Werner, Dr. , Ehret, Ralf, Dr. , Lehmann, Mirko, Dipl.-Phys. , Igel, Günter, Dipl.Ing. , Gahle, Hans-Jörg, Dr. , Wolf, Bernhard, Prof. Dr. , Sieben, Ulrich, Dr. , Freund, Ingo, Dipl.-Ing. , Brischwein, Martin Dr.
IPC分类号： C12M3/00 , C12N15/89
CPC分类号： C12N15/89 , C12M35/02 , C12M35/04 , C12M35/08 , C12N13/00
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur intrazellulären Manipulation einer biologischen Zelle (3), die in einem Nährmedium (2) adhärent an einem Auflagebereich (5) angelagert wird. Innerhalb des Auflagebereichs (5) der Zelle (3) wird mit Abstand von deren Auflagerand eine Öffnung in die Zellmembran der Zelle (3) eingebracht. Dabei dichtet der die Öffnung umgrenzende, an dem Auflagebereich (5) anhaftende Rand der Zellmembran die im Inneren der Zelle (3) befindliche Zellflüssigkeit gegen das Nährmedium (2) ab und isoliert die Zellflüssigkeit gegen das Nährmedium (2). Durch die Öffnung hindurch wird das Innere der Zelle (3) manipuliert. Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.
摘要翻译：本发明涉及一种用于生物传感器（3），在载体上的区域（5）的营养培养基（2）粘附附着的细胞内操作的过程。内的电池的所述支撑区域（5）（3）被放置在距离轴承边缘，在细胞的细胞膜（3）的开口。在这种情况下，密封件包围所述开口，在所述支撑区域的粘合剂（5）细胞的细胞膜的细胞流体内部的边缘（3）位于从营养培养基中（2），和由式（2）的营养培养基中分离的细胞的液体。通过所述开口，所述传感器（3）的内部操作。本发明还涉及一种用于执行该方法。

15. 发明公开

EP0953848A2 Verfahren zum Parametrieren einer integrierten Schaltungsanordnung und integrierte Schaltungsanordnung hierfür 有权
标题翻译：用于设置集成电路的参数的方法和本集成电路装置
公开(公告)号：EP0953848A2
公开(公告)日：1999-11-03
申请号：EP99102191.6
申请日：1999-02-04
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Hummel, Ulrich Helmut, Dipl.-Ing.
IPC分类号： G01R31/30
CPC分类号： H01L22/22
摘要： Die Parametrierung erfolgt durch Anlegen eines digitalen Startkommandosignals mit nachfolgenden Parametrierdaten an der Versorgungsspannungsklemme (12) und/oder Ausgangsklemme (16) der integrierten Schaltungsanordnung, wobei der Parametriervorgang dauerhaft einen an den erwähnten Klemmen (12, 16) anliegenden und über dem normalen Betriebsspannungspegel anstehenden Spannungspegel aufweist. Dieser erhöhte Spannungspegel wird von einer in der integrierten Schaltungsanordnung (10) vorgesehenen Detektoreinrichtung erfaßt. Die nur die Versorgungsspannungsklemme (12), eine Bezugspotentialklemme (14) und eine Ausgangsklemme (16) aufweisende integrierte Schaltungsanordnung verfügt darüber hinaus intern über einen vorzugsweise nichtflüchtigen Speicher (24), in dem die Einstellvorschrift für die Parametrierung abgelegt ist. Diese Einstellvorschrift wird durch die Parametrierdaten ausgelöst.
摘要翻译：配置是通过与参数数据如下到电源电压端子（12）和/或所述集成电路装置的输出端子（16），将数字开始命令信号完成，其中，所述参数永久设置一个所提到的端子（12,16）附接和上述电压电平的正常操作电压电平未决有。该增加的电压电平由在检测装置的集成电路装置（10）所提供的检测。唯一的电源电压端子（12），基准电位端子（14）并且包括集成电路装置的输出端（16）已通过优选的非易失性存储器并且在内部（24），其中所述设置指令被存储为参数。此设置的说明是由参数数据触发。

16. 发明公开

EP0936744A1 Trägererzeugungseinrichtung für einen digitalen Demodulator von MPX-Signalen 失效
标题翻译： Trägererzeugungseinrichtungfüreinen digitalen Demodulator von MPX-Signalen
公开(公告)号：EP0936744A1
公开(公告)日：1999-08-18
申请号：EP98102418.5
申请日：1998-02-12
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Noeske, Carsten, Dipl.-Ing. , Winterer, Martin, Dipl.-Phys.
IPC分类号： H04B1/00 , H04N5/60 , H04H1/00
CPC分类号： H04N5/607 , H03L7/081 , H03L7/0994 , H03L7/10 , H04H40/18 , H04H2201/13
摘要： Trägererzeugungseinrichtung für einen umschaltbaren digitalen Demodulator (D) von digitalen MPX-Signalen (mpx1) mit zugehörigem Pilotsignal (p1), die mit einem beliebigen Takt (t1) verkoppelt sind. Eine Pilotsignal-PLL (10) erzeugt mittels eines ersten Wertezuordners (15) ein erstes Trägersignal (x1.1 bzw. x2.1) und ein zweiter Wertezuordner (20) ein zweites Trägersignal (x1.2). Eine Steuereinrichtung (60) liefert entsprechend dem zu demodulierenden MPX-Signal (mpx1) einen Startwert (i0) und mindestens einen Phasenkorrekturwert (k1, k2). Der Startwert (i0) stellt den Suchbereich der Pilotsignal-PLL (10) für das Pilotsignal (p1) entsprechend dem jeweiligen Standard ein. Die Phasenkorrekturwerte (k1, k2) korrigieren in einer ersten und/oder zweiten Korrektüreinrichtung (16, 23) die systembedingten Phasenabweichungen des ersten und/oder zweiten Trägersignals (x1.1, x1.2; x2.1, x1.2).
摘要翻译：数字MPX信号（mpx1）包含具有耦合时钟信号（t1）的导频信号（p1）。载波信号由导频信号锁相环（10）产生（x1.1，x1.2）。控制电路（60）传送起始值（i0）和相位校正值（k1，k2）。起始信号固定导频信号的搜索范围，并且校正值由一对级使用。

17. 发明授权

EP0564791B1 Potentialfreie Datenschnittstelle 失效
标题翻译：潜在的免费数据接口
公开(公告)号：EP0564791B1
公开(公告)日：1999-04-28
申请号：EP93102445.9
申请日：1993-02-17
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Heberle, Klaus, Dipl.-Ing.
IPC分类号： H04L12/40 , H04L25/00
CPC分类号： H04L25/0266 , H03K19/017545

18. 发明授权

EP0720074B1 Informationssystem zur Produktionskontrolle 失效
标题翻译：生产控制信息系统
公开(公告)号：EP0720074B1
公开(公告)日：1998-08-26
申请号：EP95119197.2
申请日：1995-12-06
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Samaha, Mustafa, Dipl.-Ing.
IPC分类号： G05B19/418
CPC分类号： H01L22/20 , G05B2219/31323 , G05B2219/31365 , G05B2219/32182 , G05B2219/32196 , G05B2219/32207 , G05B2219/33209 , G05B2219/50197 , Y02P90/14 , Y02P90/22 , Y02P90/24

19. 发明公开

EP0848244A2 Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Überprüfen von Positionsdaten j-förmiger elektrischer Kontaktanschlüsse 失效
标题翻译：自动检查位置数据J形的电接触端子的方法和装置
公开(公告)号：EP0848244A2
公开(公告)日：1998-06-17
申请号：EP97120813.7
申请日：1997-11-27
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Seeger, Hartmut , Sommer, Bernd
IPC分类号： G01N21/88
CPC分类号： G01N21/956
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum automatischen Überprüfen von Positionsdaten j-förmiger elektrischer Kontaktanschlüsse 5 an einem in ein Gehäuse 3 eingebrachtes Halbleierbauteil bezüglich einer zu der Unterseite 4 des Gehäuses parallelen Ebene, bei dem die Unterseite 4 des Gehäuses 3 mittels Licht aus einer Beleuchtungseinrichtung 6 unter mindestens einem reproduzierbaren Beleuchtungswinkel beleuchtet wird, das von der Unterseite 4 des Gehäuses 3 und den Kontaktanschlüssen 5 im wesentlichen senkrecht reflektierte Licht von einer Kamera 7 ortsauflösend aufgenommen wird, die Bildsignale der Kamera 7 einer Bildsignalverarbeitungseinrichtung 8 zugeführt werden und wenigstens ein Datensatz mit einem dem Halbleiterbauteil 3 zugeordneten Erkennungszeichen gespeichert wird und aus den Bildsignalen Positionsdaten der Kontaktanschlüsse 5 bestimmt werden und durch einen Vergleich der Positionsdaten mit Referenzdaten eine Abweichung der Positionsdaten von vorgegebenen Sollwerten bestimmt wird.
摘要翻译：该方法涉及半导体元件供给到其中光吸收壳体的底面（3）包围所述组件由在照明装置（6）在可再现的照明角度，爱尤其是垂直的角度照射的测量布置。反射的光基本上垂直从壳体和由相机（5）与位置分辨率获取的触点下方（7）的哪个图像信号被馈送到图像信号处理器（8）。一种数据集存储与部件的标识符。接触位置数据从图像信号导出。位置数据与基准数据相比较来导出从定义要求值的位置数据的偏差。

20. 发明公开

EP0837573A1 Digitale Schaltung zur Erkennung eines modulierten Trägers 失效
标题翻译： Digitale Schaltung zur Erkennung eines moduliertenTrägers
公开(公告)号：EP0837573A1
公开(公告)日：1998-04-22
申请号：EP96116733.5
申请日：1996-10-18
申请人： Micronas Intermetall GmbH
发明人： Winterer, Martin, Dipl.-Phys. , Hilpert, Thomas, Dipl.-Ing. , Müller, Stefan, Dipl.-Ing.
IPC分类号： H04H1/00
CPC分类号： H04B1/1661 , H04H40/18 , H04H2201/13
摘要： Digitale Schaltung zur Erkennung eines Trägers (tr), der mit einem bandbegrenzten Signal (5.4; 5.4 ) moduliert ist,wobei die digitale Schaltung als Teilschaltungen eine Demodulationseinrichtung (5) aufweist, der ein Hochpaß (6) und eine Bewertungsschaltung (7) nachgeshhaltet ist. Der Durchlaßbereich des Hochpasses (6) liegt im wesentlichen oberhalb des bandbegrenzten Signals (5.4), das mittels der Demodulationseinrichtung (5) in eine Basisband- oder eine tiefe Frequenzlage umgesetzt ist. Die Bewertungsschaltung (7) liefert an ihrem Ausgang schließlich das gesuchte Erkennungssignal (7.5).
摘要翻译：数字电路包括与高通滤波器（6）连接的解调器（5）。滤波器（6）的通带位于带宽限制信号的上方。有限信号由解调器转换为基带或低频信号。电路还包括耦合到高通滤波器的输出的评估电路（7）。评估信号输出调制载波（tr）和带宽限制信号（5.4）的识别信号（7.5）。

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