专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

21. 发明公开

CN101304682A 用于提供一个或多个生物结构的多模态显微成像的装置和方法有权
公开(公告)号：CN101304682A
公开(公告)日：2008-11-12
申请号：CN200680040548.2
申请日：2006-09-29
申请人：通用医疗公司
发明人：吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 德维尔·叶林 , 本杰明·J·瓦科奇 , 吴汪烈 , 布雷特·尤金·鲍马
IPC分类号： A61B5/00 , G02B21/00 , G01B9/02 , G01N21/64
CPC分类号： G01N33/4833 , A61B5/0062 , A61B5/0066 , A61B5/0068 , A61B5/0073 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/6852 , G01B9/02 , G01B9/02027 , G01B9/02049 , G01B9/02064 , G01B9/02087 , G01B9/02091 , G01B9/04 , G01N21/25 , G01N21/27 , G01N21/4795 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , G01N23/046 , G01N2021/1765 , G01N2223/419 , G02B21/0028 , G02B23/2423 , G02B23/243 , G02B23/2461 , G02B23/2476
摘要：可以提供根据本发明的示范性实施例的方法和设备。例如，可以基于第一模态提供与从至少一个样本的至少一个区域接收的第一信号相关联的第一数据，并且可以基于不同于所述第一模态的第二模态提供与从所述至少一个样本接收的第二信号相关联的第二数据。可以接收与基准相关联的第三数据。基于所述第一、第二和第三数据可以生成进一步的数据。另外，可以获得与从所述至少一个样本接收的第二信号相关联的第三数据。所述第三数据中的每一个可以基于不同于所述第一模态和所述第二模态的进一步的模态，并且可以基于所述第三数据来进一步确定所述进一步的数据。进一步，所述第一模态可以是谱编码模态，并且所述第二模态可以是非谱编码模态。

22. 发明公开

CN108700400A 用于检测工件表面拓扑结构的测量方法及测量装置有权
公开(公告)号：CN108700400A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201780012408.2
申请日：2017-03-01
申请人：黑鸟机械人系统有限责任公司
发明人：乌尔里克·蒙策尔特 , 迈克尔·登克 , 马丁·蔡特勒
IPC分类号： G01B9/02 , G01B21/04 , G01B11/24
CPC分类号： G01B11/2441 , G01B9/02064 , G01B21/045
摘要：本发明涉及一种借助相干断层扫描仪（28）检测工件（3）的表面拓扑结构（2）的测量方法，其中，借助机械手（4）和/或偏转单元（7、11）沿实际路径（19）引导相干断层扫描仪（28）的参考臂（12）的测量区域（14），所述实际路径由于干涉效应、特别是机械手（4）的循迹误差而至少部分偏离目标路径（18）；以及在实际路径（19）的至少一个测量点（17）处，测量所述测量区域（14）的零点（15）与工件表面（10）之间的实际距离（dm）。本发明提出，为补偿对至少一个测量点（17）的干涉效应，预先设定参考臂（12）的规划路径长度（lp），以及借助该规划路径长度（lp），将测得的实际距离（dm）标准化为标准距离（dn）。此外，本发明还涉及一种用于检测工件（3）的表面拓扑结构（2）的测量装置（1）。

23. 发明授权

CN103688133B 用于低相干干涉测量的扫描设备失效
公开(公告)号：CN103688133B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201280033633.1
申请日：2012-05-18
申请人：梅德路米克斯有限公司
发明人： J·L·鲁比奥·吉弗诺 , E·马加洛·巴尔巴斯
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02019 , G01B9/02028 , G01B9/02064 , G01B9/02082
摘要：给出了一种利用光学相干断层摄影进行样品的横向扫描的系统。低相干干涉测量系统包括第一多路复用单元和第二多路复用单元。第一多路复用单元配置为接收第一辐射束并且包括第一多个光延迟元件，第一多个光延迟元件配置为基于由第一辐射束在第一多个光波导当中穿过的光学路径对第一辐射束引入组延迟。第二多路复用单元配置为接收第二辐射束。第二多路复用单元包括第二多个光调制元件，第二多个光调制元件配置为在第二多个光波导当中区分第二辐射束，以便产生一个或多个输出辐射束。第二多个光波导配置为朝着样品引导一个或多个输出辐射束。

24. 发明授权

CN103961056B 光测量装置有权转让
公开(公告)号：CN103961056B
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201310573943.9
申请日：2013-11-15
申请人：日立乐金光科技株式会社
发明人：大泽贤太郎 , 渡辺康一 , 富田大辅
IPC分类号： A61B3/14
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02063 , G01B9/02064 , G01B2290/35 , G01B2290/45 , G01B2290/65 , G01B2290/70
摘要：提供一种不需要进行反射镜的扫描、且不使用波长扫描型光源和分光器而能够获取测定对象的像的小型且廉价的光测量装置。将从光源(401)出射的激光分支为第1光束和第2光束，将第1光束作为信号光通过透镜(406)向测定对象(409)聚光照射，将第2光束不向测定对象照射而作为参照光在反射镜(411)上反射，将通过测定对象反射或散射的信号光与参照光合波后入射到干涉光学系统(412)，生成相位关系互不相同的三个以上的干涉光并由光检测器(417、422)进行检测，由信号处理部(424)运算检测信号。在测定时至少在光轴方向上扫描透镜(406)的第1光束的聚光位置。

25. 发明授权

CN103961057B 光学断层成像设备及其控制方法有权
公开(公告)号：CN103961057B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201410042757.7
申请日：2014-01-29
申请人：佳能株式会社
发明人：小峰功 , 青木博 , 吉田拓史 , 坂川幸雄 , 井上宏之
IPC分类号： A61B3/14
CPC分类号： A61B3/102 , G01B9/02063 , G01B9/02064 , G01B9/02089 , G01B9/02091
摘要：本发明公开了光学断层成像设备及其控制方法。该光学断层成像设备控制单元，被配置用于在用于缩窄成像范围的指令被发出的情况下控制测量光光路长度改变单元以缩小测量光的光路长度，并且使得与用于扩展成像范围的指令被发出的情况相比测量光的光路长度的改变速度更低。

26. 发明公开

CN102713504A 表面形状测定方法及表面形状测定装置有权
公开(公告)号：CN102713504A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201180006951.4
申请日：2011-12-15
申请人：松下电器产业株式会社
发明人：福井厚司 , 追风宽岁
IPC分类号： G01B9/02 , G01B11/24
CPC分类号： G01B11/2441 , G01B9/02064 , G01B9/0209
摘要：本表面形状测定方法将包含不同的波长的白色光(8A)分割成参照光(8C)和测定光(8B)，使测定光(8B)向被测定面(3)入射，使参照光(8C)向第一衍射光栅(20)入射，将参照光(8C)和由被测定面(3)反射出的测定光(8B)合成，作为干涉光(8D)，来测定被测定面(3)的表面形状，其中该参照光(8C)是从第一衍射光栅(20)通过第一光路向第二衍射光栅(21)入射之后、从第二衍射光栅(21)通过第一光路向第一衍射光栅(20)入射而从第一衍射光栅(20)射出的光。

27. 发明公开

CN101365375A 用于经由谱编码进行光学成像的方法和设备有权
公开(公告)号：CN101365375A
公开(公告)日：2009-02-11
申请号：CN200680040503.5
申请日：2006-09-29
申请人：通用医疗公司
发明人：吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 德维尔·叶林 , 布雷特·尤金·鲍马
IPC分类号： A61B5/00 , A61B1/07 , G01B9/02
CPC分类号： G01N33/4833 , A61B5/0062 , A61B5/0066 , A61B5/0068 , A61B5/0073 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/6852 , G01B9/02 , G01B9/02027 , G01B9/02049 , G01B9/02064 , G01B9/02087 , G01B9/02091 , G01B9/04 , G01N21/25 , G01N21/27 , G01N21/4795 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , G01N23/046 , G01N2021/1765 , G01N2223/419 , G02B21/0028 , G02B23/2423 , G02B23/243 , G02B23/2461 , G02B23/2476
摘要：提供了根据本发明的示范性实施例的方法、设备和装置，用于生成解剖结构的至少一个部分的图像。例如，该部分具有大于大约1mm2的面积，并且该图像具有在大约10μm之下的横向分辨率。例如，光在这样的部分之上进行扫描，以便生成与该部分相关的第一信息，其中所述光可以被提供通过衍射装置以生成谱分散线。提供了根据本发明的进一步的示范性实施例的方法、设备和装置，用于在解剖结构之内定位辐射束或光束，该定位基于通过使用相同或不同射束来扫描该结构的一部分而生成的信号。

28. 发明公开

CN101209199A 光图像计测装置失效
公开(公告)号：CN101209199A
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200710302263.8
申请日：2007-12-24
申请人：株式会社拓普康
发明人：木川勉 , 冈田浩昭 , 林健史 , 田央 , 福间康文
IPC分类号： A61B3/00 , G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02067 , A61B3/102 , G01B9/0203 , G01B9/02044 , G01B9/02064 , G01B9/02089 , G01B9/02091 , G01N21/4795
摘要：一种光图像计测装置，以容易地进行在被测定物体深度方向的计测位置的定位。眼底观察装置(光图像计测装置)(1)将低相干光(L0)分割成朝向眼底(Ef)的信号光(LS)以及朝向参照镜(174)的参照光(LR)，使经由眼底(Ef)的信号光(LS)和经由参照镜(174)的参照光(LR)两者重叠以产生干涉光(LC)，并检测该干涉光(LC)来形成OCT图像。分析部(231)计算出此OCT图像的信号水平，判断此信号水平是否超过临界值。控制部(210)控制参照镜驱动机构(243)，若分析部(231)判断信号水平超过临界值，变更参照镜(174)的位置。另外，控制部(210)变更参照镜(174)的位置，使与眼底(Ef)的预定深度位置相当的部分图像被配置在图框内的特定位置。

29. 发明公开

CN1656353A 干涉测量式测量装置无效
公开(公告)号：CN1656353A
公开(公告)日：2005-08-17
申请号：CN03811950.1
申请日：2003-03-28
申请人：罗伯特-博希股份公司
发明人： D·马沙尔 , M·-H·迪瓦辛 , D·布雷德 , P·德拉巴雷克
IPC分类号： G01B9/00 , G01B11/00
CPC分类号： G01B11/2441 , G01B9/02002 , G01B9/0205 , G01B9/02057 , G01B9/02064 , G01B9/0209 , G01B2290/45
摘要：用于利用一个调制干涉仪(2)获得一个测量物体(8)表面的形状、粗糙度或距离的干涉测量式测量装置，由一个辐射源(1)将短相干的射线输送到所述调制干涉仪，并且该干涉仪具有一个用于将输送的射线分配成一个通过一个第一臂导引的第一分射线(2.1)和一个通过一个第二臂导引的第二分射线(2.1’)的第一射线分配器(2.3)，其中所述一个分射线相对于另一分射线通过一个调制机构(2.2，2.2’)在其光相位或光频率上偏移，并移动一个延迟距离(2.9’)，并且紧接着将所述分射线在调制干涉仪(2)的另一射线分配器(2.10)上与一个同调制干涉仪(2)在空间上分开的且与该干涉仪通过一个光导纤维系统(6)已耦联或可耦联的测量探头(3)联合，在该探头中所述联合的分射线在一个公共臂中在一个部分透射的部位(3.3)中分成一个测量射线和一个基准射线，并在其中使在表面上反射的测量射线(r1(t))和在一个基准面上反射的基准射线(r2(t))重叠，并且通过一个接收机构(4)和一个分析单元(5)将传导到它们的射线变换成电信号，并以一个相位差为基础分析所述信号。一种用于即使在狭窄的空心空间中也能够可靠测量的有利结构的特征在于，所述部分透射的部位(3.3)通过一个探头纤维(3.1)的一个相对于光学探头轴线(3.5)以一个出射角(α)倾斜的出射面(3.31)和一个衔接在物体端的纤维段(3.2)的一个同样相对于光学探头轴线(3.5)以一个入射角(β)倾斜的入射面(3.32)而构成，其中在出射面(3.31)与入射面(3.32)之间构成一个楔形缝隙。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式