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    • 2. 发明专利
    • Umgruppieren und Überspringen von Zyklen in einem nichtflüchtigen Speicher
    • DE112014004781T5
    • 2016-06-23
    • DE112014004781
    • 2014-10-16
    • SANDISK 3D LLC
    • BALAKRISHNAN GONIPATH
    • G11C7/10G11C13/00
    • Ein nichtflüchtiger Speicher verwendet mehrere Programmierzyklen zum Schreiben von Dateneinheiten wie beispielsweise eine logische Seite von Daten in ein nichtflüchtiges Speicher-Array. Die Anwenderdaten werden vor dem Schreiben ausgewertet, um zu bestimmen, ob ein Programmieren für Buchtadressen übersprungen werden kann. Ob das Programmieren für einen anfänglichen Satz von Buchtgruppen übersprungen werden kann, wird bestimmt. Wenn eine Buchtgruppe nicht übersprungen werden kann, bestimmt das System, ob die Buchtgruppe einzelne Buchten umfasst, die übersprungen werden können. Buchten werden in neue Buchtgruppen umgruppiert, um die Anzahl von BAD-Zyklen während des Programmierens zu reduzieren. Unabhängige Spaltenadressierung für mehrere Buchten innerhalb einer Buchtgruppe ist vorgesehen. Während eines Spaltenadresszyklus wird eine separate Spaltenadresse für die Buchten bereitgestellt, um verschiedene Spalten innerhalb jeder Bucht zum Programmieren auszuwählen. Durch gleichzeitiges Programmieren mehrerer Spaltenadressen während eines einzigen Spaltenadresszyklus kann das System das Programmieren für einige Spaltenadresszyklen überspringen.
    • 4. 发明专利
    • AT493762T
    • 2011-01-15
    • AT06774623
    • 2006-07-11
    • SANDISK 3D LLC
    • SCHEUERLEIN ROY
    • H01L27/24
    • A rewriteable nonvolatile memory includes a thin film transistor and a switchable resistor memory element in series. The switchable resistor element decreases resistance when subjected to a set voltage magnitude applied in a first direction, and increases resistance when subjected to a reset voltage magnitude applied in a second direction opposite the first. The memory cell is formed in an array, such as a monolithic three dimensional memory array in which multiple memory levels are formed above a single substrate. The thin film transistor and a switchable resistor memory element are electrically disposed between a data line and a reference line which are parallel. A select line extending perpendicular to the data line and the reference line controls the transistor.